PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 13

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Folie skrobiowe napełniane wollastonitem i modyfikowane gumą arabską. Cz. 1, Właściwości mechaniczne i strukturalne
Kwaśniewska A., Muszyński S., Tatarczak J., Gładyszewski G., Gładyszewska B.
Przemysł Chemiczny
|
2016
|
T. 95, nr 11
2239--2241
PL
Przeprowadzono badania wpływu dodatku gumy arabskiej na właściwości mechaniczne folii polimerowych skrobia/wollastonit wytwarzanych metodą castingową. Wartości parametrów strukturalnych i materiałowych wyznaczono podczas testu quazi-statyczengo jednoosiowego rozciągania. Dodatek gumy arabskiej spowodował obniżenie wartości modułu sprężystości wzdłużnej Younga oraz wzrost energii sprężystej, pracy do zerwania oraz odkształcenia sprężystego i granicznego.
EN
Biodegradable starch was filled with wollastonite, modified by addn. of Arabic gum (8–16% by mass) and used for prodn. of films by soln. casting. The films were studied for structural and mech. properties. The addn. of arabic gum resulted in an increase in deformation limits and decrease in Young modulus.
2
Content available remote Wpływ poli(alkoholu winylowego) i keratyny na wybrane właściwości mechaniczne folii biodegradowalnej termoplastycznej skrobi
Chocyk D., Gładyszewski G., Gładyszewska B., Ciupak A., Mościcki L., Rejak A.
Przemysł Chemiczny
|
2014
|
T. 93, nr 3
360-363
PL
Przeprowadzono badania wpływu ilości dodatku poli(alkoholu winylowego) (PVAL) i keratyny na moduł Younga E, maksymalne naprężenie σMAKS i maksymalne wydłużenie εMAKS folii z termoplastycznej skrobi TPS (thermoplastic starch), wytworzonych ze skrobi ziemniaczanej i glicerolu metodą wytłaczania. Wartości parametrów mechanicznych wyznaczono z krzywych naprężenie-odkształcenie otrzymanych w wyniku testów naprężeniowych przy jednoosiowym rozciąganiu. Zmiany strukturalne obserwowano za pomocą dyfrakcji rentgenowskiej. Stwierdzono, że wartości modułu Younga oraz maksymalne naprężenie foli jest powiązane ze stopniem krystalizacji typu Vh folii TPS. Nie zaobserwowano związku pomiędzy stopniem krystalizacji a maksymalnym wydłużeniem. Zmiany prędkości obrotowej ślimaka ekstrudera, w którym folie były wytwarzane wpływają na właściwości mechaniczne poprzez zmiany stopnia krystalizacji, jak również poprzez zmiany właściwości fazy amorficznej.
EN
Thermoplastic starch was plasticized by addn. of glycerol (20% by mass), modified by addn. of poly(vinyl alc.) or keratin (0.5–2.0% by mass), formed as film by extrusion (screw rotation speed 50-80 rpm) and studied for Young modulus, max. stress, max. elongation and degree of crystallinity. The max. stress and Young modulus increased with increasing degree of crystallinity.
3
Content available remote Stress modification in gold metal thin films during thermal annealing
Prószyński A., Chocyk D., Gładyszewski G.
Optica Applicata
|
2009
|
Vol. 39, nr 4
705-710
EN
Stress evolution during deposition of 50 nm Au thin films by thermal evaporation in a UHV system and then stress modification during thermal vacuum annealing have been performed. For stress measurement a substrate curvature approach has been applied. The changes in stress versus temperature linked to a modification of microstructure has been interpreted. To obtain any information about structural changes in the film X-ray diffraction measurements has been performed. We can conclude from the measurements that during the first cycle some irreversible structural modifications occur in a metal film.
4
Content available remote Post-deposition stress evolution in Cu and Ag thin films
Chocyk D., Prószyński A., Gładyszewski G., Pieńkos T., Gładyszewski L.
Optica Applicata
|
2005
|
Vol. 35, nr 3
419-424
EN
Evolution of stresses in thin Cu and Ag films after deposition by thermal evaporation in UHV system is studied. Thin films were deposited on 100 um thick Si substrate at room temperature. Deposition rates for the Cu and Ag films were 0.5 A/s and 0.9 A/s, respectively. The total thickness ranged from 7.7 up to 109 nm. The average stress in the films was determined by measuring the radius of samples curvature. The behavior of stress evolution curves is explained by two mechanisms of stress generation: filling grain boundaries and islands coalescence.
5
Content available remote Measurement of stress as a function of temperature in Ag and Cu thin films
Prószyński A., Chocyk D., Gładyszewski G., Pieńkos T., Gładyszewski L.
Optica Applicata
|
2005
|
Vol. 35, nr 3
517-522
EN
Stress measurements of 23 nm copper films and 93 nm silver films on Si (100) have been performed during thermal cycling between RT and 450°C. The changes in stress versus temperature are interpreted. The effects of treatment on microstructure and composition are studied by X-ray diffraction.
6
Content available remote Determination of surface waviness using radius of curvature measurement with laser scanning technique
Pieńkos T., Gładyszewski L., Prószyński A., Chocyk D., Gładyszewski G.
Optica Applicata
|
2005
|
Vol. 35, nr 3
503-507
EN
A method for obtaining the shape of a surface investigated with a laser scanning curvature measurement is presented. Additional simple analysis of raw experimental data allows one to determine waviness of the sample. The accuracy of the method and comparison of the results obtained with the method and commercial profilometer are also described.
7
Content available remote Measurements of stress during ion irradiation
Pieńkos T., Gładyszewski L., Chocyk D., Prószyński A., Gładyszewski G., Martin F., Jaouen Ch.
Optica Applicata
|
2002
|
Vol. 32, nr 3
421-424
EN
The exemplary results obtained with a simple optical set-up for the measurement of curvature radius during ion implantation are presented. The Kr ion irradiation was performed for silicon substrate without a film. After the irradiation the implanted region of silicon was under compressive stress. Maximum of the stress was evidenced for a dose of 1×1014 ions/cm2. The optical set-up is very flexible and may cooperate with various apparatus
8
Content available remote Determination of stress in Au/Ni multilayers by symmetric and asymmetric X-ray diffraction
Chocyk D., Prószyński A., Gładyszewski G., Labat S., Gergaud P., Thomas O.
Optica Applicata
|
2002
|
Vol. 32, nr 3
333-337
EN
A stress analysis was done for Au/Ni multilayers prepared by molecular beam epitaxy and by thermal evaporation. The lattice parameters in the growth and in-plane directions of multilayer constituents were directly determined by the analysis of the symmetric and asymmetric X-ray diffraction (XRD) profiles. The q–2q XRD profiles were interpreted using the 1D model of non-ideal superlattice structure, whereas the asymmetric XRD profiles using the 3D model. Both models were based on the Monte Carlo simulation and on the kinematical theory of scattering. It was shown that considerable stress was encountered in multilayers with in-plane structural cohere.
9
Wpływ struktury na wysokokątowe widma niezwierciedlanego rozpraszania promieniowania rentgenowskiego w układach wielowarstwowych
Chocyk D., Gładyszewski G.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2001
|
Vol. 42, nr 8-9
38-40
EN
The paper presents the results of the research of the influence of structural parameters of multilayers on the large-angle nonspecular x-ray scattering (NXRS) profiles. The theoretical research were done using the three-dimensional model of imperfect multilayers structure, which take into consideration a superstructure of a multilayers, grain structure and a crystal structure of sublayers. For superlattice Au(001)/Ni(001) studied in this paper, we considered the influence on the large-angle NXRS profiles the following parameters: size of period, fluctuations of the sublayer thickness, the root-mean-square of roughness and vertical mosaicity of grain. We conclude that the large-angle NXRS profiles are strongly dependent on structural parameter considered in this work.
10
Structure and oscillatory coupling in NiFe/Ag multilayers
Stobiecki T., Gładyszewski G., Chocyk D., Czapkiewicz M., Wrona J., Żardecki D.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2000
|
Vol. 41, nr 11
47-48
EN
Multilayers composed of 40 x [Ni83Fe17/Ag] with constant thickness of Py (20 Å) and variable Ag thickness (7 Å <= tAg <= 25 Å) were deposited by RF sputtering onto the glass substrate. Best artificial superlattice properties: the smallest deviations from bulk interplanar distances of Ag and Py and smallest interfacial roughness were obtained for tAg > 19 Å. The oscillation period of A-F coupling against Ag spacer is 12 Å.
PL
Supersieci złożone z ferromagnetycznych warstw permaloju (Ni83Fe17) sa bardzo interesującymi układami dla zastosowań z powodu ich bardzo małych pól przełączających (<1 Oe). Tego typu układy wielowarstwowe sa jako elementy magnetorezystancyjne w głowicach komputerowych o wysokiej gęstości upakkowania informacji. Ponieważ wymienne oddziaływania magnetyczne mają zasięg od kilku do kilkunastu stałych sieciowych, jaość wytworzonej supersieci ma istotny wpływ na parametry magnetyczne i magnetorezystancyjne układu wielowastwowego. Badano układy wielowarstwowe (szkło - 40x[Ni83Fe17/Ag]) otrzymane metodą zmienno-prądowego (RF) rozpylenia jonowego, gdzie permaloj miał stałą grubość (20 Å), a srebro zmienną (7 Å <= tAg <=25 Å). Za pomocą dyfraktometru X'Pert firmy Philips otrzymano widma typu [theta]-2[theta] z których, posługując sie programem SlerfWin, wyznaczono parametry supersieci. Najlepsze własnośi supersieci, tzn. najniejsze odchylenie odległości płaszczyzn sieciowych od wartości odpowiadajacych materiałom litym (Ag i NiFe) i najmniejsze nierówności międzypowierzchni otrzymano dla układów wielowarstwowych o grubościach przekładki srebra tAg > 19 Å. Okres oscylacji wymiennego sprzężenia antyferromagnetycznego (A-F) wynosi 12 Å a stała wymiany sprzężenia antyferromagnetycznego JAF = - 2.4 x 10-8 J/m2 i jest o trzy rzędy wielkości mniejsza niz w układach wielowarstwowych NiFe/Cu.
11
Nonspecular X-ray diffraction from multilayered systems: an influence of the in-plane coherence of sublayers
Chocyk D., Gładyszewski G., Labat S., Gergaud P., Thomas O.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2000
|
Vol. 41, nr 11
40-41
EN
The experimental large-angle nonspecular x-ray diffraction (NXRD) profiles measured for multilayered systems are strongly dependent on structure perfection. We used the Monte Carlo simulation for calculating the NXRD profiles and to study the influence of a variety of structural parameters on diffraction profiles for Au(111)/Ni(111) and Au(001/Ni(001) multilayers. We show that differences in profiles can be attributed to a different degree of loss of the in-plane coherence between neighboring sublayers.
PL
Widma eksperymentalne wysokokątowego rozpraszania promieniowania rentgenowskiego w układach wielowarstwowych bardzo silnie zależą od jakości badanych struktur. Mogą się znacznie różnić nawet dla supersieci składających się z tych samych materiałów. Jedną z najbardziej znaczących różnic jest to, że widma zmierzone w pewnych przypadkach składają się z układu wielu wierzchołków satelitarnych, natomiast w innych zawierają tylko jeden wierzchołek. Podjęcie próby ustalenia przyczyny powstawania tej różnicy było celem niniejszej pracy. W pracy zastosowano trójwymiarowy model, oparty na symulacji Monte Carlo i kinematycznej teorii rozpraszania, pozwalający na obliczanie widm niezwierciadlanego rozpraszania promieniowania rentgenowskiego w obszarze wysokich kątów. Przy jego pomocy badano wpływ różnych parametrów strukturalnych na widma dyfrakcyjne supersieci złoto/nikiel. Zastosowanie różnych podłoży pozwoliło na uzyskanie warstw: Au(111 )/Ni(111) oraz Au(001)/Ni(001). W wyniku przeprowadzonych badań stwierdziliśmy, że wspomniana różnica w mierzonych widmach spowodowana jest różnym stopniem utraty koherencji pomiędzy sąsiednimi warstwami w płaszczyźnie próbki. Ustalenie przyczyny tej różnicy pozwoliło w dalszych symulacjach na jakościowe odtworzenie widm eksperymentalnych wspomnianych wyżej układów.
12
Strain in multilayered systems and its influence on asymmetric X-ray diffraction profiles
Chocyk D., Gładyszewski G., Pienkos T., Gładyszewski L.
Electron Technology
|
2000
|
Vol. 33, No. 3
329-333
EN
The paper presents the results of the validity test of the sin²Ψ method applied for determining strains in a case of multilayer systems. The calculations were performed using three-dimensional model based on a Monte Carlo simulation and the kinematical theory of scattering. Our calculations show that the analysis of strains in multilayers performed using the sin²Ψ method may give misleading results and therefore should be accompanied by other methods.
13
Nonspecular X-ray scattering from multilayers: Monte Carlo simulations
Chocyk D., Gładyszewski G.
Electron Technology
|
1998
|
Vol. 31, No. 3/4
393-398
EN
The paper presents theoretical calculations of large-angle nonspecular X-ray scatterinfg profiles for Ag(001)<100>//Fe(001)<100> superlattice. The calculations, based on a Monte Carlo simulation and kinematrical theory of scattering were performed taking into account the following imperfections of a sample: fluctuations of the interface layer thickness, interface roughness with preserved coherence of sublayers, and vertical grain mosaicity.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.