PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 7

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  zdolność pomiarowa
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Zdolność pomiarowa przyrządu
Fotowicz P.
Pomiary Automatyka Robotyka
|
2013
|
R. 17, nr 2
540-541
PL
Zdolność pomiarowa jest wskaźnikiem umożliwiającym ocenę jakości metrologicznej przyrządu. Miarą zdolności pomiarowej przyrządu jest niepewność rozszerzona obliczana po wykonaniu pomiaru na wzorcu pomiarowym. W budżecie niepewności uwzględnia się obok składowej przypadkowej również składową systematyczną w postaci odchylenia pomiarowego. Skumulowaną niepewność odnosi się do wartości granicznej, którą może być największy błąd dopuszczalny.
EN
Capability of measurement instrument is an indicator enabling evaluation of metrological quality of instrument. The measure of the capability is an expanded uncertainty calculating after measurement on the standard. The uncertainty budget consists both random and systematical eaects as a bias. The aggregated uncertainty is related to limited value. This limited value may be a maximum permissible error.
2
Content available Randomizacja odchylenia pomiarowego przy ocenie zdolności pomiarowej przyrządu
Fotowicz P.
Pomiary Automatyka Robotyka
|
2013
|
R. 17, nr 7-8
96--99
PL
Randomizację odchylenia pomiarowego wykorzystuje się przy ocenie zdolności pomiarowej przyrządu. Odchylenie pomiarowe to estymata błędu systematycznego wyznaczana jako różnica pomiędzy wskazaniem przyrządu pomiarowego a wartością wzorcową. Randomizacja polega na przyjęciu odpowiedniego rozkładu prawdopodobieństwa dla tego odchylenia. Miarą zdolności pomiarowej przyrządu jest niepewność rozszerzona obliczana po wykonaniu pomiaru na wzorcu pomiarowym. Niepewność tę odnosi się do wartości granicznej, którą może być największy błąd dopuszczalny. Zdolność pomiarowa jest wskaźnikiem umożliwiającym ocenę jakości metrologicznej przyrządu.
EN
Randomizing of a bias is used in evaluation of measurement instrument capability. Bias is an estimate of systematic error treated as difference between an indication of measuring instrument and a value of standard. Randomization relies on the assumption of suitable probability distribution for the bias. The measure of the capability is an expanded uncertainty calculating after measurement on the standard. The expanded uncertainty is related to limited value. This limited value may be a maximum permissible error.
3
Content available Rola niepewności przy ocenie zdolności pomiarowej przyrządu
Fotowicz P.
Metrologia i Probiernictwo : biuletyn Głównego Urzędu Miar
|
2013
|
nr 1
16--18
PL
Z artykułu dowiesz się, jakie składowe należy brać pod uwagę przy ocenie zdolności pomiarowej przyrządu oraz o tym, aby nie mylić zdolności pomiarowej przyrządu z CMC.
4
Zmiana terminologii z BMC na CMC
Malesa R.
LAB Laboratoria, Aparatura, Badania
|
2010
|
R. 15, nr 3
23-25
PL
Do niedawna akredytowane laboratoria wzorcujące stosowały termin "najlepsza możliwość pomiarowa" - BMC (Best Measurement Capability), natomiast krajowe instytucje metrologiczne (National Measurement Instituts - NMI) używały terminu "zdolność pomiarowa" - CMC (Calibration and Measurement Capability). W obu przypadkach terminy powinny być rozumiane w ten sam sposób i oznaczać to samo.
5
Content available remote Określanie zdolności pomiarowej urządzeń na przykładzie pręta wektorowego
Wypysiński R.
Pomiary Automatyka Robotyka
|
2009
|
R. 13, nr 2
750-755
PL
W Instytucie Technik Wytwarzania Politechniki Warszawskiej opracowano nową metodę i urządzenie do sprawdzania dokładności maszyn sterowanych numerycznie (NC - Numerical Control). W celu podjęcia decyzji o zdolności całego systemu pomiarowego przeprowadzono szereg testów. Skorzystano przy tym z gotowych procedur pomiarowych oraz zaproponowano nowe sposoby testowania przyrządów pomiarowych.
EN
New method and device for accuracy testing of numerical control machines (NC) was developed in Institute of Manufacturing Technology at Warsaw University of Technology. There were many tests realized for taking a decision about whole system's ability. New methods of measurement devices testing and already worked out methods were used.
6
Statystyka w laboratorium badawczo-pomiarowym. Cz. 2
Tabisz R.
LAB Laboratoria, Aparatura, Badania
|
2000
|
R. 5, nr 3
30-33
PL
W pierwszej części [1] przedstawiono przykład systemu monitorowania zmienności dwóch czynników: temperatury i wilgotności, które mogą mieć wpływ na prawdziwość uzyskiwanych wyników badań i kalibracji. W przykładzie tym wykorzystana była prosta procedura statystyczna, dostępna w pakiecie STATISTICA PL, która pozwoliła na przejrzystą graficzną prezentację zmian temperatury i wilgotności zaobserwowanych w laboratorium LABBiKAL w okresie kilku miesięcy. W niniejszej części przedstawione są inne procedury statystyczne dostępne w tym samym pakiecie, które można wykorzystać do oceny dokładności przyrządu pomiarowego oraz do monitorowania zmian zdolności pomiarowej laboratorium.
7
Statystyka w laboratorium badawczo-pomiarowym
Tabisz R.
LAB Laboratoria, Aparatura, Badania
|
2000
|
R. 5, nr 2
48-50
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.