Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Szukaj
Przeglądaj
Pomoc
O nas

Ograniczanie wyników

1 Electron Technology

1 2000

1 Chocyk D.
1 Gładyszewski G.
1 Gładyszewski L.
1 Pienkos T.

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Strain in multilayered systems and its influence on asymmetric X-ray diffraction profiles

100%

Chocyk D. , Gładyszewski G. , Pienkos T. , Gładyszewski L.

2000

tom Vol. 33, No. 3

329-333

The paper presents the results of the validity test of the sin²Ψ method applied for determining strains in a case of multilayer systems. The calculations were performed using three-dimensional model based on a Monte Carlo simulation and the kinematical theory of scattering. Our calculations show that the analysis of strains in multilayers performed using the sin²Ψ method may give misleading results and therefore should be accompanied by other methods.