Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Ograniczanie wyników
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
|
|
tom Vol. 32, No. 3
282-287
EN
A method is presented for creating Decision Diagrams (DD) from multi-process VHDL descriptions for test generation purposes. Each process in the VHDL description will be represented either by one or several DDs. To increase the efficiency of test generation. a method is given for compressing the model and collapsing faults by superposition of DDs. The method supports well functional test generation as well as hierarchial test synthesis if the low level implementation details can be provided. Experimental results are included to show the efficiency of using DDs in test generation.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.