Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
The Ga1-xInxAsySb1-y layers were grown on GaSb substrates by the liquid phase epitaxy (LPE) technique. The materials were characterized by means of optical microscopy, X--ray high resolution diffractometry, electroprobe microanalysis (EPXMA) and numerical analysis of measured C-V characteristic of Schottky barrier junction Hg--GaInAsSb. The different compositions of Ga1-xInxAsySb1-y compounds lattice matched to GaSb substrates with x value changing from 0.021 to 0.23, were established. Applying of sulfidation technique to the substrate's surface before growth, improved layer's quality n-type layers, with carrier concentration below 3⋅10⁻¹⁵ cm⁻³ have been grown.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.