W pracy przeprowadzono analizę teorii podstawowych zjawisk fizycznych występujących na powierzchni metali i półprzewodników. Przedyskutowano powstawanie na powierzchni: potencjału elektrycznego, bariery potencjału, kontaktowej różnicy potencjałów (napięcia kontaktowego) i innych parametrów powierzchni. Omówiono spektroskopię fotonapięcia powierzchniowego i jego inwersję. Podano przykładowe wartości różnicy potencjałów kontaktowych na granicy zetknięcia się metali lub między kolektorem a emiterem w próżniowym kondensatorze kulistym służącym do badania fotoemisji elektronów.
EN
In this paper we analyse the theory of basic physical phenomena on the surface of metals and semiconductors. We discuss a phenomenon of: electrical potential, potential barrier, contact potential difference, and other surface parameters arising on the surface. The spectroscopy of surface voltage and its inversion are described. We present the examples of values of the contact potential difference for metals or between collector and emitter in vacuous spherical capacitor for investigation of electron photoemission.
Przedstawiono metody pomiarowe parametrów powierzchniowych. Określono kontaktową różnicę potencjałów i pracę wyjścia. Określono zależności między tymi wielkościami. Omówiono metody pomiaru bezwzględnej wartości pracy wyjścia i sposoby jego przeprowadzenia. Podano i omówiono metody pomiaru względnej wartości pracy wyjścia. Pracę zakończono przykładami pomiarów i obliczeń omawianych (dyskutowanych) wielkości fizycznych powierzchni.
EN
In this paper we present the measurement methods of the surface parameters. We define contact potential difference, work function, and relationship between them. The measurement methods of the absolute value of work function are presented. We also describe the measurement methods of the relative value of work function. The paper contains numerical examples of the measurements of the physical concepts presented in this paper.