PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Application of flowable oxides in photonics
Lis S., Dylewicz R., Myśliwiec J., Miniewicz A.
Materials Science Poland
|
2008
|
Vol. 26, No. 1
189--194
EN
Polymer hydrogen silsesquioxane (HSQ) solution in methyl isobutyl ketone (MIBK) commercially known as FOx (flowable oxide) is an alternative material to silicon dioxide obtained by chemical deposition. Standard process to obtain amorphous SiO2 film from polymer HSQ includes: deposition by spin coating, removal of solvent by softbake on hotplate and oxidation of materials by heating in an oven or oxygen plasma treatment. Having parameters similar to those of SiO2, polymer HSQ after softbake is sensitive to an electron beam and also to wavelengths below ? = 157 nm. Due to those factors, it can be used as a high resolution (20 nm details) negative mask in next generation lithography and in e-beam lithography. Removal of FOx after hardbake is possible only with dry etching or in HF solution. The paper reports on possibilities of application of HSQ polymer for integrated optoelectronics. Technology of obtaining an SiO2 layer from HSQ polymer is described. Measurements of thickness, refractive index and transmittance from 200 nm to 800 nm are reported for the fabricated layers.
2
Zagadnienia związane z zastosowaniem reflektometrów w pomiarach współczesnych sieci światłowodowych
Dylewicz R., Stopa J., Patela S.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2003
|
Vol. 44, nr 5-6
12-16
PL
W pracy omówiono problemy występujące przy zastosowaniu reflektometrów podczas pomiaru telekomunikacyjnych łączy światłowodowych, jak i podczas pomiaru różnych topologii sieci komputerowych. W pierwszej części artykułu zaprezentowano teoretyczne podstawy zagadnienia dokładności pomiarów reflektometrycznych oraz wyniki dokonanych badań. Szczególną uwagę zwrócono tu na określenie stratności złącza FC/PC, stratności spawu dokonanego pomiędzy niedopasowanymi światłowodami oraz tłumienności jednostkowej wybranego odcinka światłowodu w funkcji parametrów użytkowych przyrządu. W drugiej części artykułu analizie poddana została jakość pomiarów reflektometrycznych dwóch typów fizycznych topologii sieci: topologii magistrali i topologii pierścieniowej. Określono również przydatność reflektometru do tego typu pomiarów.
EN
In this article, problems which appear during OTDR measurements of optical-fiber telecommunication traces and different network topologies, were discussed. In first part theoretical basis of OTDR measurement aceuracy were presented and also some experimental results were showed. Special attention was paid to dependence of FC/PC connector loss, splice loss where splice is madę between mismatched fibers and fiber attenuaton in a function of OTDR parameters. In second part we investigated quality of OTDR different network topologies measurements. A usefulness of OTDRs for such measurements was defined.
3
Content available remote System sterowania i nadzoru oświetlenia ulicznego CPA 2000
Kobylak M., Dylewicz R.
Materiały Budowlane
|
1998
|
nr 12
30-31
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.