PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 11

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Wide-band optical fibre system for investigation of MEMS and NEMS deflection
Orłowska K., Świątkowski M., Kunicki P., Słupski P., Sankowska A., Gotszalk T.
Metrology and Measurement Systems
|
2014
|
Vol. 21, nr 3
381--388
EN
In this work the construction of experimental setup for MEMS/NEMS deflection measurements is presented. The system is based on intensity fibre optic detector for linear displacement sensing. Furthermore the electronic devices: current source for driving the light source and photodetector with wide-band preamplifier are presented.
2
Trawienie włókien światłowodowych w celu odsłonięcia rdzenia do zastosowania w bioczujnikach z wykorzystaniem modów galerii szeptów
Gotszalk T., Sankowska A., Pałetko P., Morawiec M., Kowalska Z., Orłowska K.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2014
|
Vol. 55, nr 6
15-19
PL
W pracy przedstawiono powtarzalną, efektywną metodę przygotowania włókien z odsłoniętym rdzeniem z zastosowaniem chemicznego, mokrego trawienia w kwasie fluorowodorowym dla wysokorozdzielczych bioczujników optoelektronicznych. Pokazano proces przygotowania światłowodu, przedstawiono zaprojektowaną i wykonaną w tym celu celkę ze zintegrowaną mikroławą do ułożenia trawionego falowodu (V-rowki). Opisano konstrukcję stanowiska z układem kontroli przebiegu procesu przez pomiar mocy optycznej transmitowanej przez trawione włókno.
EN
In this paper repeatable and effective process of exposed-core optical fibers manufacturing using chemical wet etching in hydrofluoric acid was presented. The way of waveguides preparation was shown. For fiber positioning the silicon optical microbench with positioning V-shaped rows was designed and fabricated. The paper includes the description of the set-up consisting the process control system based on etched-fiber optical power measurement.
3
Wybrane zagadnienia metrologii mikro- i nanostruktur
Gotszalk T., Jóźwiak G., Kowalski Z., Nitsch K., Piasecki T., Radojewski J., Sankowska A., Serafińczuk J., Szecówka P.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2012
|
Vol. 53, nr 2
40-47
PL
W artykule przedstawione zostały metody i techniki badań materiałów stosowanych we współczesnej mikro- i nanoelektronice oraz konstruowanych obecnie przyrządów i podzespołów. Metody bazujące na spektroskopii impedancyjnej, skaningowej mikroskopii elektronowej, mikroskopii bliskich oddziaływań, technikach jonowych, dyfraktometru rentgenowskiej, optoelektronice i technice światłowodowej, przetwarzaniu sygnałów i cyfrowych układach sterujących są rozwijane w Zakładzie Metrologii Mikro- i Nanostruktur od 2006. Dzięki integracji wspomnianych technik i ich odmian, dodatkowo z wykorzystaniem układów mikroelektromechanicznych, możliwe jest rozwiązanie wielu problemów, stojących przed współczesną metrologią mikro- i nanostruktur.
EN
In this paper, new methods of investigation of novel materials used and new tools and systems constructed in the course of the development of micro- and nanotechnology. Methods based on impedance spectroscopy, scanning electron microscopy, scanning probe microscopy, ion techniques, X-ray diffraction, optoelectronics and fiber techniques, signal processing and digital control devices have been developed in the Division of Metrology of Micro- and Nanostructures since 2006. By combining above-mentioned methods and their variations and including usage of microelectromechanical systems it is possible to solve various problems of modern metrology of micro- and nanostructures.
4
Content available remote Section of gradient index multimode fiber as an elementary fiber grin lens
Sankowska A., Skornowicz J.
Optica Applicata
|
2011
|
Vol. 41, nr 2
367--373
EN
In the work presented below it has been demonstrated that the section of the multimode fiber with gradient refractive index distribution in the core spliced to a singlemode fiber modifies the path of rays in a manner analogous to the GRIN type lens. Using a small section of graded-index optical fiber as a lens provides several advantages, including: small size, well matched fiber-lens diameter, stable fiber-lens interface, and a comparatively low cost of fabrication of an elementary fiber lens. The aim of the present paper is to discuss the technological process that enables fabrication of elementary fiber lenses with different lengths, and the measurement system for analysis of optical power density distribution in the light beam modified by an elementary fiber lens.
5
Światłowodowy czujnik przemieszczeń kątowych do rękawicy sensorycznej
Sankowska A., Krysztoforski K., Halusiak Ł., Jopek W.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2008
|
Vol. 49, nr 6
59-62
PL
W pracy przedstawiono światłowodowy czujnik przemieszczeń kątowych m.in. przeznaczony do zastosowań w rękawicy sensorycznej sterującej pracą protezy ludzkiej ręki. Głowice pomiarowe czujnika wykonano z wielomodowego światłowodu polimerowego. W celu zwiększenia czułości pomiarowej głowicy światłowodowej wykonano nacięcia na zewnętrznej powierzchni światłowodu w kierunku prostopadłym do jego osi i zbadano ich wpływ na zmiany mocy optycznej w układzie pomiarowym.
EN
An angular displacement fiber sensor used in remote control of work of artificial hand is proposed and demonstrated. Measurement sensor head was made from multimode polymer optical fiber. With the aim to increase sensitivity of angular displacement sensor grooves were cut on the fiber surface and influence of physical perturbation of fiber on amplitude of transmitted light was investigated.
6
Content available remote Najlepsze praktyki w zakresie organizacji działalności innowacyjnej w przedsiębiorstwie
Żuber R., Sankowska A., Gasik M.
Zarządzanie Przedsiębiorstwem
|
2006
|
Vol. 9, nr 1
64-72
EN
The main topic of the research is organisation of the innovation activity in enterprises. The area of examination was restricted to Polish enterprises that are recognized as leaders of innovation in our country. The article presents the curreent state of the techniques for managing innovation. Fast changing market demands from enterprises the continuous process of creating innovation. Customers, high competition and so on request these innovations. In the same time, very low percentage is aware of innovation management techniques. The aim of the article is to show the implementation, usefulness and influence on the enterprise of these techniques. Moreover, there was put the stress on importance of the cooperation and Internet usage in this context.
7
Zastosowanie interferomerii światłowodowej w ocenie właściwości metrologicznych czujników bliskiego pola mikroskopu sił atomowych
Mulak P., Gotszalk T., Kolanek K., Woszczyna M., Masalska A., Zawierucha P., Wielgoszewski G., Zielony M., Sankowska A., Szeloch R., Janus P., Grabiec P.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2006
|
Vol. 47, nr 5
57-59
PL
Podstawowym problemem metrologicznym mikroskopii sił atomowych jest pomiar oddziaływań dynamicznych występujących między mikroostrzem a powierzchnią. W praktyce laboratoryjnej stosowane są zwykle układy natężeniowych detektorów laserowych, które umożliwiają jedynie detekcję (rozumianą w sensie jakościowej oceny ugięcia dźwigni). W laboratorium mikroskopii bliskich oddziaływań, nanostruktur i nanomiernictwa Wydziału Elektroniki Mikrosystemów i Fotoniki opracowaliśmy światłowodowy interferometr pracujący w konfiguracji Fabry-Perota, za pomocą którego jesteśmy w stanie przeprowadzić pomiary właściwości metrologicznych układów piezoelektrycznych stosowanych w mikroskopii bliskich oddziaływań oraz dokonać skalowania czujników bliskiego pola ze zintegrowanymi detektorami wychylenia końcówki. Przedmiotem naszych prac była analiza właściwości piezoelektrycznych rezonatorów kwarcowych i elektrostatycznych aktuatorów wychylenia. Prezentowane przez nas metody i techniki pomiarowe pozwalają na pomiar ugięcia (wychylenia) dźwigni kamertonu piezoelektrycznego z rozdzielczością 0,1 nm w paśmie 1 kHz w zakresie częstotliwości do 100 kHz.
EN
One of the fundamental metrological issues in scanning probe microscopy is the measurement of nearfield interactions between the microprobe and the surface. In most experiments the detection of the cantilever deflection is performed using so called Position Sensitive Detectors. In this setup the measurements of forces acting at the microtip require additional tedious and very time consuming calibration. Therefore in the laboratory of scanning probe microscopy, nanostructure and nanometrology at the Faculty of Microsystem Electronics and Photonics of the Wroclaw University of Technology we developed fiber optical Fabry-Perot inteferometer which can be used to determine the metrological parameters of the nearfield sensors. In this work we will present the results of piezoelectrical tuning fork measurements, which enable deflection detection of the tuning fork prongs with the resolution of 0,1 nm in the bandwidth of 1 kHz in the frequency range up to 100 kHz. We will also report in the calibration of the microsystem electrostatic deflection actuator, which can be used to maintain the distance between the microprobe and sample.
8
Content available Application of scanning shear-force microscope for fabrication of nanostructures
Sikora A., Gotszalk T., Sankowska A., Rangelow I. W.
Journal of Telecommunications and Information Technology
|
2005
|
nr 1
81-84
EN
In view of the rapid growth of interest in AFM technique in surface property investigation and local surface modification we describe here an AFM microscope with optical tip oscillation detection. The modular shear-force/tunneling microscope for surface topography measurement and nanoanodisation is described. The measurement instrument presented here is based on the fiber Fabry-Perot interferometer for the measurement of the conductive microtip oscillation that is used as nano e-beam for local surface anodisation. An advantage of this system is that quantitative measurements of tip vibration amplitude are easily performed.
9
Modularny mikroskop tunelowy i sił atomowych do badań własności elektrycznych nanostruktur
Sikora A., Gotszalk T., Szeloch R., Radojewski J., Sankowska A.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2003
|
Vol. 44, nr 8-9
49-51
PL
W artykule omówiono konstrukcję modularnego mikroskopu "Shear force" z interferometryczną detekcją drgań ostrza skanującego umożliwiającego pomiar właściwości elektrycznych próbki w skali pojedynczych nanometrów. Przedstawiono także wstępne wyniki badań topografii i lokalnego prądu emisji wykonanych przy użyciu niniejszego mikroskopu.
EN
We describe here AFM microscope with optical tip oscillation detection. The modular Shearforce/Tunneling Microscope for surface topography measurement and local current emission is described. The measurement instrument presented here is based on the fiber Fabry-Perot interferometer used for the measurement of the conductive microtip oscillation. An advantage of this system its that quantitative measurements of tip vibration amplitude are easily performed. Current emission from the tip renders it possible to nanostructures fabrication by local surface anodisation process. It is also possible to investigate a local electrical surface parameters together with topography measurements.
10
Zastosowanie mikroskopii bliskich oddziaływań w pomiarach geometrii nanostruktur
Marendziak A., Gotszalk T., Sankowska A., Radojewski J., Szeloch R.
Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki
|
2002
|
nr 7-8
51-53
11
Mikroskopia sił atomowych "Shear force" z interferencyjną detekcją ostrza skanującego
Sikora A., Sankowska A., Gotszalk T. P., Radojewski J., Szeloch R. F.
Elektronizacja : podzespoły i zastosowania elektroniki
|
2002
|
nr 9
11-12
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.