Ograniczanie wyników
Czasopisma help
Autorzy help
Lata help
Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 49

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 3 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 3 next fast forward last
PL
W pracy przedstawiono sposób wykorzystania energii elektromagnetycznej w przemyśle na przykładzie urządzeń zgrzewających tworzywa sztuczne. Pokazano budowę i zasadę działania zgrzewarki wysokiej częstotliwości omawiając jej najważniejsze elementy składowe. Podjęto również tematykę pola elektromagnetycznego (PEM) w otoczeniu zgrzewarek, jako czynnika nierozerwalnie związanego z procesem zgrzewania, przedstawiając wyniki pomiarów i zasięgi stref ochronnych w otoczeniu tego typu urządzeń w kontekście obowiązujących przepisów.
EN
The work demonstrates the use of electromagnetic energy in the industry setting as an example plastic welding devices. Showed the construction and operation principles of high-frequency welders and discussed its main components. Focused on the subject of electromagnetic field (EMF) in the vicinity of welder, as an inseparable factor related with the welding process, showing measurement results and protection zone ranges in the vicinity of EMF welder.
EN
We studied lateral silicon p-i-n junctions, doped with phosphorus and boron, regarding charge sensing feasibility. In order to examine the detection capabilities and underlying mechanism, we used in a complementary way two measurement techniques. First, we employed a semiconductor parameter analyzer to measure I−V characteristics at a low temperature, for reverse and forward bias conditions. In both regimes, we systematically detected Random Telegraph Signal. Secondly, using a Low Temperature Kelvin Probe Force Microscope, we measured surface electronic potentials. Both p-i-n junction interfaces, p-i and i-n, were observed as regions of a dynamic behaviour, with characteristic time-dependent electronic potential fluctuations. Those fluctuations are due to single charge capture/emission events. We found analytically that the obtained data could be explained by a model of two-dimensional p-n junction and phosphorus-boron interaction at the edge of depletion region. The results of complementary measurements and analysis presented in this research, supported also by the previous reports, provide fundamental insight into the charge sensing mechanism utilizing emergence of individual dopants.
PL
Istnieje wiele sposobów kalibracji kelvinowskiego mikroskopu sił atomowych (Kelvin Probe Force Microscope, KFM) [1], a uzyskane dokładności zależą od wybranej metody. W publikacji przedstawiona jest nowa metoda wzorcowania KFM. Metoda jest oparta na pomiarze potencjału powierzchniowego wzorca odniesienia i porównaniu wyniku z uzyskanym za pomocą KFM. Pozwala ona na wzorcowanie w całym zakresie pomiarowym mikroskopu zarówno w wartościach bezwzględnych jak i dynamicznie zmiennych. Napięcie powierzchniowe wzorca odniesienia użytego do wzorcowania jest regulowane w zależności od potrzeb (nie jest więc zdefiniowane jego fizycznymi parametrami). Stosując tą metodę zarówno charakterystyka czasowa jak i dokładność pomiaru mogą być regulowane przez właściwe ustawienie kontrolera PI i wzmacniacza Lock-In. Okazało się, że przy wzroście wzmocnienia proporcjonalnego, zmniejsza się zakres pomiarowy przy jednoczesnym zwiększeniu rozdzielczości. Metoda została zastosowana do wzorcowania niskotemperaturowego mikroskopu KFM. Osiągnięte wyniki potwierdzają, że KFM może mierzyć potencjał w zakresie -3...3 V. Obliczone odchylenie standardowe dla każdego punktu kalibracyjnego wynosiło mniej niż 15 mV. Biorąc pod uwagę także błąd systematyczny można skonkludować że niepewność w całym zakresie pomiarowym wynosi 20 mV.
EN
There are many possible ways to calibrate the Kelvin Probe Force Microscope [1] and various accuracy levels can be achieved accordingly to employed method. The paper presents novel method for calibrating Kelvin Probe Force Microscope. The method is based on measuring the surface potential of a reference sample and comparing it with the results obtained by KFM. It offers a calibration possibility in the whole measuring range of the microscope both in terms of absolute values and dynamic behavior. The surface potential of a reference sample used for calibration is adjusted according to needs (instead of being defined by physical parameters of the sample). Using this method both the time characteristics and the measurement accuracy can be adjusted by a proper setting of PI controller and Lock-In amplifier gains. In particular, with a higher proportional gain the measuring range is decreased but obtained resolution is increased. The method has been applied for the calibration of Unisoku Low Temperature KFM. Obtained results proves that KFM can measure the potential within the -3...3 V. The calculated standard deviation for each calibration point is less than 15 mV. Taking into consideration also systematic error it can be concluded, that the uncertainty in a whole measuring range is 20 mV.
4
EN
A method of approximate analysis of a thin conductive shell in static electroconductive field is considered and proposed in the paper. Thin shells almost always lead to problems in numerical calculations. When applying the Boundary Element Method (BEM) to solve equations for a thin shell, two difficulties arise: significant increase of the number of algebraic equations, and the presence of nearly singular integrals. The proposed model avoids them both by using an approximate analytical solution for the shell. Numerical examples confirm its usability.
PL
W pracy zaproponowano przybliżoną metodę analizy pola przepływowego w otoczeniu cienkiej przewodzącej powłoki z zastosowaniem metody elementów brzegowych (MEB). Analiza pola w cienkich warstwach za pomocą metod numerycznych prawie zawsze napotyka na problemy. W przypadku zastosowania MEB pojawiają się dwie trudności: znaczny wzrost liczby równań algebraicznych oraz obecność całek prawie osobliwych. Przedstawiona metoda unika obydwu trudności poprzez zastosowanie przybliżonego analitycznego rozwiązania w obszarze powłoki. Zaprezentowane przykłady numeryczne potwierdzają jej użyteczność w rozpatrywanej klasie zagadnień.
PL
W artykule omówiono praktyczne zastosowanie analitycznej metody obliczania niepewności pomiaru. Metoda umożliwia wyznaczanie niepewności zgodnie z przyjętą definicją przedziału rozszerzenia. Wykorzystano ją do analizy wyniku pomiaru uzyskanego przy użyciu laserowego przyrządu skanującego. Przyrządy te należą do kategorii bezstykowych urządzeń pomiarowych wykorzystujących zogniskowaną wiązkę laserową. Na ogół stosuje się je do pomiaru elementów maszynowych, takich jak druty lub włókna. Zasada działania przyrządów polega na pomiarze czasu przesłonięcia wiązki laserowej przemiatanej wzdłuż mierzonego wymiaru. Mierzony obiekt nie ma ustalonej pozycji i może przemieszczać się w trakcie pomiaru w określonym obszarze pomiarowym. Powoduje to powstawanie błędu systematycznego pomiaru. Błąd ten traktowany jest probabilistycznie jako część przedziału rozszerzenia. Jego wartość graniczna została wyznaczona na postawie analizy matematycznej przeprowadzonej w oparciu o poznane zjawiska związane z pomiarem, wykorzystując rozwiązania stosowane w dziedzinie optyki laserów.
EN
Practical application of the analytical method for calculating the measurement uncertainty are presented. The method enables determination of uncertainty in accordance with the probabilistic definition of the coverage interval for a measurand. The method was used to analysis of a contactless measurement of small diameters with a laser scanning instruments. These instruments are often used to measure geometrical dimensions of workpieces such as wires or fibers. The working principle of the instruments is based on measuring time of shading of the laser beam that is swept across such objects, which is proportional to the size of the measured object. The object can be moved within the area of measurement. A change in the position of an object is the source of a systematic error of measurement, which is treated probabilistically as a component of the coverage interval. Its maximum value is estimated with the use of mathematical analysis based on known physical phenomena occurring in laser optics techniques.
PL
W artykule przedstawiono wybrane przykłady zabezpieczania w przenośnikach taśmowych miejsc zbiegania i nabiegania taśmy na bębny oraz na krążniki zmieniające jej kierunek o więcej niż 3°. Metody zabezpieczeń stosowane w przenośnikach zaczerpnięto z normy DIN 15 220, zgodnej z ISO/TR 5045 i obejmującej przenośniki taśmowe opisane w części 1 normy DIN 15 201, a także przenośniki stanowiące wyposażenie maszyn i urządzeń.
EN
There are presented chosen examples of a safeguarding in the belt conveyors of belt convergence and winding points on the drums as well as on the carrying rollers changing belfs direction by more than 3° in the article. The safeguarding methods applied in the conveyors were taken from standard DIN 15 220, as per the standard ISO/TR 5045 and it includes belt conveyors described in a section 1 of the standard DIN 15 201 as well as the conveyors forming equipment for machines and devices.
EN
A focused laser beam is incident on the edge of cylindrical object. The reflected edge wave is interfering with geometrical wave forming fringe pattern containing the information about the surface local curvature. This can be determined by analyzing the detector output signal.
EN
Single electron devices (SEDs) are candidates to become a keystone of future electronics. They are very attractive due to low power consumption, small size or high operating speed. It is even possible to assure compatibility with present CMOS technology when natural potential fluctuations introduced by dopant atoms are used to create quantum dots (QD). However, the main problem of this approach is due to the randomness of dopant distribution which is characteristic for conventional doping techniques. This leads to scattered characteristics of the devices, which precludes from using them in the circuits. In these work we approach the problem of correlating the distribution of QD's with the device characteristics. For that, we investigate with a Kelvin probe force microscope (KFM) the surface potential of Si nanodevice channel in order to understand the potential landscape. Results reveal the features ascribable to individual dopants. These findings are supported also by simulation results.
EN
Accurate reproduction of colors requires methods of calibrating a digital camera. In case of a camera which employs filters with spectral characteristics deduced from the color matching functions, a set of reference calibration colors must be used to obtain a conversion matrix between raw data from imaging sensor and colorimetric tristimulus values XYZ, from which the output signal is formed. The XYZ camera used for testing of the presented calibration me thod is capable of acquiring colors accurately in the whole vision gamut due to its filters. However, the well-established color references, like the Macbeth Chart or other similar color checkers, are not entirely sufficient for the calibration due to their enclosure in smaller color gamut (HDTV - High Definition Television) than the whole vision gamut. The presented method is based on choosing the calibration colors by their spectral distributions, which are related with the spectral characteristics of the filters. The obtained result was found to be ?E=1.57 for the designed colors.
EN
Constant progress in application of micro-lenses in many modern optical systems caused a continuous increase of the need to investigate methods of their measurement. A new method of measurement of shape deviation of such cylindrical micro-lens has been proposed. The concept is based on measurements of the distance between a reference and the lens surface in various directions. The reference points are established by the rotation axis of a precise rotary table. Detection of the surface of the measured object has been done using a focused laser beam moved by a high-resolution piezotranslator. In the paper we will show the results from our first measurements and we will discuss the advantages and disadvantages of our method as well as the method’s accuracy.
PL
Przedstawiono wykorzystanie analitycznej metody obliczania przedziału ufności przy opracowaniu wyniku pomiaru średnic włókien światłowodowych. Metoda pozwala na wyznaczanie przedziału ufności zgodnie z przyjętą jego definicją zawartą w Uzupełnieniu do Przewodnika wyrażania niepewności pomiaru. Metodę zastosowano do oceny niepewności pomiaru wykonywanego laserowym przyrządem skanującym. Włókno w trakcie pomiaru może przemieszczać się w pewnym dozwolonym obszarze pomiarowym. Przeprowadzona analiza pokazuje, jaki wpływ mają możliwe przemieszczenia włókna w przestrzeni pomiarowej na niepewność jego pomiaru.
EN
The analytical method for calculating the coverage interval of fiber optics diameter measurement using the laser scanning instrument is presented. The method enables to evaluating the coverage interval compatible with the concept of a draft document: GUM Supplement 0 "Concepts and basic principles of measurement uncertainty evaluation". The method for calculating the expanded uncertainty of diameter under measurement is used. The laser scanning instrument is capable to measure optical fibers within the diameter range from 50 to 150 mm with the resolution 1 mm. It may be employed to perform measurements during manufacturing process in order to active supervision of the process. The principle of the instrument operation is based on measurement of a shading time of scanning laser beam by the measured object. The time is proportional to the measured diameter. The fiber may be displaced by permissible measuring area. The presented analysis shows how the possible movement of a fiber within measuring area influences in measurement uncertainty of its diameter.
PL
Wybór środków i systemu transportu wewnętrznego w kopalniach odkrywkowych jest zagadnieniem złożonym, w którym uwzględnia się między innymi warunki górniczo-geologiczne, techniczne i ekonomiczne, a celem jest bezpieczne i ekonomiczne funkcjonowanie zakładu. Często stosowanym środkiem transportu wewnętrznego w kopalniach odkrywkowych są samochody ciężarowe w wykonaniu specjalnym, zwane wozidłami technologicznymi. Artyluł omawia ich zalety, wady i efektywność pracy.
PL
Przedstawiono metodę doboru lokalizacji układów napędowych oraz typu i parametrów pracy urządzeń rozruchowych opartą na badaniach modelowych przenośników taśmowych. Metodę zaprezentowano na przykładzie analizy rozruchów nadkładowego przenośnika taśmowego o długości 1,6 km i 2,5 km z wykorzystaniem wybranych typów urządzeń rozruchowych.
EN
The paper deals with the new choice method of start-up components for a belt conveyor drives, based on simulation tests of the multi-mass dynamic conveyor model. Simulation results of the belt conveyor start-up, length L = 1.6 km and L = 2.5 km with resistance starter and fill-controlled fluid coupling, have been presented.
20
Content available remote Pomiary laserowe
PL
Koherentna wiązka fotonów staje się coraz to bardziej popularna w pomiarach przemysłowych różnych wielkości fizycznych. Pomiary laserowe rozwijają się w szybkim tempie, ale fotonika jako przemysł napotyka na coraz większe trudności ze względu na niski poziom automatyzacji i standaryzacji. W artykule przedstawione jest także tworzenie i zastosowanie trzech różnych wiązek fotonów: zogniskowanej - w pułapkowaniu laserowym, pojedynczych fotonów - w pomiarach wirów oraz mikrowiązki - w interferencyjnych pomiarach ciśnienia.
EN
The beam of coherent photons gradually attracts more attention of scientific world in its application in "industrial metrology" of various physical quantities. Laser metrology is doing very well, but photonics as an industry is facing a lot of problems concerning the lack of advanced automation and standarization. The formation and application of three different photon beams are discussed in separate sections: focused beam used in laser trapping, single photon beam used in flow measurement and microbeam - in intefrerometric pressure measurement.
first rewind previous Strona / 3 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.