Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Surface potential distribution chart of DLC thin films

Lozovski T., Sakalauskas S., Dłużniewski M.

Karbo

2005

Nr 4

262-264

Measuring system of the surface electric potential and its distribution is presented. The schematic instrument diagram is discussed. The surface potential distribution of thin carbon layers was investigated by the instrument. The relation of measured voltage with the sample physical parameters are discussed.

Zaprezentowano ukiad do pomiaru powierzchniowego potencjału elektrycznego i jego rozkładu. Omówiono schemat przyrządu, za pomocą którego badano rozkład potencjału powierzchniowego cienkich warstw węglowych. Przedyskutowano związek zmierzonego napięcia z innymi fizycznymi parametrami próbki.

Measurement of surface potential distribution in porous silicon

Łozowski T., Sakalauskas S., Puras R., Jakubowski A., Beck R. B.

Electron Technology

1999

Vol. 32, No. 1/2

158-161

Measuring instrument of the surface electric potential and its distribution is presented. The schematic instrument diagram is discussed. The distribution surface electric potential of monocrystalline and porous silicon was investigated by the instrument. The homogeneity of specimens and the value of band bending p-and n-type silicon was evaluated.