Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Obtaining the d.c. properties of soft magnetic materials using an open circuit measurement technique

Hall M., Harmon S., Patel H., Thomas O.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2009

|

R. 85, nr 1

28-30

EN

Hysteresis curves have been obtained for non-oriented electrical steel in strip geometry using an open circuit as the distance from the surface of the strip to the Hall probe is increased. An additional study looked at the influence of the solenoid length on the measured properties. The internal field was found from extrapolation of the measured magnetic field to the surface. Whilst hysteresis curves with a finite Hall probe distance showed a dependence on solenoid length, hysteresis curves formed using the extrapolated field did not.

PL

Wyznaczono pętle histerezy dla niezorientowanej blachy elektrotechnicznej przy użyciu postaci próbek paskowych badanych w otwartym obwodzie magnetycznym dla różnych odległości hallotronu od powierzchni próbki. Przeprowadzono dodatkowe badania nad wpływem długości solenoidu na mierzone własności. Wartość pola wewnętrznego wyznaczono poprzez ekstrapolację wartości zmierzonych nad powierzchnią. Kształt pętli histerezy zmierzonych hallotronem zależał od długości solenoidu, podczas gdy pętle ekstrapolowane nie wykazywały takiej zależności.

2

Determination of stress in Au/Ni multilayers by symmetric and asymmetric X-ray diffraction

Chocyk D., Prószyński A., Gładyszewski G., Labat S., Gergaud P., Thomas O.

Optica Applicata

|

2002

|

Vol. 32, nr 3

333-337

EN

A stress analysis was done for Au/Ni multilayers prepared by molecular beam epitaxy and by thermal evaporation. The lattice parameters in the growth and in-plane directions of multilayer constituents were directly determined by the analysis of the symmetric and asymmetric X-ray diffraction (XRD) profiles. The q–2q XRD profiles were interpreted using the 1D model of non-ideal superlattice structure, whereas the asymmetric XRD profiles using the 3D model. Both models were based on the Monte Carlo simulation and on the kinematical theory of scattering. It was shown that considerable stress was encountered in multilayers with in-plane structural cohere.

3

Nonspecular X-ray diffraction from multilayered systems: an influence of the in-plane coherence of sublayers

Chocyk D., Gładyszewski G., Labat S., Gergaud P., Thomas O.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2000

|

Vol. 41, nr 11

40-41

EN

The experimental large-angle nonspecular x-ray diffraction (NXRD) profiles measured for multilayered systems are strongly dependent on structure perfection. We used the Monte Carlo simulation for calculating the NXRD profiles and to study the influence of a variety of structural parameters on diffraction profiles for Au(111)/Ni(111) and Au(001/Ni(001) multilayers. We show that differences in profiles can be attributed to a different degree of loss of the in-plane coherence between neighboring sublayers.

PL

Widma eksperymentalne wysokokątowego rozpraszania promieniowania rentgenowskiego w układach wielowarstwowych bardzo silnie zależą od jakości badanych struktur. Mogą się znacznie różnić nawet dla supersieci składających się z tych samych materiałów. Jedną z najbardziej znaczących różnic jest to, że widma zmierzone w pewnych przypadkach składają się z układu wielu wierzchołków satelitarnych, natomiast w innych zawierają tylko jeden wierzchołek. Podjęcie próby ustalenia przyczyny powstawania tej różnicy było celem niniejszej pracy. W pracy zastosowano trójwymiarowy model, oparty na symulacji Monte Carlo i kinematycznej teorii rozpraszania, pozwalający na obliczanie widm niezwierciadlanego rozpraszania promieniowania rentgenowskiego w obszarze wysokich kątów. Przy jego pomocy badano wpływ różnych parametrów strukturalnych na widma dyfrakcyjne supersieci złoto/nikiel. Zastosowanie różnych podłoży pozwoliło na uzyskanie warstw: Au(111 )/Ni(111) oraz Au(001)/Ni(001). W wyniku przeprowadzonych badań stwierdziliśmy, że wspomniana różnica w mierzonych widmach spowodowana jest różnym stopniem utraty koherencji pomiędzy sąsiednimi warstwami w płaszczyźnie próbki. Ustalenie przyczyny tej różnicy pozwoliło w dalszych symulacjach na jakościowe odtworzenie widm eksperymentalnych wspomnianych wyżej układów.