Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Zmodyfikowany generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych

Rudnicki T.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2009

|

R. 55, nr 7

435-437

PL

W artykule przedstawiono metodę generacji par testowych pobudzających uszkodzenia opóźnieniowe. Źródłem par testowych jest zmodyfikowany rejestr MISR. Modyfikacja rejestru MISR polega na podwojeniu jego długości. Dzięki temu udało się ograniczyć do jednego liczbę słów programujących, a tym samym zrealizować generator par testowych bez jakiejkolwiek pamięci. To spowodowało, że uzyskano podobne rezultaty jak dla generatora par testowych z pamięcią ROM, co jest główną zaletą przedstawionego generatora par testowych.

EN

A method of generating test pairs for delay faults is presented in the paper. A modified MISR register is the source of test pairs. Modification of this register consists in doubling its length (Fig. 3). Test pairs are only generated at a half of the MISR register chosen outputs. Doubling the MISR register makes it possible to generate all possible test pairs, which was proved in the papers [2, 3, 4]. The disadvantage of this solution is too large number of clock cycles. The test pairs for the delay faults include a quite number of don't cares. It enables a considerable reduction of the test pairs. Minimising the number of test pairs means a smaller number of clock cycles at a very high coverage factor of the test pairs. The process of merging the test pairs is shown on example. The number of programming words is limited to only one due to this modification. In consequence, it enables producing a generator of test pairs without ROM. There are presented the experimental results of generating the test pairs for benchmarks of ISCAS'89. The number of benchmark inputs was limited to 32. The results are similar to those for the generator of test pairs with ROM [1, 2, 4] (Fig. 1). The coverage factor is somewhere between 65% and 95% at the sequence length ranging from 160 to 300k clock cycles. The main advantage of this solution is the lack of ROM.

2

Test Pattern Generator for Delay Faults

Rudnicki T., Hławiczka A.

Theoretical and Applied Informatics

|

2007

|

Vol. 19, No. 1

19-36

EN

One of the recently proposed solutions to the problem generation of test pairs' patterns to target delay faults is a Multiple Input Signature Register (MISR). The paper proposes a method to minimize control words and to modify the operation diagram of the Test Pattern Generator (TPG) aiming at achieving acceptable test times while ensuring a very high coverage of Path Delay Faults (PDF). Experimental results are presented, in which the method of test pairs for benchmarks of the International Symposium on Circuits and Systems in 1989 (ISCAS'89) has been employed [6]. Benchmarks presented in ISCAS'89 are sequential circuits. These results confirm a high effectiveness of this method compared to other solutions.

PL

Rejestr MISR pobudzany słowami odczytywanymi z pamieci ROM jest jednym z ostatnio oferowanych rozwiazan problemu generacji par testowych dla sciekowych uszkodzen opóznieniowych. W niniejszej pracy przedstawiono koncepcje zmniejszania liczby słów programujacych oraz takiej modyfikacji grafu pracy generatora par testowych, która pozwala na uzyskanie akceptowalnego czasu testowania przy stosunkowo wysokim współczynniku pokrycia sciekowych uszkodzen opóznieniowych. W pracy przedstawiono rezultaty eksperymentów, w których wygenerowano opracowana metoda pary testów dla benchmarków przedstawionych na konferencji ISCAS’89 [6]. Benchmarki przedstawione na tej konferencji sa układami sekwencyjnymi. Rezultaty te potwierdzaja znaczna skutecznosc metod w porównaniu z innymi rozwiazaniami z rónych zródeł, udostepnianie informacji uytkownikom za posrednictwem kanałów mobilnych i standardowych łaczy telekomunikacyjnych, itp.

3

Generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych

Rudnicki T.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2007

|

R. 53, nr 7

95-97

PL

Rejestr MISR pobudzany słowami odczytywanymi z pamięci ROM jest jednym z ostatnio oferowanych rozwiązań problemu generacji par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych. W niniejszej pracy przedstawiono koncepcję zmniejszania liczby słów programujących oraz takiej modyfikacji grafu pracy ww. generatora par testowych, która pozwala na uzyskanie akceptowalnego czasu testowania przy stosunkowo wysokim współczynniku pokrycia uszkodzeń opóźnieniowych. W pracy przedstawiono rezultaty eksperymentów, w których wygenerowano opracowaną metodą pary testów dla benchmarków ISCAS'89.

EN

One of the recently proposed solutions to the problem generation of test pairs' patterns to target delay faults is a Multiple Input Signature Register (MISR). The paper proposes a method to minimize control words and to modify the operation diagram of the Test Pattern Generator (TPG) aiming at achieving acceptable test times while ensuring a very high coverage of delay faults. Experimental results are presented, in which the method of test pairs for benchmarks of the ISCAS'89 has been employed. These results confirm a high effectiveness of this method compared to other solutions.