Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

System logistyczny pozyskiwania podwodnych sygnatur okrętu jako element bezpieczeństwa transportu

Listewnik K.

Gospodarka Materiałowa i Logistyka

|

2016

|

nr 9

472--479

PL

Gromadzenie sygnatur jednostek pływających jest niezbędnym elementem zadań związanych z technologiami niskiej wykrywalności okrętów realizowanymi przez wszystkie marynarki wojenne. Umiejętność wykorzystania tzw. sygnatur obiektów morskich decyduje o skuteczności systemów obrony przeciwminowej, systemów wykrywania, systemów klasyfikacji i identyfikacji oraz niskiej wykrywalności własnych platform morskich. Rozwijanie systemów logistycznych związanych z gromadzeniem sygnatur jednostek pływających jest obecnie szeroko rozwijane w państwach NATO. Ciągłe testowane i wdrażanie nowych elementów systemu logistycznego zapobiega powstawaniu tzw, luk technologicznych w tym obszarze. Artykuł opisuje niezbędne elementy systemu logistycznego pozyskiwania i wykorzystywania sygnatur dolnej półsfery okrętów w aspekcie bezpieczeństwa żeglugi.

EN

Collecting signatures of vessels is an essential task associated with ships low detection technologies carried out by all navies. Ability to use the so-called signature offshore determines the effectiveness of the mine warfare systems, detection, classification and identification, and low detectability of their offshore platforms. Developing logistics systems associated with the collection of signatures of vessels is now widely developed in NATO countries. Continuous testing and implementation of new elements of the logistics system prevents the formation from so-called technological gaps in this area. The article describes the essential elements of the logistic acquisition system and use of lower hemisphere signature of ships in terms of safety of navigation.

2

Badanie chropowatości powierzchni gładkich za pomocą skaterometru kątowego. Cz. 2, Metodyka pomiaru : wyniki pomiarowe wybranych powierzchni

Pawlata A.

Biuletyn Wojskowej Akademii Technicznej

|

2015

|

Vol. 64, nr 1

59-78

PL

W artykule opisano metodykę pomiaru parametrów chropowatości powierzchni za pomocą zbudowanego w IOE WAT zautomatyzowanego skaterometru kątowego. Zaprezentowano wyniki pomiarowe dla trzech wybranych polerowanych powierzchni: z krzemu, z germanu oraz ze stali nierdzewnej. Przedstawiono badania porównawcze wykonane za pomocą scatteroscope SCAT-4. Oszacowano powtarzalność pomiaru i zakres pomiarowy dla skaterometru kątowego.

EN

The experimental procedure for measurements of smooth surface roughness parameters using automated angle scatterometer, built at the Institute of Optoelectronics (IOE), is described. The results of measurements and their analysis for three chosen polished surfaces: silicon, germanium, and stainless steel are presented. The comparative investigations using scatteroscope SCAT-4 are performed. The repeatability and measurement range for built at IOEangle scatterometer is estimated.

3

Testing of interconnections with use of reduced-size signature-based diagnostic dictionary

Garbolino T., Gucwa K., Hławiczka A.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2010

|

Vol. 51, nr 11

15-18

EN

The paper presents a new method for size reduction of a signature-based diagnostic dictionary that is normally used for testing of static and delay faults in interconnections that are tested by means of an R-LFSR ring register. The newly developed method, similarly to the previous studies of the authors, assume that the n-bit bus under test is split into b fragments with their width of k bits each. Each fragment of the bus is tested with use of a separate 2k-bit R-LFSR. The test procedure consists of four phases during which odd and even registers operate alternately. Such an approach eliminates effect of mutual impact between states of neighbouring R-LFSRs in case of shorts between feedback lines of these registers. These possible interactions were a drawback of previous solutions as they limited the possibility to reduce size of the diagnostic dictionary. Owing to application of this new technique to full detection, localization and identification of all the considered faults that may occur on an n-bit bus, the new solution needs much smaller dictionary, where its size is determined by the multiplicity r of faults within each k-bit fragment, even if the bus width nťk.

PL

W artykule zaproponowano nową metodę redukcji rozmiaru syganturowego słownika diagnostycznego, który jest wykorzystywany do testowania uszkodzeń statycznych i opóźnieniowych w połączeniach testowanych przez rejestr pierścieniowy R-LFSR. Nowo opracowana metoda - podobnie jak w poprzednich pracach autorów - zakłada, że testowana magistrala n-bitowa zostaje podzielona na b jednakowych fragmentów o szerokości k bitów każdy. Każdy taki fragment magistrali jest testowany przez oddzielny rejestr R-LFSR złożony z 2k przerzutników D. Procedura testowa obejmuje cztery fazy, w czasie których rejestry parzyste i nieparzyste pracują naprzemiennie. Takie podejście eliminuje zjawisko wzajemnego wpływu na siebie sąsiednich rejestrów R-LFSR, które było wadą poprzednich rozwiązań ponieważ ograniczało możliwość zmniejszenia rozmiaru słownika diagnostycznego. Nowa technika umożliwia detekcję, lokalizację oraz identyfikację wszystkich zamodelowanych uszkodzeń, mogących wystąpić na n-bitowej magistrali, oraz wymaga słownika diagnostycznego o znacznie mniejszym rozmiarze. Rozmiar tego słownika jest określony wyłącznie przez krotność uszkodzeń rw każdym k-bitowym fragmencie magistrali, nawet gdy szerokość tej magistrali nťk.

4

Zastosowanie liniowych rejestrów pierścieniowych do testowania połączeń w układach FPGA

Hławiczka A., Gucwa K., Garbolino T.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2008

|

R. 54, nr 8

594-597

PL

Praca poświęcona jest dedykowanemu konkretnej aplikacji testowaniu połączeń w układach FPGA. Na czas testowania komórki układu FPGA wchodzące w skład realizowanej aplikacji są przekształcane w elementy układu RL-BIST. Do budowy takiego układu został wybrany pierścieniowy rejestr LFSR, którego n pętli sprzężeń zwrotnych jest w trakcie testowania liniami testowanej magistrali połączeń. Na podstawie sygnatury otrzymanej w układzie RL-BIST stwierdza się czy testowana magistrala połączeń jest sprawna a w oparciu o słownik diagnostyczny można także zlokalizować uszkodzone połączenia oraz zidentyfikować typ uszkodzenia. Skuteczność zaproponowanej metody testowania połączeń w FPGA została poparta obszernymi wynikami eksperymentalnymi.

EN

Due to rapidly growing complexity of FPGA circuits application-dependent techniques of their testing become more and more often exploited for manufacturing test instead of application'independent methods. In such the case not all but only a part of FPGA resources (i.e. CLBs and interconnects) is a subject of testing - the part that is to be used by the concrete target application. The work is devoted to application-dependent testing of interconnects in FPGA circuits. For the test period the CLBs being the parts of the application are reconfigured so they implement elements (i.e. XOR gates and D-type flip-flops) of a RL-BIST structure based on a ring linear feedback shift register (R-LFSR). FPGA interconnections under test (IUTs) or at least their part are feedback lines of the R-LFSR. The R-LFSR is first initialised with a randomly chosen seed and than run for several clock cycles. Next the final state of the R-LFSR - a signature - is red by an ATE (Automatic Test Equipment). The value of the signature determines whether IUTs are fault free or faulty. Moreover, on the basis of the signature and with the use of a fault dictionary one may localise faulty interconnections in the FPGA and identify types of faults. The FPGA is afterwards reconfigured so the other set of IUTs becomes feedback lines of the R-LFSR. The above procedure is repeated until all FPGA interconnections belonging to the target application are tested. Efficacy of the proposed approach to testing of FPGA interconnects is supported by experimental results.