PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  spot defect
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available The influence of yield model parameters on the probability of defect occurrence
Rakowski M., Pleskacz W. A.
Journal of Telecommunications and Information Technology
|
2007
|
nr 3
101-104
EN
This paper describes the analysis of the influence of yield loss model parameters on the calculation of the probability of arising shorts between conducting paths in IC's. The characterization of the standard cell in AMS 0.8 žm CMOS technology is presented as well as obtained probability results and estimations of yield loss by changing values of model parameters.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.