Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  properties of thick gallium nitride
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
EN
Gallium nitride layers were grown on sapphire (0001) substrates on low temperature (LT)-GaN layer deposited by the HVPE method. HCl flow rates and deposition times of the nucleation layer were varied in the range of 8-10 cm3/min and 5-9 min (with the step of 2 min), respectively. Morphologies of LTGaN buffer layers and subsequent high temperature (HT)-GaN layers were examined by scanning electron microscopy. Photoluminescence spectra of HT-GaN layers were recorded which allowed us to evaluate the optical quality of thick HVPE HT-GaN layers.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.