Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

1 Rudnicki T.

1 2007

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: pokrycie uszkodzeń

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych

Rudnicki T.

Pomiary Automatyka Kontrola

2007

R. 53, nr 7

95-97

Rejestr MISR pobudzany słowami odczytywanymi z pamięci ROM jest jednym z ostatnio oferowanych rozwiązań problemu generacji par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych. W niniejszej pracy przedstawiono koncepcję zmniejszania liczby słów programujących oraz takiej modyfikacji grafu pracy ww. generatora par testowych, która pozwala na uzyskanie akceptowalnego czasu testowania przy stosunkowo wysokim współczynniku pokrycia uszkodzeń opóźnieniowych. W pracy przedstawiono rezultaty eksperymentów, w których wygenerowano opracowaną metodą pary testów dla benchmarków ISCAS'89.

One of the recently proposed solutions to the problem generation of test pairs' patterns to target delay faults is a Multiple Input Signature Register (MISR). The paper proposes a method to minimize control words and to modify the operation diagram of the Test Pattern Generator (TPG) aiming at achieving acceptable test times while ensuring a very high coverage of delay faults. Experimental results are presented, in which the method of test pairs for benchmarks of the ISCAS'89 has been employed. These results confirm a high effectiveness of this method compared to other solutions.