PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!

Znaleziono wyników: 8

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  pixel detector
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote Voltage measurements using noise distribution
Węgrzyn Grzegorz, Szczygieł Robert
Przegląd Elektrotechniczny
|
2021
|
R. 97, nr 10
161--163
EN
This paper presents a concept of noised signal voltage measurement using noise distribution. The goal of this project was to work out a new solution for low noise, hybrid pixel detectors that work in single photon counting mode. The objective of the developed solution is to increase the energy resolution of the detector. This technique was originally developed for a hybrid detector but can be successfully applied to any circuit. The method described is to fit the distribution curve to the measured noise spectrum, and thus to accurately calculate the signal voltage.
PL
Referat przedstawia koncepcję metody pomiaru napięcia sygnału zaszumionego wykorzystującą pomiar widma szumu. Celem tej pracy było opracowanie nowego rozwiązania dla niskoszumnych, pikselowych hybrydowych detektorów promieniowania X, pracujących w trybie zliczania pojedynczych fotonów, które pozwoli na uzyskanie wyższej rozdzielczości energetycznych. Metoda ta może być również z powodzeniem wykorzystywana w innych aplikacjach. Opisywana technika bazuje na dopasowaniu krzywej rozkładu normalnego do zmierzonego szumu, a tym samym precyzyjne wyznaczenia wartości mierzonego napięcia.
2
Content available Simulation study on improving the spatial resolution of photon-counting hybrid pixel X-ray detectors
Krzyżanowska Aleksandra, Szczygieł Robert
Opto-Electronics Review
|
2021
|
Vol. 29, No. 4
187--191
EN
Hybrid pixel radiation detectors with a direct photon-to-charge conversion working in a single photon counting mode have gained increasing attention due to their high dynamic range and noiseless imaging. Since sensors of different materials can be attached to readout electronics, they enable work with a wide range of photon energies. The charge-sharing effect observed in segmented devices, such as hybrid pixel detectors, is a phenomenon that deteriorates both spatial resolution and detection efficiency. Algorithms that allow the detection of a photon irrespective of the charge-sharing effect are proposed to overcome these limitations. However, the spatial resolution of the detector can be further improved beyond the resolution determined by the pixel size if information about the chargé proportions collected by neighbouring pixels is used to approximate the interaction position. In the article, an approach to achieve a subpixel resolution in a hybrid pixel detector working in the single photon counting mode is described. Requirements and limitations of digital inter-pixel algorithms which can be implemented on-chip are studied. In the simulations, the factors influencing the detector resolution are evaluated, including size of a charge cloud, number of virtual pixel subdivisions, and detector parameters.
3
Content available remote Problemy korekcji w hybrydowych pikselowych detektorach promieniowania X
Drozd A., Maj P.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2014
|
R. 90, nr 5
86--89
PL
Promieniowanie X jest szeroko stosowane w medycynie w klasycznej rentgenografii, rentgenowskiej tomografii komputerowej, czy w badaniach materiałowych. Do badań diagnostycznych coraz częściej wykorzystuje się detektory promieniowania X pracujące w trybie pojedynczego zliczania fotonów, które pozwalają na rejestrację i przetwarzanie każdego wpadającego do piksela impulsu z osobna, a przez to zwiększenie kontrastu obrazowania. Artykuł prezentuje przegląd problemów niejednorodności w obrazowaniu przy użyciu takich pikselowych detektorów promieniowania X, a także metody ich korekcji.
EN
X-ray imaging is widely used in medicine in classic radiography, X-ray computed tomography and structural characterization of materials. X-ray detectors working in single photon counting mode, which register and process each photon separately, become more and more popular due to the possibility of imaging contrast enhancement. This paper presents problems of nonuniformity in imaging using this type of pixel X-ray detectors and methods of its correction.
4
Content available remote Obrazy wysokiej jakości dla promieniowania X z wykorzystaniem detektorów pikselowych
Maj P.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2014
|
R. 90, nr 9
66-68
PL
Artykuł opisuje wykorzystanie hybrydowych detektorów promieniowania X do wysokiej jakości obrazowania cyfrowego. Przedstawione są zalety i wady binarnego przetwarzania sygnału z detektora ze wskazaniem na jego krytyczne elementy związane z jakością obrazu, tj. niski poziom szumów oraz jednorodność kanałów w układzie scalonym. Zaprezentowane rozwiązanie, wykorzystujące przetworniki korekcyjne w każdym kanale, pozwala na zmniejszenie rozrzutów. Aby jednak mogły one być efektywnie stosowane w praktycznej aplikacji niezbędne jest wypracowanie efektywnego algorytmu korekcji umożliwiającego wykonanie całej procedury w czasie poniżej jednej minuty.
EN
The article describes the use of hybrid pixel detector for high quality digital X-ray imaging. Both pros and cons of binary readout are discussed with two critical parameters, namely a low noise level and an offset spread among readout channels, which are the main sources of decreasing image quality. Presented solution, which uses the trimming circuit in every readout channel allows minimization of the offset spread. They require however an effective and fast algorithms for finding an optimum value in less than a minute to be used in practical application.
5
Krummenacher feedback analysis for higt count-rate semiconductor pixel detector readout
Szczygieł R.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2010
|
Vol. 51, nr 11
12-15
EN
The Krummenacher feedback circuit [1] is a well know and often used in charge sensitive amplifiers (CSA) connected to DC-coupled semicondutor detectors. The circuit provides in a very simple structure dual functionality: continuous reset and detector leakage current compensation. In spite of the simplicity the characterization of the circuit for high speed applications is not very straightforward. This article presents an analysis of the feedback circuit based on 90 nm CMOS and technology and targeted at high-count-rate semiconductor hybrid pixel detector applications in submicron or 3D technologies.
PL
Obwód sprzężenia zwrotnego Krummenachera [1] jest często używany we wzmacniaczach ładunkowych podłączonych do detektorów półprzewodnikowych ze sprzężeniem DC. Układ ten w bardzo prostej strukturze zapewnia podwójną funkcjonalność: ciągłe kasowanie wzmacniacza ładunkowego i kompensacji prądu upływu detektora. Pomimo prostej budowy analiza tego układu pod kątem szybkości działania jest dosyć złożona. Przedstawiony artykuł prezentuje analizę niniejszego obwodu w oparciu o parametry technologii 90 nm CMOS ukierunkowaną na aplikacje do odczytu półprzewodnikowych detektorów hybrydowych realizowanych w technologiach submikronowych lub 3D.
6
Content available remote SOI monolithic active pixel detector technology for improvement of I-V characteristics and reliability
Niemiec H., Kucewicz W., Sapor M., Grabiec P., Kucharski K., Marczewski J., Tomaszewski D., Armstrong B. M., Bain M., Gamble F. R.
Electronics and Telecommunications Quarterly
|
2008
|
Vol. 54, No 4
507-512
EN
Monolithic active pixel detectors in SOI (Silicon On Insulator) technology are novel sensors of ionizing radiation, which exploit SOI substrates for the integration of readout electronics and a pixel detector. Breakdown voltage and leakage current of pixel diodes are very important parameters of the devices. This paper addresses recent development in the field of the technology of the SOI detectors, which lead to improvement of reliability and current-voltage characteristics of the sensors.
7
Content available TSSOI as an efficient tool for diagnostics of SOI technology in Institute of Electron Technology
Barański M., Domański K., Grabiec P., Grodner M., Jaroszewicz B., Kociubiński A., Kucewicz W., Kucharski K., Marczewski J., Niemiec H., Sapor M., Tomaszewski D.
Journal of Telecommunications and Information Technology
|
2005
|
nr 1
85-93
EN
This paper reports a test structure for characterization of a new technology combining a standard CMOS process with pixel detector manufacturing technique. These processes are combined on a single thick-_lm SOI wafer. Preliminary results of the measurements performed on both MOS SOI transistors and dedicated SOI test structures are described in detail.
8
Mozaikowy detektor monolityczny z aktywnymi komórkami w technologii SOI
Domański K., Grabiec P., Grodner M., Jaroszewicz B., Jasielski J., Jastrząb M., Klatka T., Kozieł M., Kucewicz W., Kucharski K., Kuta S., Marczewski J., Niemiec H., Sapor M., Tomaszewski D.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2004
|
Vol. 45, nr 10
39-41
PL
Praca przedstawia nowe rozwiązanie mozaikowego detektora krzemowego z aktywnymi komórkami, wykonanego na płytkach podłożowych SOI (Silicon On Insulator) [1], wytworzonych metodą wafer-bonding. Prezentowana praca jest częścią projektu SUCIMA (Silicon Ultra Fast Camera for Gamma and Beta Sources in Medical Applications), realizawanego w ramach 5. Programu Ramowego Komisji Europejskiej.
EN
A novel solution of an active pixel detector, which exploits wafer-bonded Silicon On Insulator (SOI) substrates for integration of the readout electronics with the pixel detector is presented in this paper. The main concepts of the proposed monolithic sensor and the preliminary tests results with ionising radiation sources are addresses. Presented work is a part of the project, called SUCIMA (Silicon Ultra Fast Camera for Gamma and Beta Sources in Medical Applications), founded by European Commission within 5-th Framework Program.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.