Inteligentne algorytmy obliczeniowe, maszynę wektorów nośnych oraz maszynę wektorów istotnych, zaimplementowano w systemie pomiarowym do badania centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych metodą niestacjonarnej spektroskopii foto-prądowej. Skuteczność działania tych algorytmów sprawdzono poprzez ich zastosowanie do badania centrów defektowych w niedomieszkowanym monokrysztale InP, którego własności półizolujące otrzymane zostały w wyniku długotrwałej obróbki termicznej w atmosferze par fosforu.
EN
Intelligent computational algorithms support vector machine (SVM) and relevance vector machine (RVM) has been implemented in the experimental system dedicated to studies of defect centres in high resistivity semiconductors by photoinduced transient spectroscopy (PITS). Functional effectiveness of these algorithms has been tested through their application to studying defect centres in an undoped InP single crystal whose semi-insulating properties were obtained by a long-term heat treatment in phosphorus vapour atmosphere.
2
Dostęp do pełnego tekstu na zewnętrznej witrynie WWW
Celem pracy jest określenie wpływu błędu dynamicznego wprowadzanego przez ograniczoną charakterystykę czestotliwościową przetwornika konduktancyjno-napięciowego na dokładność wyznaczania parametrów centrów defektowych metodą niestacjonamej spektroskopii fotoprądowej (PITS). Stwierdzono, że dla dużych szybkosci emisji ograniczone pasmo przetwornika powoduje nieliniowość wykresu Arrheniusa wskutek przesunięcia maksimów widm korelacyjnych w kierunku wyższych temperatur. Opracowano metodę korekcji wpływu wykorzystującą wzory Gear'a, stosowane do numerycznego całkowania równań rożniczkowych. Do eksperymentalnej weryfikacji tej metody wykorzystano rejestracje zanikow fotoprądu charakterystyczne dla centrum A (kompleksu luka-tlen) występującego w próbkach FZ Si:Sn napromieniowanych neutronami.
3
Dostęp do pełnego tekstu na zewnętrznej witrynie WWW
W pracy zaproponowano zastosowanie procedury korelacyjnej z wieloimpulsowy-mi funkcjami wagowymi do dwuwymiarowej analizy widmowej w metodzie PITS. Wie-loimpulsowe funkcje wagowe, konstruowane na podstawie algorytmu Gavera-Steh-festa, pozwalają na uzyskanie znacznie lepszej rozdzielczości metody PITS w porównaniu z powszechnie stosowaną dwuimpulsową funkcją wagową typu boxcar. Dla termicznej emisji elektronów z pułapek EB7, występujących w półizolujących kryształach GaAs, obliczono powierzchnie widmowe PITS dla trzech rodzajów funkcji wagowych: funkcji dwuimpulsowej (typu boxcar), funkcji czteroimpulsowej (GS4) i funkcji sześcioimpulsowej (GS6). Obliczone powierzchnie widmowe porównano z powierzchniami otrzymanymi dla tych pułapek eksperymentalnie na podstawie zarejestrowanych zaników fotoprądu.
EN
An application of the correlation procedure with multipulse weighting functions to the two-dimensional spectral analysis in photoinduced transient spectroscopy PITS is proposed. Multipulse weighting functions, constructed on the ground of the Gaver-Stehfest algorithm for the Lapace reverse transformation, give the better resolution of the PITS method than the commonly used two-pulse boxcar weighting function. For the electron thermal emission from traps EB7, occurring in semi-insulating (SI) GaAs crystals, the spectral surfaces for the three types of weighting functions: the boxcar function, the four-pulse function (GS4) and the six-pulse function (GS6) were calculated. The calculated spectral surfaces were compared with those obtained from expe-nmental photocurrent transients for traps EB7.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.