PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 6

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  fault dictionary
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Analog Circuit Fault Classification Using Improved One-Against-One Support Vector Machines
Cui J., Wang Y.
Metrology and Measurement Systems
|
2011
|
Vol. 18, nr 4
569-582
EN
This paper presents a novel strategy of fault classification for the analog circuit under test (CUT). The proposed classification strategy is implemented with the one-against-one Support Vector Machines Classifier (SVC), which is improved by employing a fault dictionary to accelerate the testing procedure. In our investigations, the support vectors and other relevant parameters are obtained by training the standard binary support vector machines. In addition, a technique of radial-basis-function (RBF) kernel parameter evaluation and selection is invented. This technique can find a good and proper kernel parameter for the SVC prior to the machine learning. Two typical analog circuits are demonstrated to validate the effectiveness of the proposed method.
2
Content available Zastosowanie liniowych rejestrów pierścieniowych do testowania połączeń w układach FPGA
Hławiczka A., Gucwa K., Garbolino T.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2008
|
R. 54, nr 8
594-597
PL
Praca poświęcona jest dedykowanemu konkretnej aplikacji testowaniu połączeń w układach FPGA. Na czas testowania komórki układu FPGA wchodzące w skład realizowanej aplikacji są przekształcane w elementy układu RL-BIST. Do budowy takiego układu został wybrany pierścieniowy rejestr LFSR, którego n pętli sprzężeń zwrotnych jest w trakcie testowania liniami testowanej magistrali połączeń. Na podstawie sygnatury otrzymanej w układzie RL-BIST stwierdza się czy testowana magistrala połączeń jest sprawna a w oparciu o słownik diagnostyczny można także zlokalizować uszkodzone połączenia oraz zidentyfikować typ uszkodzenia. Skuteczność zaproponowanej metody testowania połączeń w FPGA została poparta obszernymi wynikami eksperymentalnymi.
EN
Due to rapidly growing complexity of FPGA circuits application-dependent techniques of their testing become more and more often exploited for manufacturing test instead of application'independent methods. In such the case not all but only a part of FPGA resources (i.e. CLBs and interconnects) is a subject of testing - the part that is to be used by the concrete target application. The work is devoted to application-dependent testing of interconnects in FPGA circuits. For the test period the CLBs being the parts of the application are reconfigured so they implement elements (i.e. XOR gates and D-type flip-flops) of a RL-BIST structure based on a ring linear feedback shift register (R-LFSR). FPGA interconnections under test (IUTs) or at least their part are feedback lines of the R-LFSR. The R-LFSR is first initialised with a randomly chosen seed and than run for several clock cycles. Next the final state of the R-LFSR - a signature - is red by an ATE (Automatic Test Equipment). The value of the signature determines whether IUTs are fault free or faulty. Moreover, on the basis of the signature and with the use of a fault dictionary one may localise faulty interconnections in the FPGA and identify types of faults. The FPGA is afterwards reconfigured so the other set of IUTs becomes feedback lines of the R-LFSR. The above procedure is repeated until all FPGA interconnections belonging to the target application are tested. Efficacy of the proposed approach to testing of FPGA interconnects is supported by experimental results.
3
Poprawa skuteczności diagnostyki uszkodzeń parametrycznych
Chruszczyk Ł., Rutkowski J.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2008
|
Vol. 49, nr 11
163-166
PL
Opisano projektowanie kształtu specjalizowanego, aperiodycznego pobudzenia. Celem jest zwiększenie skuteczności lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w analogowych układach elektronicznych. Takie uszkodzenia należą do grupy najtrudniej diagnozowalnych. Dalszą poprawę skuteczności diagnostyki uzyskano po zastosowaniu ekstrakcji cech za pomocą transformaty falkowej. Uzyskane wyniki porównano z diagnostyką przeprowadzoną za pomocą najprostszego pobudzenia aperiodycznego - funkcji skoku oraz z diagnostyką bez ekstrakcji cech.
EN
This article presents design of specialised aperiodic excitation. Purpose is improvement of fault diagnosis of analogue electronic circuits. The goal is enhancement of a single parametric (soft) faults location. Such faults are one of the most difficult to diagnose. Further improvement is achieved after utilising wavelet transform as a feature extractor. Obtained results are compared with fault diagnosis by means of the simplest aperiodic function: step function - and with dianosis without feature extraction.
4
Content available remote Multiple soft fault diagnosis of nonlinear circuits using the fault dictionary approach
Hałgas S.
Bulletin of the Polish Academy of Sciences. Technical Sciences
|
2008
|
Vol. 56, nr 1
53-57
EN
The paper deals with a multiple fault diagnosis of DC transistor circuits with limited accessible terminals for measurements. An algorithm for identifying faulty elements and evaluating their parameters is proposed. The method belongs to the category of simulation before test methods. The dictionary is generated on the basis of the families of characteristics expressing voltages at test nodes in terms of circuit parameters. To build the fault dictionary the n-dimensional surfaces are approximated by means of section-wise piecewise-linear functions (SPLF). The faulty parameters are identified using the patterns stored in the fault dictionary, the measured voltages at the test nodes and simple computations. The approach is described in detail for a double and triple fault diagnosis. Two numerical examples illustrate the proposed method.
5
Content available remote A neural network based system for soft fault diagnosis in electronic circuits
Toczek W., Kowalewski M.
Metrology and Measurement Systems
|
2005
|
Vol. 12, nr 4
463-476
EN
The paper considers the architecture and the main steps of development of a neural network based system for diagnosis of soft faults in analog electronic circuits. The definition of faults of interest, selection of an optimal set of measurements, feature extraction, the construction of the artificial neural network, training and testing the network, are considered. A fault dictionary method was implemented in the system. Experimental results are presented on an example of diagnosis of a 6-th order bandpass filter. The measuring part of the system performs input-output measurements in the frequency domain with the aid of a HP 4192 Transmitance Analyzer.
PL
W artykule przedstawiono system do diagnostyki uszkodzeń parametrycznych w układach elektronicznych. W systemie zaimplementowano słownikową metodę lokalizacji uszkodzeń, bazującą na pomiarach w dziedzinie częstotliwości przeprowadzanych za pomocą analizatora transmitancji HP4192A. Rozważono główne etapy projektowania systemu: definiowanie modelu uszkodzeń, wybór optymaInych częstotliwości pomiarowych, ekstrakcję cech diagnostycznych, konstrukcje sieci neuronowej oraz trening i testowanie sieci. Główną cechą prezentowanego podejścia jest zastosowanie słownikowej metody lokalizacji uszkodzeń do uszkodzeń parametrycznych. Rozpatrywane są pojedyncze uszkodzenia parametryczne elementów dyskretnych. Przedstawiono metodę optymalizacji częstotliwości pomiarowych na podstawie analizy wrażliwościowej charakterystyki amplitudowej względem wartości parametrów elementów. Selekcja częstotliwości bazuje na ocenie ekstremaInych wartości charakterystyk wrażliwościowych. Przestrzeń danych pomiarowych zredukowano do czterech wymiarów za pomocą analizy składowych głównych (PCA). Przekształcenie PCA ortogonalizuje elementy oryginaInych wektorów danych, porządkuje według wielkości ich wariancji i eliminuje składowe, które mają najmniejszy wkład w wyjaśnienie zmienności danych. Dane transformowane do przestrzeni o zredukowanej liczbie wymiarów służą jako dane wejściowe dla klasyfikatora. Do klasyfikacji sygnatur zastosowano sieć neuronową typu GRNN z radialnymi funkcjami bazowymi w warstwie ukrytej. Klasteryzację danych przeprowadzono za pomocą algorytmu Fuzzy C-Mean. Centra radiaInych funkcji bazowych warstwy ukrytej nałożono na centroidy poszczególnych klastrów. Zadaniem warstwy wyjściowej jest przyporządkowanie neuronów radiaInych do poszczegóInych klas uszkodzeń. Sieć dokonuje klasyfikacji sygnatury uszkodzenia otrzymywanej z pomiarów poprzez wskazanie najbardziej prawdopodobnego uszkodzenia. Zastosowany typ sieci wytwarza znormalizowane odpowiedzi umożliwiające wyznaczenie poziomu niepewności wyniku diagnozy.
6
Słownikowe metody diagnostyczne analogowych układów elektronicznych
Rutkowski J.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2004
|
Vol. 45, nr 12
33-37
PL
W artykule omówiono podstawy podejścia słownikowego do diagnostyki analogowych układów elektronicznych zwracając szczególną uwagę na zastosowania metod sztucznej inteligencji.
EN
Basic concepts of analog fault diagnosis by means of the Simulation Before Test (SBT) approach, the so called dictionary approach, have been presented. Special attention has been paid to application of artificial intelligence tools, such as: neural networks, fuzzy sets and evolutionary computing.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.