Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Elektryczny tomograf pojemnościowy EVT4

Kryszyn J., Smolik W., Olszewski T., Szabatin R.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2015

|

Vol. 56, nr 7

12-15

PL

Elektryczna tomografia pojemnościowa umożliwia obrazowanie przestrzennego i czasowego rozkładu przenikalności elektrycznej. Podstawowym zastosowaniem tej obrazowej techniki diagnostycznej jest monitorowanie procesów dynamicznych w inżynierii chemicznej i procesowej. Opracowywany przez naszą grupę tomograf EVT4 ma zaspokajać rosnące wymagania użytkowników dotyczące dużej liczby obrazów na sekundę i czułości pomiaru. W artykule ukazano obecny stan prac nad konstrukcją 32 kanałowego tomografu EVT4. Przedstawiono budowę sprzętową tomografu bazującą na układach programowalnych FPGA jak również architekturę wbudowanego oprogramowania sterującego. Modułowy system zarządzany jest przez kartę sterującą wyposażoną w układ FPGA (Xilinx Spartan) i 32 bitowy procesor (ARM CORTEX). Karta sterująca połączona jest z kartami odczytu danych poprzez gigabitowe transmitery wykorzystujące warstwę fizyczną standardu SATA. 8 kart odczytu danych połączonych jest z 8 kartami pomiarowymi. Karty pomiarowe – po 4 kanały na każdej – są podłączone do elektrod sondy pojemnościowej.

EN

Electrical capacitance tomography allows to visualize a spatial and temporal distribution of electric permittivity. This imaging and diagnostic technique has the basic application in monitoring of dynamic processes in the field of process and chemical engineering. EVT4 tomograph developed by our team is aimed to satisfy user’s growing requirements for more images per second and higher measurement sensitivity. The current progress of work on the construction of 32-channel tomograph EVT4 is presented in the article. The hardware design based on FPGA programmable chips as well as architecture of the embedded software are presented. The modular system is managed by the control board which contains the Xilinx Spartan-6 FPGA chip and the 32-bit ARM Cortex-A8 processor. The control board is connected with read-out boards by gigabit transceivers which use SATA physical layer. Eight read-out boards are connected with eight analogue measurements boards. Each measurement board contains 4 channels to connect the board to the tomographic sensor.

2

Software solution used in industrial measurement devices to facilitate meeting the requirements of the EMC directive

Kryca M., Kozłowski A.

Pomiary Automatyka Robotyka

|

2013

|

R. 17, nr 2

542-547

EN

This paper presents an example of a measuring device to be applied in a coal mine, for which special effort was taken at the design stage to fulfill the requirements for electromagnetic compatibility. Software solutions described in the paper are useful during the EMC certification process for the majority of programmable equipment, because slight modifications of the program can compensate imperfections of hardware design and may decide about passing the certification process.

PL

W artykule przedstawiono przykład urządzenia pomiarowego przeznaczonego do stosowania w kopalniach, którego oprogramowanie zostało zaprojektowane tak, aby ułatwić spełnienie wymagań związanych z kompatybilnością elektromagnetyczną. Rozwiązania opisane w niniejszym artykule są przydatne podczas procesu certyfikacji EMC dla większości programowalnych sterowników i pokazują, że niewielkie modyfikacje programu mogą zrekompensować niedoskonałości konstrukcji sprzętu, co może zadecydować o pozytywnym przejściu przez proces certyfikacji.

3

Uwzględnienie wymagań EMC w procesie projektowania oprogramowania wbudowanego na przykładzie przemysłowego analizatora promieniowania gamma

Kryca M., Kozłowski A., Pietrzak R.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2012

|

R. 88, nr 6

234-239

PL

Przedstawiony niżej tekst opisuje jeden z aspektów konstruowania oprogramowania wbudowanego, a mianowicie powiązania oprogramowana z procesem oceny kompatybilności elektromagnetycznej. Badania EMC utożsamiane z oceną części sprzętowej urządzenia są w znaczący sposób uzależnione od zaimplementowanego oprogramowania, co wykazano na podstawie urządzenia stosowanego w pomiarach przemysłowych.

EN

This paper presents one of the aspects of embedded software design process. EMC certification is usually equated with hardware matter of device, but results of this evaluation are strongly interlinked with software. Influences of programming solutions on behavior of industrial measuring device being under EMC tests were described.

4

System design challenge s in the nanoscale era

Glesner M., Murgan T., Hollstein T., Zipf P., Soffke O., Hinkelmann H.

Zeszyty Naukowe Wydziału ETI Politechniki Gdańskiej. Technologie Informacyjne

|

2007

|

T. 12

3-14

EN

Designing a System-on-Chip (SoC) is equivalent to managing the integration of multiple building blocks in a complete system, all on one silicon die. While the steady technological advances offer an enormous potential for growing functionality integration, the design process remains an increasingly challenging task. This paper gives an overview of SoC design methodology and architectures with a strong emphasis on future trends and challenges. These are supported by the description of current SoC integration examples and lead to an outlook regarding challenges for SoC architectures, their design and designers' education.

PL

Projektowanie systemu typu System-on-Chip (SoC) może być przedstawione jako integracja wielu bloków funk-cjonalnych w kompletny system zawarty w jednym układzie scalonym. W sytuacji, gdy stałe postępy technologii oferują niezwykły potencjał wzrostu złożoności integrowanych funkcji, proces projektowania staje się coraz trudniejszym wyzwaniem. Artykuł jest przeglądem metod projektowania i architektur systemów typu SoC z podkreśleniem przyszłych trendów i wyzwań. Dodatkowo przedstawiono opis aktualnych przykładów integracji systemów typu SoC i podano przegląd wyzwań dotyczących architektury tych systemów, ich projektowania oraz edukacji projektantów.