PL
 |
EN
Ograniczanie wyników
Czasopisma help
  1. 6 Przegląd Elektrotechniczny
  2. 3 Archives of Metallurgy and Materials
  3. 2 Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
  4. 2 Pomiary Automatyka Robotyka
  5. 1 Acta Bio-Optica et Informatica Medica. Inżynieria Biomedyczna
Więcej...
Autorzy help
  1. 2 Mąkowski J.
  2. 1 Adamczyk Z.
  3. 1 Bandurski W.
  4. 1 Bieda M.
  5. 1 Breil N.
Więcej...
Lata help
  1. 1 2023
  2. 1 2018
  3. 1 2017
  4. 1 2016
  5. 4 2013
Więcej...
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 26

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 2 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  dyfrakcja
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 2 next fast forward last
1
Content available Sound wave diffraction difference index for noise barrier with added device
Piechowicz Janusz
Vibrations in Physical Systems
|
2023
|
Vol. 34, nr 2
art. no. 2023207
EN
The diffraction phenomenon at the edge of the acoustic screen is of fundamental importance for forming the acoustic shadow area in the space outside the screen. The so-called added devices construction solutions are increasingly used on plane sound barriers, often used as anti-noise solutions on roads and railway lines. Added devices with various geometric shapes; aim to change the diffraction conditions at the noise-reducing devices' top edge. Adrienne method was developed in a European research project, the aim of which was the measurement on site of sound absorption and sound transmission of any road noise barrier. The European Adrienne project has developed a diffraction difference index at the top edge of an acoustic screen and a method for its determination to compare the effectiveness of the screen with and without the added device. The diffraction difference index is a single-number rating of the design solution mentioned. Measurements for index calculations are made by comparing the impulse response of screens with and without the added device using MLS (Maximum Length Sequence) signals.
2
Content available remote Magnetic and magnetotransport properties of nickel-doped manganites
Troyanchuk I., Tereshko N., Bushinsky M., Fedotova V., Świć A., Koltunowicz T. N.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2018
|
R. 94, nr 4
126--129
EN
Structural and magnetization measurements have been performed on the La1-xSrxMn0.5Ni0.5O3 (0 ≤ x ≤ 0.2) with perovskite structure. Structural data testify a partial order of the Ni and Mn ions in all the compounds in spite of chemical substitution of the La3+ ions by Sr2+ ones and an increase of the oxidation state of the Ni ions from 2+ towards to 3+ one. Magnetic structure of the compounds changes from ferromagnetic one to antiferromagnetic (compounds with x ≥ 0.1) while the temperature of a transition into paramagnetic state remains about 270 K for all the samples.
PL
Wykonano strukturalne i magnetyzacyjne pomiary na La1-xSrxMn0.5Ni0.5O3 (0 ≤ x ≤ 0.2) ze strukturą perwoskitu. Dane strukturalne potwierdzają częściowe uporządkowanie jonów Ni i Mn we wszystkich związkach pomimo chemicznej substytucji jonów La3+przez jony Sr2+ oraz zwiększenia stanu utlenienia jonów Ni od 2+ do 3+. Struktura magnetyczna związków zmienia się ze stanu ferromagnetycznego do antyferromagnetycznego (związki o x≥ 0.1), podczas gdy temperatura przejścia w stan paramagnetyczny pozostaje w przybliżeniu stał dla wyrzyskich próbek i wynosi 270 K.
3
Content available remote Determination of the titanium corrosion resistance by nitrogenion implantation for applications in electrical engineering
Praunseis Z.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2017
|
R. 93, nr 6
41--45
EN
Titanium and alloys are often used in modern electrical engineering. The aim of investigation was to optimize the conditions of nitrogenion implantation for commercially pure (CP) titanium and to correlate the implantation parameters with the corrosion resistance. Argon- and oxygenion implantations were carried out to compare the corrosion resistance with nitrogen-ion implantation and to understand whether the increased corrosion associated with the nitrogen-ion implantation is a chemical effect produced by the nitrogen or a microstructure change produced by the ion implantation. A surface analysis using Grazing-Incidence X-ray Diffraction (GIXD) was carried out to further understand the role of nitrogen in the corrosion resistance of titanium in the simulated acid fluid. The results of the present investigation indicated that nitrogen-ion implantation can be used as a viable method for improving the corrosion resistance of titanium.
PL
Tytan I jego stopy są często wykorzystywane w nowoczesnej elektrotechnice. Celem tej pracy jest optymalizacja warunków implantacji jonów azotu na komercyjnie czystym tytanie oraz skorelowanie parametrów implantacji z odpornością na korozję. Przeprowadzono implantacje jonów argonu I tlenu w celu porównania odporności korozyjnej z przypadkiem implantacji jonów azotu i uzyskania zrozumienia czy zwiększenie korozji z implanowanymi jonami azotu wynika z efektu chemicznego azotu czy też ze zmiany mikrostruktury spowodowanej implantacją jonów azotu. Analiza powierzchniowa przeprowadzona metodą GIXD (Grazing-Incidence X-ray Diffraction) pozwoliłą wyjaśnić wpływ azotu w na odporność korozyjną tytanu w symulowanym płynie kwasowym. Wyniki przedstawionych badań pokazują, że implantacja jonów azotu jest użyteczną metodą poprawy odporności korozyjnej tytanu.
4
Content available remote The proposal of the laboratories for calibration of radar level gauges
Mikuś P., Harťanský R., Smieško V.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2016
|
R. 92, nr 2
72--74
EN
This article deals with the problem of the design of the measuring environment for the testing of the devices working on the base of the electromagnetic waves. We mean by these devices the radar level gauges. The radar level gauge is a source of the electromagnetic waves. The input part of this device receives reflected waves from the referential interface (reflection board). In the measuring environment can occur also various steel installations, e.g. constructions which consist of cylindrical steel beams. If the measuring environment contains steel installations, the receiving of the electromagnetic waves can be influenced by high frequency phenomena on the construction. In this article we focus on the proposal of the dimensions of the measuring environment.
PL
Artykuł dotyczy problemu projektowania stanowiska pomiarowego do badania urządzeń wykorzystujących fale elektromagnetyczne. Pod pojęciem tych urządzeń rozumie się radarowe wskaźniki poziomu. Radarowy wskaźnik poziomu jest źródłem fal elektromagnetycznych. Wejściowy element tego urządzenia odbiera fale odbite od płaszczyzny odniesienia. W środowisku pomiarowym mogą występować różne instalacje stalowe, np. elementy konstrukcyjne złożone z cylindrycznych stalowych belek. Jeżeli środowisko pomiarowe zawiera stalowe instalacje, odbiór fal elektromagnetycznych może być zakłócany wskutek zachodzących zjawisk wysokoczęstotliwościowych. W artykule skupiono się na propozycji określenia wymiarów środowiska pomiarowego.
5
Modelowanie i symulacja propagacji fali EM w bezprzewodowych kanałach szerokopasmowych i połączeniach cyfrowych układów VLSI
Górniak P., Wardziński A., Bandurski W.
Przegląd Telekomunikacyjny + Wiadomości Telekomunikacyjne
|
2013
|
nr 2-3
87--90
PL
Omówiono modelowanie i symulację bezprzewodowego kanału szerokopasmowego zawierającego przeszkody wypukłe oraz połączeń w szybkich układach cyfrowych VLSI. Dyfrakcja jako główny czynnik wpływający na zniekształcenia sygnału w kanale szerokopasmowym decydująco wpływa na transmitancję kanału wyrażoną za pomocą funkcji specjalnych. Celem pracy jest aproksymacja transrnutancji funkcją wymierną przy wykorzystaniu algorytmu vector fitting. Wyniki obarczone są bardzo małym błędem, a odpowiedź impulsowa kanału ma własności umożliwiające obliczanie splotu z sygnałem nadawanym. W pracy obliczana jest także przybliżona odpowiedź impulsowa układu bramka-połączenie-bramka z wykorzystaniem przybliżonych parametrów rozproszenia linii transmisyjnej modelującej połączenie. Wynik zapewnia wystarczającą dokładność, a postać matematyczna odpowiedzi impulsowej jest prosta.
EN
In the paper modeling and simulation of the wireless UWB channel containing convex objects and interconnects in VLSI circuit is covered. Diffraction as the main factor influencing distortion in UWB channel has crucial impact on its transfer function, which is expressed by means of special functions. The main goal of the paper is to approximate the transfer function by rational function using "vector fitting" algorithm. The obtained approximated transfer function exhibits small errors and additionally impulse response of the channel has properties permitting for very fast calculation of the convolution of the transmitted signal with impulse response. Moreover in the paper the approximate impulse response of the system gate-interconnect-gate, on the basis of simplified scattering parameters, was calculated. The obtained result provides sufficient accuracy and very simple mathematical form of the impulse response.
6
Content available remote Diffraction of Longitudinal Shear Waves on a Thin Piezoelectric Inclusion of Low Rigidity
Emets V., Rogowski J.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2013
|
R. 89, nr 4
266-268
EN
A thin plane piezoelectric inclusion is located in a uniform background (in two-dimensional Euclidean space) and subjected to an incident plane longitudinal shear wave. Using the representation theorem, the problem is reduced to solving of the singular integral equation. Numerical solution and high frequency asymptotic for far field are presented.
PL
Cienkie płaskie piezoelektryczne włączenie jest umieszczone w jednorodnym ośrodku (w dwuwymiarowej przestrzeni Euklidesowej) i jest poddane działaniu płaskiej fali ścinania. Odpowiednie zagadnienie brzegowe jest sprowadzone do rozwiązywania osobliwego równania całkowego. Przedstawiono numeryczne rozwiązanie zagadnienia w strefie falowej włączenia oraz zaprezentowano odpowiednie asymptotyczne rozwiązanie dla zakresu wysokich częstotliwosci.
7
Content available Określenie zasady pomiaru dla bezdotykowych optycznych pomiarów średnic wałków
Mąkowski J.
Pomiary Automatyka Robotyka
|
2013
|
R. 17, nr 2
86-89
PL
Przedstawione opracowanie pokazuje możliwość zastosowanie zjawiska dyfrakcji w pomiarach realizowanych w warunkach przemysłowych. Oznacza to uwzględnienie wymiaru źródła rozciągłego oraz średnicy wałka jako przeszkody przestrzennej. Rozwiązanie takie pozwala na przyjęcie zjawiska dyfrakcji jako zasady pomiaru w procesie optycznych bezdotykowych pomiarów średnic wałków. Obecnie pokazano tylko możliwość tego zastosowania. Pełne uzasadnienie podane zostanie w następnym artykule po przedstawieniu modyfikacji wzorów dyfrakcyjnych oraz wykresów rozkładu amplitudy fal geometrycznej, krawędziowej i dyfrakcyjnej w funkcji położenia na płaszczyźnie obserwacji.
EN
Presented study shows possibility of applying the phenomenon of diffraction to real conditions. It means taking into consideration the dimension of extensive source as well as the dimension of cylinder as spatial obstacle. This kind of solution enables assuming the phenomenon of diffraction as the principle of measuring in the process of optical touchless measuring of cylinders' diameters. At present the possibility of this application has only been shown. Full justification will be given in the next article after presentation of modifications of diffraction patterns and diagrams of distribution of the amplitude of geometric, edge and diffraction waves in the function of position on the observation plane.
8
Content available Dyfrakcyjna metoda pomiaru średnic wałków
Mąkowski J.
Pomiary Automatyka Robotyka
|
2013
|
R. 17, nr 4
78-82
PL
Znane teorie dyfrakcji uwzględniają punktowe źródło światła i tzw. ostrą krawędź. Potrzeba zastosowania tego zjawiska w procesie pomiarowym spowodowała podjęcie prac nad modyfikacją teorii najbliższej warunkom rzeczywistym. W artykule przedstawiono modyfikację równań dyfrakcyjnych Wojciecha Rubinowicza dla rozciągłego źródła światła i przesłony w postaci walca. Zaprezentowano wyniki cyfrowych symulacji procesu dyfrakcji na wałku z wykorzystaniem wiązki laserowej. Określono zasady pomiarów oraz przedstawiono graficzne efekty symulacji i eksperymentu. Wykazano możliwość pomiarów bez stosowania wzorców, co pozwoli na zmniejszenie ich niepewności.
EN
Commonly known diffraction theories take into account a point light source and the so called, a sharp edge. The need of use of this phenomenon in the measuring process made it necessary to take up works on a modification of the theory closest to real measurement conditions. In the article, modifications of Wojciech Rubinowicz diffraction equations were introduced using an expended light source and a spatial aperture in the form of the cylinder. The results of the digital simulations of the diffraction process on the cylinder using laser beam were shown. The measurement principle and the graphic effects of the simulation process and the experiment were presented. The measurement possibility without the use of standards was demonstrated, what allows to reduce the measurement uncertainty.
9
Content available remote Diffraction of incoherent light for thin, glass fibre diameter characterization
Świrniak G.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2012
|
R. 88, nr 1a
276-280
EN
The aim of this paper is to provide some conceptual basis of a measurement method for non-invasive in situ diameter characterization of a thin, glass fibre. The method involves small-angle scattering of incoherent light. A few selected results achieved with the aid of mathematical models of light scattering indicate that a practical implementation of the method is possible.
PL
W niniejszej pracy przedyskutowano koncepcję metody nieinwazyjnego pomiaru in situ średnicy włókna szklanego, wykorzystującej promieniowanie niespójne jako narzędzie poznawcze. W drodze modelowania matematycznego i symulacji numerycznych zbadano właściwości pola rozproszonego pod małym kątem oraz zaproponowano metodę jednoznacznego rozwiązania problemu odwrotnego w pomiarze średnicy.
10
Content available Badanie odkształceń sieci krystalicznej w implantowanej warstwie epitaksjalnej GaN osadzonej metodą MOCVD na podłożu szafirowym o orientacji [001]
Wójcik M., Gaca J., Wierzbicka E., Turos A., Strupiński W., Caban P., Sathish N., Pągowska K.
Materiały Elektroniczne
|
2011
|
T. 39, nr 4
22-31
PL
W pracy zbadano warstwy epitaksjalne GaN o grubości 1000 nm implantowane jonami Ar++ w zakresie dawek od 7 ⋅ 1013 cm-2 do 1 ⋅ 1015 cm-2. Wyznaczono zakres proporcjonalności pomiędzy dawką a średnią zmianą odległości pomiędzy płaszczyznami równoległymi do powierzchni swobodnej implantowanego kryształu GaN. Wyznaczono korelację pomiędzy wielkością dawki jonów a rozkładem odkształceń sieci krystalicznej występujących w kierunku [001] w warstwie epitaksjalnej. Stwierdzono, że odkształcane są płaszczyzny sieciowe równolegle do interfejsu, a komórka elementarna warstwy implantowanej ulega tetragonalizacji.
EN
In the present work 1000 nm epitaxial GaN layer implanted with Ar++ ions in the dose range from 7 ⋅ 1013 cm-2 to 1 ⋅ 1015 cm-2 was investigated. The range of linearity between dose and the average change of interplanar spacing of planes parallel to the surface of the implanted GaN crystal was determined. It was found a correlation between the distribution of displaced atoms and lattice deformation occurring in the [001] direction in the epitaxial layer. It was also observed the tetragonalization of unit cell due to implantation.
11
Content available Ocena wpływu modyfikacji kształtu krawędzi górnej ekranu akustycznego na rozkład pola akustycznego po stronie odbiorcy
Dulak L, Marchacz M, Nowoświat A, Olechowska M, Żuchowski R
Fizyka Budowli w Teorii i Praktyce
|
2011
|
T. 6, nr 4
15--20
PL
Artykuł przedstawia badania modelowe w komorze bezechowej ekranu akustycznego w skali 1:1 wraz z nakładka krawędziową o pewnym kształcie. Uzyskane wyniki są podstawą do oceny jakościowej i ilościowej zastosowanego rozwiązania w kontekście zmiany pola akustycznego za ekranem po stronie odbiorcy w wyniku zastosowania nakładki krawędziowej.
EN
Article presents model investigations of sound barrier in non-echo chamber in 1:1 scale together with some shape edge cover. Achieved results are a base to qualitatively and quantitatively evaluation of used edge cover design account distribution of sound field behind sound barrier on the receiver side as a results of used edge cover.
12
Content available remote The simple model of diffraction grating
Stelmach Ł., Sawicki D.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2010
|
R. 86, nr 10
250-251
EN
In this paper we present a model of a diffraction grating for use in lighting technology and computer graphics. Although some successful attempts in this field have been made before, we believe that thanks to our approach the presented model is more efficient while still usable for many applications. In spite of its simplicity it's capable of modelling diffraction of colourful light emitted by a source describe by spectral distribution.
PL
W pracy przedstawiono prosty model siatki dyfrakcyjnej opracowany na potrzeby techniki świetlnej i grafiki komputerowej. Znane są próby modelowania falowej natury światła w tych dziedzinach. Pomimo prostoty zastosowanych algorytmów zaproponowane rozwiązanie jest efektywniejsze obliczeniowo nie tracąc przy tym na użyteczności.
13
Modelowanie hałasu drogowego wokół autostrady A2 na odcinku Komorniki – Krzesiny
Orczyk M., Tomaszewski F.
Logistyka
|
2010
|
nr 4
CD-CD
PL
W artykule przedstawiono model prognozowania hałasu wokół autostrady A2 na odcinku Komorniki – Krzesiny. Model opracowano na podstawie rejestracji poziomów dźwięku w trzech etapach badań związanych z fazami eksploatacji autostrady (pomiar tła akustycznego – bez ruchu pojazdów, pomiary po oddaniu odcinka Komorniki – Krzesiny do eksploatacji oraz pomiary hałasu po uruchomieniu nowego odcinka autostrady Nowy Tomyśl – Konin). Opracowany model został zweryfikowany w oparciu o rzeczywistą liczbę pojazdów, które przejechały przez odcinek Komorniki – Krzesiny w losowo wybranym dniu i godzinie.
EN
This article presents a model of forecasting noise at Motorway A2 on section Komorniki – Krzesiny. This model was worked out on the basis of registration of sound levels in three stages of research connected with phases of using the motorway (measurement of acoustic background without traffic, measurement after opening section Komorniki – Krzesiny and measurement after opening section Nowy Tomyśl – Konin). The worked out model was verified on the basis of actual number of vehicles, which passed by on section Komorniki – Krzesiny on a random day and at random hour.
14
Skutki błędów w projektowaniu i montażu ekranów akustycznych
Wszołek T.
Drogi : lądowe, powietrzne, wodne
|
2010
|
[nr] 7-8 (27)
24-35
PL
Ekrany instalowane są głównie w celu ograniczenia propagacji hałasu drogowego na tereny zamieszkałe. Aby były skuteczne, podczas ich projektowania i montażu należy wziąć pod uwagę szereg zjawisk akustycznych, z których najważniejsze jest zjawisko dyfrakcji.
EN
The paper refers to the issue of mistakes made during designing and realisation of noise barriers that influence their efficiency. The author describes important factors that have to be taken into consideration when designing and installing a noise barrier.
15
Content available remote The attempt at evaluation of the ADI microstructure with the use of the image analysis
Giętka T., Dymski S.
Archives of Foundry Engineering
|
2010
|
Vol. 10, iss. 2
57--62
EN
In this work the attempt at quantitative evaluation of the microstructure of ADI cast iron matrix has been made. The automatic analysis of the image of the microstructure of austempered spheroidal cast iron has been used for the evaluation. The treatment variant was a two-phase austenitization. First phase was carried out at a temperature ty = 950°C and after cooling to a temperature ty = 900°C. The isothermal process was carried out at a temperature tpi = 300 and 400°C for 8÷64 min. Ordinary cast iron was austempered. After it the microstructure images were recorded and subjected to automatic image analysis with the use of the NIS ELEMENTS 3,0 AR software.
16
Wyznaczanie strat propagacji w obszarach zurbanizowanych
Wnuk M.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2009
|
Vol. 50, nr 5
10-15
PL
W artykule przedstawiono zmodyfikowaną metodę UTD wyznaczania strat propagacji w obszarze wielkomiejskim. Modyfikacja metody polegała na wykorzystaniu modelu fizycznej geometrii propagacji fal i zastosowaniu wzorów występujących w metodzie UTD dla współczynników odbić i dyfrakcji fali na narożach. Obliczanie pola wypadkowego dokonuje się metodą superpozycji. W wyniku przeprowadzonej analizy zaproponowano algorytm obliczeń i przedstawiono przykładowe obliczenia.
EN
In the article the modified method UTD of determination the propagation losses in the area of urban was presented. The modification of this method consisted in the utilization of the model based on the physical geometry of the propagation of waves and to the use of equations appearing in the method UTD for coefficients of reflection and diffraction of waves at corners. The calculation of the resultant field was realised with the method of the superposition. Based on the derived analysis the computing algorithm and exampled calculations was presented.
17
Content available remote Optyczne techniki identyfikacji bakterii chorobotwórczych
Buzalewicz I., Podbielska H.
Acta Bio-Optica et Informatica Medica. Inżynieria Biomedyczna
|
2008
|
Vol. 14, nr 2
181-188
PL
Problem szybkiej detekcji i identyfikacji bakterii jest jednym z najważniejszych zagadnień związanych z zachowaniem zasad higieny, ochrony zdrowia i żywności. W artykule omówione zostały podstawowe problemy metrologii po­miarowej związanej z identyfikacją i charakteryzacją bakterii. Przedstawiono przegląd głównych technik rozpoznawania patogenów, z szczególnym uwzględnieniem metod optycznych, zapewniających bezkontaktowy, małoinwazyj-ny charakter pomiaru. Opisano wybrane techniki fluorescencyjne oraz analizy światła rozproszonego na bakteriach i koloniach bakterii.
EN
Problem of efficent bacteria detection and identification is important in life science medicine, health and food protection. This paper presents some problems of bacteria detection metrology, related to bacteria identification and characterization. Methods of bacteria identification, especially based on noncontact and noninvasive optical techniques, are described. Fluorescence measurements techniques and analysis of light scattering on bacteria cells and bacteria colonies are presented.
18
Content available remote Zastosowanie nieniszczących metod dyfrakcyjnych do jakościowej oceny warstw wierzchnich (WW)
Skrzypek S. J., Zębala W.
Archiwum Odlewnictwa
|
2006
|
R. 6, nr 21/1
427-434
PL
Typowa mechaniczna obróbka powierzchniowa np. toczenie, frezowanie, szlifowanie oraz polerowanie i nagniatanie wywołują szereg zjawisk i zmian w warstwie powierzchniowej, które w decydujący sposób określają jakość zarówno zastosowanej obróbki jak i jakość wytwarzanych warstw wierzchnich i fizycznej powierzchni. Zastosowane obróbki w różnym stopniu zwiżane są z deformacją plastyczną i sprężysto-plastyczną warstw powierzchniowych. Strukturalne efekty tych deformacji można określać przy zastosowaniu metod dyfrakcji promieniowania X. Zastosowanie dyfrakcji w geometrii stałego kąta padania umożliwia taką charakterystykę wzdłuż głębokości pod powierzchnią w nieniszczący sposób. Skład fazowy, mikrostrukturę i makroskopowe naprężenia własne wykorzystano do interpretacji zachodzących zjawisk podczas formowania warstw powierzchniowych.
EN
It was found that applying surface mechanical treatments like milling caused large tensile residual stresses, phase transformation of austenite, and plastic deformation zone in thin surface layer. This plastic deformed zone grains were specific oriented in term of crystallography (textured). Structural characterizations were introduced using non-destructive x-ray diffraction methods. Application of grazing angle x-ray diffraction geometry for understanding phenomena in surface layers during mechanical treatments is more advantage.
19
Content available remote TEM study of iridium silicide contact layers for low Schottky barrier MOSFETs
Łaszcz A., Czerwiński A., Ratajczak J., Kątcki J., Breil N., Larrieu G., Dubois E.
Archives of Metallurgy and Materials
|
2006
|
Vol. 51, iss. 4
551-554
EN
An influence of annealing temperatures (300, 400 and 500°C) on the iridium silicide formation in the Ir/Si structure was analysed by means of the transmission electron microscopy (TEM). The silicide layer is formed by the solid-state reaction between 15 nm thick Ir metallisation and a Si layer during the rapid-thermal-annealing (RTA) process for 120 s. The silicide layers are used as source/drain contacts for a novel technology of low Schottky barrier MOSFETs on SOI. For this reason the high quality of the silicide/Si interface and the silicide structure are essential for the electrical properties of the device. The studies enabled the determination of the silicide layer thickness, the layer morphology, and the silicide/Si interface roughness as well as the identification of the silicide phase. Annealing of the Ir/Si structure at 300 and 400°C caused formation of an amorphous iridium silicide layer between the iridium layer and the silicon substrate. At the highest annealing temperature (500°C) the whole Ir layer completely reacted with Si, forming a crystalline iridium silicide layer. A diffraction analysis showed that the silicide layer consists of the dominant IrSi orthorhombic phase and another silicide phase with higher content of silicon (IrSix). The IrSix is placed between IrSi and Si. It indicates that during solid-state reaction at 500°C the Si diffusion is predominant.
PL
Wpływ różnych temperatur wygrzewania (300, 400 i 500°C) na proces tworzenia się krzemku irydu w strukturze Ir/Si był badany za pomocą transmisyjnej mikroskopii elektronowej (TEM). Warstwa krzemkowa tworzy się podczas wygrzewania przez 120 s metoda RTA 15 nm warstwy irydu osadzonej na podłożu krzemowym. Tak wytworzone warstwy krzemkowe stosowane są jako źródło/dren kontakty w nowoczesnej technologii tranzystorów typu MOSFET na podłożach SOI. Uzyskanie najlepszych parametrów elektrycznych tranzystorów zależy od struktury krzemku jak i bardzo gładkiej granicy fazowej krzemek/Si. Badania przy użyciu TEM polegają na określeniu grubości i morfologii warstw krzemkowych, gładkości granicy fazowej krzemek/Si, jak również ustaleniu rodzaju struktury krystalicznej tworzącego się krzemku irydu. Wygrzewanie struktury w temperaturze 300 i 400°C powoduje tworzenie się amorficznej warstwy krzemku irydu pomiędzy warstwą irydu a podłożem krzemowym. W najwyższej temperaturze wygrzewania (500°C) cała warstwa irydu reaguje z krzemem, tworząc krystaliczną warstwę krzemku irydu. Analiza dyfrakcyjna wykazała, że warstwa krzemkowa składa się z dominujacej fazy IrSi o budowie rombowej oraz innej fazy krzemku irydu zawierającej więcej krzemu (IrSix) i położonej pomiędzy faza IrSi a podłożem krzemowym. Wynik ten wskazuje, że podczas reakcji w 500°C dyfuzja Si jest dominująca.
20
Content available remote On Algorithms for Indexing of K-line Diffraction Patterns
Morawiec A., Bieda M.
Archives of Metallurgy and Materials
|
2005
|
Vol. 50, iss. 1
47-56
EN
Thanks to the progress in computer control of electron microscopes and in microscope cameras there is a strong trend towards automatic analysis of electron diraction patterns. Such analysis allowed for creation of fully automatic orientation imaging — an important technique of investigation of polycrystalline materials. Two essential parts of the analysis are the indexing of the patterns and the determination of orientations. We are particularly concerned with systems using transmission electron microscopy (TEM) and Kikuchi patterns; with small solid angle covered by these patterns, indexing is a challenging problem. The indexing procedures are expected to be fast and reliable even in the presence of experimental errors in geometric parameters of the patterns. The first step towards optimal indexing is to formalize the problem. It is shown that indexing can be reduced to matching two sets of points: “Two point sets G and H are given. Determine a rotation carrying the largest subset of G to a position approximating a subset of H”. Some new algorithms solving this problem are proposed. They are based on the generalized Hough transform with the rotation space as the parameter space. In the simplest case, a pair of points - one point from each set — contributes to rotations along a curve in the rotation space. After contributions are made by all pairs, the cell in the rotation space which received the largest number of contributions is considered to represent the orientation of the crystallite. Once the orientation is known, one can easily assign Miller indices to reflections.
PL
Dzięki postępowi w komputerowym sterowaniu mikroskopami elektronowymi i unowocześnieniu kamer do tych mikroskopów istnieje silna tendencja do rozwijania automatycznej analizy elektronowych obrazów dyfrakcyjnych. Taka analiza pozwala na tworzenie w pełni automatycznych map orientacji — ważnej techniki badania materiałów polikrystalicznych. Dwiema istotnymi kwestiami w tej analizie jest indeksowanie obrazów dyfrakcyjnych i wyznaczanie orientacji. Szczególnym wyzwaniem jest indeksowanie obrazów dyfrakcyjnych Kikuchi’ego powstałych w transmisyjnym mikroskopie elektronowym. Procedury indeksujące powinny być szybkie i skuteczne nawet w przypadku błędów eksperymentalnych wpływających na parametry geometryczne tych obrazów. Formalne ujęcie problemu jest pierwszym krokiem do zoptymalizowania procedur indeksujących. Pokazano, że problem może zostać sprowadzony do porównania dwóch zbiorów punktów: „Dane sa dwa zbiory GiH. Zadaniem jest wyznaczenie obrotu, który przekształca najwiekszy podzbiór zbioru G w podzbiór zbioru H z pewnym błedem aproksymacji”. Zaproponowano nowe algorytmy rozwiązujące ten problem. Bazują one na uogólnionej transformacie Hougha z przestrzenią obrotów jako przestrzenia parametrów. W najprostszym przpadku, para punktów — po jednym z każdego zbioru — głosuje na obroty położone wzdłuż krzywej w przestrzeni obrotów. Po tym jak każda para „oddała” swój głos, przyjmuje sie, ze komórka w przestrzeni obrotów, która uzyskała najwiekszą liczbę głosów reprezentuje orientacje krystalitu. Jeżeli znana jest orientacja łatwo można przyporządkować refleksom indeksy Millera .
first rewind previous Strona / 2 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.