Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  displacement current
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
PL
Przedstawiono problemy interpretacyjne spotykane w publikacjach dotyczących numerycznego modelowania procesu nagrzewania się tkanek poddanych ekspozycji w polu elektromagnetycznym. Wskazano na przyczyny fizyczne strat cieplnych. Zaproponowano modyfikację terminologii dotyczącą konduktywności elektrycznej.
EN
This paper presents interpretation issues found in publications concerning the numerical modelling of heating process of tissues exposed to the electromagnetic field. Physical causes of thermal losses are pointed out. A modification of the terminology regarding the electrical conductivity is proposed.
EN
An influence of the selected physical phenomena: impact ionization in silicon and time variation of internal electric field distribution in partially-depleted (PD) SOI MOSFETs on several C-V characteristics of these devices is presented. The role of avalanche multiplication in the so-called "pinch-off" region is discussed in a more detailed way. The analysis is done using a numerical solver of drift-diffusion equations in silicon devices and using an analytical model of the PD SOI MOSFETs. The calculations results exhibit the significance of proper modelling of the phenomena in the floating body area of these devices.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.