Artykuł stanowi kontynuację cyklu publikacji o krajowym Zintegrowanym Modelu Ruchu (ZMR) i przedstawia najważniejsze zmiany, jakie wprowadzono do najnowszej wersji modelu, tj. ZMR3.0. Potrzeba aktualizacji narzędzia wynika z faktu, że model ruchu pełni przede wszystkim funkcję użytkową i jest narzędziem pracy dla planistów oraz analityków.
Artykuł stanowi kontynuację cyklu publikacji o krajowym zintegrowanym modelu ruchu (ZMR) i przedstawia założenia przyjęte do stworzenia modeli prognostycznych oraz przykładowe wyniki prognoz. ZMR to narzędzie służące głównie do aktualizacji krajowych strategii oraz oceny planów inwestycyjnych i zmian w infrastrukturze transportowej. Zgodnie z prawidłami modelowania w pierwszej kolejności odwzorowano stan obecny (model ZMR na rok 2019), a następnie określono szereg zmiennych prognozowanych, tzw. zmiennych objaśniających na zdefi niowane horyzonty czasowe, co ostatecznie umożliwiło badanie wpływu nie tylko zmian wynikających z wybranych scenariuszy rozwoju infrastruktury, ale również zmian socjodemograficznych.
The aim of this work was to study the possibilities of developing mechanical sensors with poly-Si piezoresistors on insulating substrate for operation in different temperature ranges (low, elevated and high temperatures). Laser recrystallization is used as a technological tool to adjust the electrical and piezoresistive parameters of the polysilicon layer. For this purpose a set of studies including numerical simulation and experimental work has been carried out. The main three directions of the studies are considered: problems of thermal stabilization of the pressure sensor performance at elevated and high temperatures; problem of sensor operation at cryogenic temperatures; development of a multifunctional pressure-temperature sensor.
The paper reviews the problems related to BOX high-temperature instability in SOI structures and MOSFETs. The methods of bias-temperature research applied to SOI structures and SOI MOSFETs are analysed and the results of combined electrical studies of ZMR, and SIMOX SOI structures are presented. The studies are focused mainly on electrical discharging processes in the BOX at high temperature and its link with new instability phenomena such as high-temperature kink effects in SOI MOSFETs.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.