Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: SOI CMOS technology

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

TSSOI as an efficient tool for diagnostics of SOI technology in Institute of Electron Technology

Barański M., Domański K., Grabiec P., Grodner M., Jaroszewicz B., Kociubiński A., Kucewicz W., Kucharski K., Marczewski J., Niemiec H., Sapor M., Tomaszewski D.

Journal of Telecommunications and Information Technology

2005

nr 1

85-93

This paper reports a test structure for characterization of a new technology combining a standard CMOS process with pixel detector manufacturing technique. These processes are combined on a single thick-_lm SOI wafer. Preliminary results of the measurements performed on both MOS SOI transistors and dedicated SOI test structures are described in detail.