Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: JTAG interface

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Fault injection in embedded systems using GNU Debugger

Mosdorf M., Sosnowski J.

Pomiary Automatyka Kontrola

2011

R. 57, nr 8

825-827

The paper presents the technique of simulating faults in embedded systems. It consists of PC software that performs fault injection through the JTAG interface controlled by GNU Debugger (GDB) server for a chosen platform. This approach can be easily adopted to various platforms due to a wide support of GDB project for many architectures. The experimental results for ARM architecture show high controllability of the fault injection process and measured time overhead in the implemented injector.

Praca przedstawia technikę symulacji błędów dla systemów wbudowanych wykorzystującą interfejs JTAG sterowany za pomocą oprogramowania "GNU Debugger" przygotowanego dla danej platformy mikro-procesorowej. Opracowana architektura symulatora błędów została przedstawiona na rys. 1. Zaprezentowane rozwiązanie umożliwia symulację błędów typu bit-flip oraz błędów trwałych za pomocą mechanizmów breakpoint oraz watchpoint. Obserwacja wyników symulacji została zrealizowana za pomocą programowego mechanizmu breakpoint. W ramach pracy zweryfikowano koncepcję dla współczesnych mikroprocesorów z rdzeniem ARM7TDMI oraz zaprezentowano rezultaty symulacji błędów dla wybranych obszarów pamięci SRAM oraz rejestru PC procesora. Podejście to może być łatwo dostosowane do różnych platform systemów wbudowanych wspieranych przez projekt GDB. Przeprowadzone eksperymenty symulacyjne potwierdziły ich dużą sterowalność. W pracy przedyskutowano również efektywność opracowanej metody symulacji błędów oraz przedstawiono wyniki pomiarów opóźnień związanych z symulacją błędów oraz obserwacją wykonywania programu wynoszące odpowiednio 52ms i 42ms.

Wykorzystanie interfejsu JTAG do diagnostyki wielomodułowych systemów elektronicznych

Poźniak K., Romaniuk R., Rutkowski P.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

2003

Vol. 44, nr 4

25-34

Współczesne systemy elektroniczne charakteryzują się bardzo wysokim stopniem skomplikowania. Ma to bezpośrednie przełożenie na coraz wyższe wymagania odnoszące się zarówno do ich funkcjonalności, jak i implementacji procesów testowania oraz diagnostyki. W artykule przestawiono autorski system oparty na interfejsie JTAG, którego zadaniem jest kompleksowe testowanie poprawności wykonania płyt drukowanych. Ważną cechą systemu jest możliwość testowania złożonych bloków elektronicznych, w tym składających się z wielu modułów. System został zrealizowany w formie otwartej architektury umożliwiającej jego dalszą rozbudowę. Praca zawiera także omówienie podstawowych (w tym autorskich) algorytmów testowania, ich optymalizacji, z uwzględnieniem stosowania układów programo-walnych FPGA i magistral. Zamieszczono również przykład działania systemu zastosowanego do testów wielomodutowej płyty Trygera Mionowego RPC dla eksperymentu wysokich energii CMS przy akceleratorze LHC, CERN Genewa, opartej na układach programowalnych FPGA firmy Altera.

Modern electronic systems are extremely complicated. It nas an intense impact on growing demands in a field of electronic functionality and testing procedures implementation as well. This paper presents a self-made testing system based on JTAG interface. The aim of this system is to perform complete error-free verification of the Printed Circuit Boards. Important feature of this system is the possibility to test composite electronic boxes, including multimodule/multiboard systems. Open architecture, which makes any further upgrades easy to introduce, is another valuable characteristic. Article also covers subject area related to essential and selfmade testing algorithms and their optimization in a direction of handling PLD FPGA devices and data buses. The results of tests performed on the real multimodule trigger PCBs based on Altera FPGAs in CMS High Energy Experiment (LHC accelerator, Geneva) are also included.