Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: DLC film

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Analysis of AE-signal generated during friction test of DLC-layers

Piątkowska A., Piątkowski T.

Diagnostyka

2009

nr 2(50)

79-85

In the present work the results of tribological and simultaneous AE measurements of the DLC layers deposited on Si substrate are presented. The layers studied were 18nm, 200nm and 650nm thick. The best properties were obtained for the films with thickness of 18nm and 650nm. The value of average friction coefficient was stable and equal to 0,1 and no wear was observed. The 200nm layer had a very low adhesion to the substrate. Intense acoustic emission signals accompanied the friction.

W pracy przedstawione zostały wyniki badań tribologicznych i równoczesnych pomiarów emisji akustycznej na warstwach DLC na podłożu Si. Badano warstwy o grubościach: 18nm, 200nm i 650nm. Najlepszymi właściwościami charakteryzowały się warstwy 18nm oraz 650nm. Współczynnik tarcia był stabilny i wynosił 0,1 a warstwy nie uległy uszkodzeniom. Bardzo słabą adhezją do podłoża odznaczała się warstwa o grubości 200nm. Tarciu towarzyszyła intensywna emisja sygnałów akustycznych.

Silicon solar cells with antireflecting and protective coatings based on diamond-like carbon and silicon carbide films

KLyui N. I., Litovchenko V. G., Kostylyov V. P., Rozhin A. G., Gorbulik V. I., Voronkin M. A., Zaika N. I.

Opto-Electronics Review

2000

Vol. 8, No. 4

406-409

Deposition of single or two-layer diamond like carbon (DLC) antireflecting coatind enables the solar cell (SC) efficiency to be improved 1.35 - 1.45 time. It is interesting to note that the SC efficiency improvement after DLC films deposition is connected not only with the antireflecting effect. The DCL films deposition also results in short circuit current (Jsc) increasing but enhancement of open circuit voltage (Voc) and fill factor (FF) as well. The latter is likely caused by passivation of recombination active centers on the SC surface during DLC film deposition and, possibly, by gettering of the defect and impurities from the SC volume. The improvement in SC' efficiency was also observed for SC covered by thin (50-100 nm) antireflecting SiC coatings.