Wyniki wyszukiwania - BazTech

1

Multidimensional search space in testing and diagnosis of analogue electronic circuits

Kyzioł P., Grzechca D., Rutkowski J.

Przegląd Elektrotechniczny

|

2010

|

R. 86, nr 11a

251-255

EN

In this paper a new testing method of an analogue electronic circuits is presented. The method is based on the idea of using multidimensional search space in order to increase testability and observability of the circuit under test (CUT). Heuristic algorithm particle swarm optimization (PSO) has been applied for continuous optimization problem. Practical example is considered and results shows that using more than one dimension during test of CUT can significantly improve number of unequivocally located states of CUT.

PL

W tym artykule nowa metoda testowania analogowych układów elektronicznych została zaprezentowana. Metoda testowania wykorzystuje wielowymiarową przestrzeń poszukiwań. Zaprezentowane rezultaty badań wyraźnie pokazują, że użycie więcej niż jednego wymiaru podczas testowania układu elektronicznego pozwala na zwiększenie liczby jednoznacznie lokalizowanych stanów testowanego układu.

2

Wykorzystanie algorytmu PSO w diagnostyce analogowych układów elektronicznych

Kyzioł P., Rutkowski J., Grzechca D.

Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania

|

2009

|

Vol. 50, nr 10

57-59

PL

W artykule opisana jest technika diagnostyki elektronicznych układów analogowych z wykorzystaniem algorytmu Particle Swarm Optimization (PSO). Zaproponowana metoda wykorzystuje wielowymiarową przestrzeń poszukiwań. Zazwyczaj jednowymiarowa przestrzeń poszukiwań jest wykorzystywana (wymiarem jest częstotliwość generatora). Zwiększenie liczby wymiarów przestrzeni poszukiwań można uzyskać poprzez dołączenie do układu dodatkowych elementów (każdy dołączony element stanowi dodatkowy wymiar). Otrzymane rezultaty badań pozwalają stwierdzić iż takie podejście pozwala w znaczny sposób zwiększyć liczbę jednoznacznie lokalizowanych stanów układu testowanego.

EN

The method of analog circuit diagnosis using Particle Swarm Optimization algorithm is proposed in this paper. The object of investigation is how increasing number of dimension of search space (in analog circuit diagnosis) can influence on identification of states of circuit under test (CUT), Circuit Under Test with single parametric faults has been simulated. Simulation results for different number of search space dimenensions has been presented.

3

Generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych

Rudnicki T.

Pomiary Automatyka Kontrola

|

2007

|

R. 53, nr 7

95-97

PL

Rejestr MISR pobudzany słowami odczytywanymi z pamięci ROM jest jednym z ostatnio oferowanych rozwiązań problemu generacji par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych. W niniejszej pracy przedstawiono koncepcję zmniejszania liczby słów programujących oraz takiej modyfikacji grafu pracy ww. generatora par testowych, która pozwala na uzyskanie akceptowalnego czasu testowania przy stosunkowo wysokim współczynniku pokrycia uszkodzeń opóźnieniowych. W pracy przedstawiono rezultaty eksperymentów, w których wygenerowano opracowaną metodą pary testów dla benchmarków ISCAS'89.

EN

One of the recently proposed solutions to the problem generation of test pairs' patterns to target delay faults is a Multiple Input Signature Register (MISR). The paper proposes a method to minimize control words and to modify the operation diagram of the Test Pattern Generator (TPG) aiming at achieving acceptable test times while ensuring a very high coverage of delay faults. Experimental results are presented, in which the method of test pairs for benchmarks of the ISCAS'89 has been employed. These results confirm a high effectiveness of this method compared to other solutions.