Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

2 1998

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Application of principial component and factor analyses in electron spectroscopy

Siuda R., Balcerowska G.

Electron Technology

1998

Vol. 31, No. 3/4

487-494

Fundamentials of two methods, taken from multivariate analysis and known as principial component analysis (PCA) and factor analysis (FA), are presented. Both methods are well known in chemometrics. Since 1979, when application of the methods to electron spectroscopy was reported for the first time, they became to be more and more popular in different branches of electron spectroscopy. The paper presents exsamples of standard applications of the methods in Auger electron spectroscopy (AES), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), and electron energy loss spectroscopy (EELS). Advantages one can take from application of the methods, their potentialities as well as thier limitationa are pointed out.

Adjustment of the set of imperfect data to principal component and factor analyses. The case of Auger spectra

Siuda R., Balcerowska G., Chojnacki S., Aberdam D., Rozwadowski M.

Chemia Analityczna

1998

Vol. 43, No. 6

975-985

Any set of digitised signals, coming from an instrument that reveals untraceable scale of the quantity used far displaying of the signal records, can be analysed with neither principal component analysis (PCA) nor factor analysis (FA). The paper presents a method for numerical treatment of directly measured signals. The method allows to improve the structure of the data set so that they fit the requirements of PCA and FA. Both instrumental imperfections and the proposed treatment of directly measured signals are illustratad with a set of Auger spectra recorded during cleaning of a contaminated Ag (110) surface with Ar ions.

Rejestrowane w postaci cyfrowej sygnały (np. widma) nie mogą być analizowane za pomocą metod analizy głównych składowych (principal component analysis - PCA) i/lub analizy czynnikowej (factor analysis - FA) jeśli przyrząd (np. spektrometr) wykazuje niestabilność skalistej wielkości, w funkcji której sygnał jest mierzony (np.osi energii, długości fali itp.). W pracy przedstawiono procedurę numerycznej obróbki sygnałów pochodzących bezpośrednio z pomiarów, po zastosowaniu której zestaw sygnałów (widm) może być analizowany za pomocą obu wymienionych metod. Zarówno problemy związane z niedoskonałością przyrządu (spektrometru) jak i opracowaną procedurę omówiono na przykładzie serü widm Augera zarejestrowanych podczas czyszczenia wiązką jonów Ar powierzchni Ag ( 110).