PL
 |
EN
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 5

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available remote X-ray, AFM, UV-VIS-IR analysis of a-Si:H/.mu.c-Si:H supperlattice structure
Kołodziej A., Baranowski W., Kusior E., Kanak J.
Optica Applicata
|
2011
|
Vol. 41, nr 2
449--454
EN
The use of the cyclic method of the deposition of multilayer amorphous and microcrystalline silicon films, based on the knowledge of a phase transient algorithm for silicon in low temperature conditions (below 250 °C), can give a possibility of creating silicon quantum dot structures. The thickness, crystallographic structure, optical gap as well as film and interface roughnesses of the amorphous Si:H and ?c-Si:H dot layer on glass and multicrystalline substrate were systematically studied by atomic force microscopy (AFM), small angle X-ray and UV-VIS-IR technique. It was developed on the base of these measurements that there is the phase transition from amorphous a-Si:H to multinanocrystalline Si structure with 4-15 nm crystallites.
2
Content available remote The influence of surface texture and temperature deposition of TiO2 layer on crystalline silicon solar cells parameters
Panek P., Drabczyk K., Czternastek H., Kusior E., Zięba P., Bełtowska-Lehman E.
Archives of Metallurgy and Materials
|
2008
|
Vol. 53, iss. 1
103-106
EN
In the present work, the investigation of the titanium dioxide (TiO2) thin layer as an antireflection coating for silicon solar cells are presented. The TiO 2 layers were obtained by the chemical vapour deposition method using tetracthylorthotitanat (C2H5 O)Ti at temperatures of the silicon wafers in the range from 150°C to 400°C. It has been established that all of the obtained TiO 2 layers contain anatase phase embedded in the amorphous background. A progress of the crystallization process with the increasing temperature of the substrate during the deposition has been observed. The change in opto-electronic parameters of silicon solar cells as a function of the deposition temperature of the antireflection coating has been discussed, taking into account the evolution of the crystallographic structure.
PL
Praca przedstawia wyniki badań poświęconych zastosowaniu cienkich warstw TiO2 jako powłok antyrefleksyjnych dla krzemowych ogniw słonecznych. Warstwy TiO2 wytwarzano metodą chemicznego osadzania z fazy gazowej (CVD) ze irOdla ortotytanianutetraetylu (C 2H5 O)Ti w zakresie temperatur płytek krzemowych od 150°C do 400°C. Stwierdzono, że wszystkie otrzymane warstwy TiO2 charakteryzowały się amorficzną strukturą z wbudowaną fazą anatazu. Zaobserwowano zwiększenie udziału fazy krystalicznej ze wzrostem temperatury krzemowego podłoża. Określono i przedyskutowano zmiany wartości parametrów opto-elektronicznych krzemowych ogniw słonecznych w funkcji temperatury osadzania warstw antyrefleksyjnych Ti02.
3
Content available remote Optical properties of AlN thin films obtained by reactive magnetron sputtering
Brudnik A., Czapla A., Kusior E.
Optica Applicata
|
2002
|
Vol. 32, nr 3
327-331
EN
Aluminium nitride films were deposited by reactive magnetron sputtering in an argon-nitrogen atmosphere. The process was controlled by the optical emission spectroscopy using the intensity of an aluminium emission line as an input signal for a nitrogen flow controller. The influence of the substrate temperature and the target sputtering rate on the structure and optical properties of AlN films were investigated.
4
Pomiary makronaprężeń własnych (NW) przy użyciu dyfrakcji promieni X przy stałym kącie padania - metoda g-sin2&psi
Skrzypek S. J., Baczmański A., Kusior E.
Zeszyty Naukowe Politechniki Świętokrzyskiej. Mechanika
|
2000
|
Z. 72
463-469
PL
W prezentowanym artykule opisano wyniki pomiaru mikronaprężeń własnych nakładanych warstw TiN na podłoże ze spiekanej stali szybkotnącej. Ponieważ konwencjonalna metoda sin2psi dawała wyniki trudne do interpretacji, zastosowano zmodyfikowaną metodę "g-sin2psi" opartą na dyfrakcji w geometrii stałego kąta padania. Problemy interpretacyjne wyników klasycznej metody "sin2psi" związane były z anizotropią teksturową z gradientem makronaprężeń własnych i zmienną efektywną głębokością wnikania promieni X w czasie odpowiednich zapisów dyfraktometrycznych. Zastosowanie nowej zmodyfikowanej metody "g-sin2psi" dało możliwość pomiaru w warstwach o żądanej grubości.
EN
The residual macro-stresses plays a key role in materials by its superposition, by stress induced phenomena and its constribution in surface tension and surface energy and by influence on final properties of coatings. The results of residual stresses in TiN, coatings deposited on sintered WC carbide are presented. New methodical approach in measurements using new geometry of diffraction i.e. grazing angle scattering was applied. This new geometry and new methodological approach i.e. "g-sin2psi" method is very promising in surface examinations because of almost constant depth of X-ray penetration. Measured residual macro-stresses indicate on importance of anistropy, and stress gradients, which should be taken into account in interpretation of the experimental results. Measurements were carrying out with D8-Advance diffractometer.
5
Content available remote Opracowanie i wdrożenie nowej nieniszczącej metody pomiaru naprężeń własnych oparatej na geometrii dyfrakcji promieniowania X przy stałym kącie padania
Skrzypek S. J., Baczmański A., Kusior E.
Problemy Eksploatacji
|
2000
|
nr 2
313-333
PL
Naprężenia własne mają istotne znaczenie w inżynierii materiałów, gdyż poprzez superpozycję z innymi naprężeniami, przez wiele zjawisk strukturalnych indukowanych NW w istotny sposób wpływają na ostateczne właściwości materiałów. Również w nakładanych warstwach powierzchniowych np. TiN, NW znacząco wpływają na ich właściwości użytkowe np. na adhezyjną przyczepność do podłoża oraz na odporność na zarysowanie. W pomiarach NW występuje wiele problemów związanych z metodologią. Metody oparte są na zależności różnych właściwości od naprężeń i dodatkowo mają różny zasięg pomiarowy, tzn. różną powierzchnię pomiaru i efektywną głębokość pomiaru. To utrudnia porównywanie wyników i ich interpretację. Ważna grupa metod oparta jest na dyfrakcji promieni X i neutronów, a wśród nich rozpowszechniona metoda "sin2[psi]". W prezentowanym artykule opisano wyniki pomiaru makronaprężeń własnych nakładanych warstw TiN na podłoże ze spiekanej stali; szybkotnącej i na spiekany węglik WC. Ponieważ konwencjonalna metoda sin2psi dawała wyniki trudne do interpretacji, zastosowano zmodyfikowaną metodę "g-sin2[psi]" opartą na dyfrakcji w geometrii stałego kąta padania. Problemy interpretacyjne wyników klasycznej metody "sin" związane były z anizotropią teksturową, z gradientem makronaprężeń własnych i zmienną efektywną głębokością wnikania. Zastosowanie nowej zmodyfikowanej metody g-sin2 [psi]" dało zadowalające wyniki.
EN
The residual macro-stresses plays a key role in materials by its superposition, by stress induced phenomena and its contribution in surface tension and surface energy and by influence on final properties of coatings. The results of RS's in TiN, coatings deposited on sintered high-speed steel and on sintered WC carbide are presented. New methodical approach in measurements using new geometry of diffraction i.e. grazing angle scattering was applied. This new geometry and new methodological approach i.e. "g-sin2[psi]" method is very promising in surface examinations because of almost constant depth of X-ray penetration in diffraction methods. Measured residual macro-stresses indicate on importance of anisotropy, and stress gradients, which should be taken into account in interpretation of the experimental results.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.