Wyniki wyszukiwania - BazTech

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Linear and nonlinear optical properties of Zn 1-xMgxSe layers grown by MBE and PLD methods

Derkowska B., Wojdyła M., Płóciennik P., Sahraoui B., Bała W.

Opto-Electronics Review

2004

Vol. 12, No. 4

405-409

Ternary and quaternary AII BVI mixing semiconductors are very attractive materials for various optical devices. Their optical properties such as the energy gap, linear refractive index, absorption coefficient and lattice constant can be changed with increasing component. For the practical application linear and nonlinear optical characterizations such as the two-photon absorption (TPA), linear and nonlinear refractive indexes are an important aspect. A practical motivation to measure the magnitude of TPA coefficient is that the performance of a device based on nonlinear refraction is strongly affected by the eventual nonlinear absorption. The refractive index and TPA coefficient of Zn1-xMgxSe compounds grown on glass substrates by molecular beam epitaxy (MBE) and pulsed laser deposition (PLD) methods were systematically investigated as a function of Mg composition. The linear optical properties have been studied using transmission, reflection, and photoreflection spectroscopy. The nonlinear optical properties of these materials were investigated by the nonlinear transmission. The energy gap and linear refractive index of these materials change with Mg content, hence the nonlinear optical processes such as TPA and nonlinear refraction index can be modified.

Spektrometria masowa czasu przelotu z wykorzystaniem wielokanałowego systemu zliczającego

Zieliński M., Dygdała R., Płóciennik P.

Metrologia i Systemy Pomiarowe

1998

T. 5, z. 1-2

117-125

W referacie przedstawiono możliwość zastosowania wielokanałowego systemu zaliczającego do analizy dyskretnych niestacjonarnych procesów stochastycznych, na przykładzie spektrometrii masowej czasu przelotu. Pomiar rozkładu ilości jonów w zależności od czasu przelotu dla różnych mas atomowych, sprowadza się w spektrometrii masowej, do pomiaru funkcji intensywności niestacjonarnego Poisson`owskiego procesu losowego. Z punktu widzenia teorii sygnałów jest to analiza sygnału dyskretnego z czasem ciągłym, będącego kolejnymi realizacjami niastacjonarnego procesu Poisson`owskiego, którego funkcja intensywności może byc w przybliżeniu traktowana jako deterministyczna. W rzeczywistości jednakże, złożone procesy (efekty kolektywne, rozmycie wiazki atomowej, sposób jonizacji) zachodzące w strefie jonizacji spektrometru masowego powodują niewielkie różnice w czasie przelotu jonów o jednakowej masie. W przypadku uwzględnienia tych efektów, funkcje intensywności procesu należy traktować jako splot funkcji losowej z funkcją zdeterminowaną. W referacie przedstawiono model teoretyczny oraz dokonano analizy błędów wpływających na ograniczenie zakresu zastosowania systemu wielokanałowego.

An exemple of analysis of non-stationary, discrete random processes, occuring for thr time-of-flight mass spectrometry is presented. The measurement of the ions distribution as a function of time of flight resolves itself into the analysis of the discrete signal with continuous time. Such a signal consists of successive realisations of non-stationary Poisson`s random process. Moreover, the intensity function of such a process can be accepted as determined function (in case if the collective effects and process of ionisation is not taken into account). During very precise analysis the intensity function should be considered as a convolution of the determined and random functions. the case of employing the real-time multichannel scaler is described. Theoretical model is shown. The error analysis and limits of this method are discussed.