Charakterystyka ilościowa złomu elektrycznych i elektronicznych urządzeń laboratoryjnych

• Autorzy: Pietrzyk S. , Palimąka P.

Warianty tytułu

EN

The quantitative characterization of waste from electrical and electronic laboratory equipment

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule badano zużyte urządzenia pomiarowe stosowane w laboratorium metalurgicznym ze względu na zawartość podstawowych metali nieżelaznych (Cu, Pb, Sn, Zn) oraz metali szlachetnych (Ag, Au, Pd) . Zużyte przyrządy należały do kategorii nr 9 według klasyfikacji ZSEE: przyrządy do nadzoru i kontroli, urządzenia pomiarowe używane jako sprzęt laboratoryjny. Uzyskane wyniki badań ilościowych pokazały, że badana kategoria ZSEE ma złożoną strukturę i zróżnicowany skład chemiczny. Jedną z dróg prowadzących do ich recyklingu może być selektywny demontaż, który umożliwia odzyskanie większości elementów i materiałów przy możliwie minimalnym oddziaływaniu na środowisko.

EN

In this study spent measuring devices previously used in the metallurgical laboratory were investigated due to its content of basic non-ferrous metals (Cu, Pb, Sn, Zn) and precious metals (Ag, Au, Pd). Spent instruments belonged to the category No. 9 according to the classification of WEEE: tools for supervision and control, the measuring device used as laboratory equipment. The results of quantitative studies have shown that the studied WEEE category has a complex structure and diverse chemical composition. One of the ways leading to their recycling can be selective dismantling, which allows to recover most of the components and materials at minimal impact on the environment.

Słowa kluczowe

PL

ZSEE; recykling; metal nieżelazny; płytka PCB

EN

WEEE; recycling; non-ferrous metal; PCB

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Rudy i Metale Nieżelazne
• Rocznik: 2013
• Tom: R. 58, nr 6
• Strony: 301--306
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Pietrzyk S.

• AGH Akademia Górniczo-Hutnicza, Wydział Metali Nieżelaznych, Katedra Fizykochemii i Metalurgii Metali Nieżelaznych, Al. A. Mickiewicza, 30-059 Kraków

autor

Palimąka P.

• AGH Akademia Górniczo-Hutnicza, Wydział Metali Nieżelaznych, Katedra Fizykochemii i Metalurgii Metali Nieżelaznych, Al. A. Mickiewicza, 30-059 Kraków

Bibliografia

• 1. Dyrektywa 2002/96/WE Parlamentu Europejskiego i Rady z dnia 27 stycznia 2003 r.
• 2. Ustawa dnia 29 lipca 2005 r. o zużytym sprzęcie elektrycznym i elektronicznym (Przepisy niniejszej ustawy wdrażają postanowienia dyrektywy 2002/96/WE z dnia 27 stycznia 2003 r. w sprawie zużytego sprzętu elektrycznego i elektronicznego -Dz.Urz. UE L 37 z 13.02.2003, str.34 i L 345 z 31.12.2003, str. 106).
• 3. Dyrektywa Rady 75/442/EWG z dnia 15 lipca 1975 r.
• 4. Dyrektywa 2002/95/WE z dnia 27 stycznia 2003 r. w sprawie ograniczenia stosowania niektórych niebezpiecznych substancji w sprzęcie elektrycznym i elektronicznym (tzw. Dyrektywa RoHS).
• 5. Raport funkcjonowaniu systemu gospodarki zużytym sprzętem elektrycznym i elektronicznym w 2011 r. Warszawa, czerwiec 2012 r. Opracowany w Departamencie Kontroli Rynku Głównego Inspektoratu Ochrony Środowiska.
• 6. Ustawa z dnia 27 kwietnia 2001 r. o odpadach, Dz.U. 2001 Nr 62 poz. 628.
• 7. Rhee K. I., Lee J-C., Kyoung C-K., Joo K. H., Yoon J-K., Kang H-R., Kim Y-S, Sohn H-J.: A recovery of gold from electronic strap by mechanical separation, acid leaching and electrowinning, Third Int, Symp. On Recycling of Metals and Engineered Materials, Ed. P.B. Queneau and R.D. Peterson, TMS, 1995, 469-478.
• 8. Cui J., Forssberg E.: Mechanical recycling of waste electric and electronic equipment: a review, Journal of Hazardous Materials, B99, 2003, s. 243-263.
• 9. Czyżyk H., Kozłowski J.: Metody przerobu odpadów płytek PCB, V Międzynarodowa Konferencja Naukowa „Teoretyczne i praktyczne problemy zagospodarowania odpadów hutniczych, Zakopane 29-31.5.2003, s. 16-25.
• 10. Kozłowski J., Mazurek T., Czyżyk H.: Przerób złomu elektronicznego i elektrycznego metodą rozdrabniania i separacji grawitacyjnej. II Krajowa Konferencja Naukowo-Techniczna „Ekologia w elektronice”, Warszawa 16-17.10.2000, s. 156-165.

Uwagi

PL