Genetic algorithms in pseudorandom testing of medical digitalcircuits

• Autorzy: Chodacki M. , Michalski D.
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

In this paper the problem of unsatisfactory diagnostic efficiency of pseudorandom testing (PRT) technique used to detect faults of digital circuits in testing medical systems of critical importance is presented. The simulations have revealed a weakness of commonly used PRT technique that generally does not assure that all stuck at faults are detected. Thus, it is suggested that PRT technique should be supplemented with additional deterministic testing sequences to enhance fault detection. To design built-in selftesting (BIST) structures a genetic algorithm and digital system stochastic model were used. By employing the stochastic model it is possible to reduce considerably the computer simulation time required for BIST architecture design. In particular, an effect of proportional and ranking selections on the convergence of genetic algorithm in searching for a globally optimal solution, while maintaining the diversity of the population of individuals and limiting its premature stagnation.

Słowa kluczowe

EN

genetic algorithms; medical devices; simulation of digital circuits; pseudorandom testing

PL

algorytmy genetyczne; urządzenia medyczne; symulacja układów cyfrowych

• Wydawca: University of Silesia, Institute of Informatics, Computer Systems Department
• Czasopismo: Journal of Medical Informatics & Technologies
• Rocznik: 2009
• Tom: Vol. 13
• Strony: 209--214
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., rys.

Twórcy

autor

Chodacki M.

• University of Silesia. Institute of Informatics, 41-200 Sosnowiec, Będzińska 39, Poland

autor

Michalski D.

Bibliografia

• [1] BADURA D., Techniki projektowania samotestowalnych układow i pakietów cyfrowych wykorzystujące rejestry szeregowe z nieliniowym sprzężeniem zwrotnym, Uniwersytet Śląski, Katowice 1992 r. ISSN 0208-6336, 83-226-0449-1.
• [2] CHODACKI M., BADURA D., The Stochastic Model Pseudorandom Testing of Digital Sequential Circuits, Proceedings of XXVIIIth International Autumn Colloquium ASIS 2006 Advanced Simulation of Systems, Vranov near Brno 12-14 September 2006, Czech Republic, pp. 148-151.Lp. 790.
• [3] CHODACKI M., MICHALSKI D., Genetic Algorithms Based on Stochastic Model for Pseudorandom Test Structure Design,International Carpathian Control Conference ICCC 2009, Zakopane, Poland, May 24-27, 2009.
• [4] GOLDBERG D. A., Algorytmy genetyczne i ich zastosowania, WNT 1998r., ISBN 83-204-2272-8.
• [5] HŁAWICZKA A. et al., Łatwotestowalne układy i pakiety cyfrowe, Projektowanie i testowanie, WNT Warszawa 1993r, ISBN 83-204-1518-7.
• [6] HŁAWICZKA A., Rejestry liniowe – analiza, synteza i zastosowania w testowaniu układow cyfrowych, Zeszyty Naukowe Politechniki Śląskiej, Elektronika z.9 nr 1370, Gliwice 1997, ISSN 1231-1596.
• [7] KRAŚNIEWSKI A., Projektowanie samotestowanych układow cyfrowych wielkiej skali integracji, Zeszyty Naukowe Politechniki Warszawskiej, z. 83 Elektronika, 1989 r.
• [8] EDCC-2 Companion Workshop on Dependable Computing, Workshop Proceedings, Silesian Technical University, Department of Automatic Control, Electronics and Computer Science, Gliwice, May 15, 1996r., ISBN 83-906582-1-6.
• [9] http://www.cad.polito.it/FullDB/author/F.+Corno.html