Błędy w pomiarach elektromagnetycznym przetwornikiem grubości powłoki

• Autorzy: Kasperczyk B. , Kwiczala J.

Warianty tytułu

EN

Errors in measurements with a coatings thickness electromagnetic transducer

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Elektromagnetyczny przetwornik grubości powłoki o symetrii osiowej jest stosowany w pomiarach grubości powłok nieferromagnetycznych, przewodzących thb nieprzewodzących, pokrywających podłoża ferromagnetyczne. Niezgodność wartości ogrubości powłoki wskazywanej przez warstwomierz z jej rzeczywistą grubością może wynikać z różnic wartości wielkości wpływających w procesie wzorcowania i pomiaru. W artykule przedstawiono sposób obliczenia błędu pomiaru grubości, wykorzystujący odwrotną funkcję przetwarzania numerycznego modelu przetwornika. Zaproponowano sposób uwzględnienia tego błędu w analizie niepewności pomiaru warstwomierzem. Wyniki analiz numerycznych porównano z wynikami pomiarów, wykazując ich zbieżność.

EN

The paper deals with a coating thickness electromagnetic transducer of axial symmetry. A measured object is a ferromagnetic base covered with conducting or non-conducting, non-ferromagnetic coating of small tkickness. Differences can appear between the coating thickness values real and reading. The method for numerical computing the error of coating thickness measurements using the transducer inverse function is presented in the paper. These is also suggested the way of including this error in the analysis of the uncertainty of measurements with the coating thickness transducer. The results of numerical computation are compared with these obtained from measurements. They arę close to each other.

Słowa kluczowe

PL

elektromagnetyczny przetwornik grubości powłoki; błędy w pomiarach grubości powłoki; analiza niepewności

EN

coatings thickness electromagnetic transducer; analysis of the uncertainty

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Śląskiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Śląska
• Rocznik: 2005
• Tom: z. 195
• Strony: 115--124
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys.

Twórcy

autor

Kasperczyk B.

• Instytu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Politechnika Śląska

autor

Kwiczala J.

• Instytu Metrologii i Automatyki Elektrotechnicznej Politechnika Śląska

Bibliografia

• 1. Instruments for coating thickness measurement and material testing. Katalog firmy HelniJ Fischer, Sindelfingenn 2002.
• 2. Kasperczyk B.: Pomiar grubości wybranych powłok Rozprawa doktorska, Gliwice 2004.
• 3. Bolkowski S. i inni: Komputerowe metody analizy pola elektromagnetycznego. WNT, Warszawa 1993.
• 4. ANSYS Analysis Guides. First Edition. SAS IP, Inc.©.
• 5. Drwal G., i inni: MATEMATICA dla każdego. Wydaw. Pracowni Komputerowej Jacka Skalmierskiego, Gliwice 1996.
• 6. Kwiczała J., Kasperczyk B.: Ferrometryczny system pomiarowy. Materiały Międzynarodowej Konferencji "Metrologia wspomagana komputerowo". Waplewo 2003.