PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
Tytuł artykułu

Zastosowanie metody analizy narażeń części do prognozowania obiektów technicznych na przykładzie pętli przejazdowej stosowanej w systemie poboru opłat

Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
The use of the Part Stress Analysis method to predict the reliability of the technical objects on the example of inductive loop applied on the toll collection system on highways
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
W referacie zaprezentowano koncepcję wykorzystania metody analizy narażeń części (ang. Part Stress Analysis) do prognozowania niezawodności obiektów technicznych na przykładzie pętli przejazdowej stosowanej w systemie poboru opłat. Celem prognozy niezawodności powyższego obiektu i pozostałych elementów systemu poboru opłat, w dalszej części opracowania, będzie analiza i ocena systemu pozwalająca na opracowanie harmonogramu pracy systemu przy określonej gotowości i ustalonym wyposażeniu.
EN
The article presents the conception of the Parts Stress Analysis prediction method and procedures to predict the reliability of the technical objects on the example of inductive loop in the toll collection system. The aim of the above method will be, in further part of the article, the analysis and evaluation of the system allowing to elaborate of the work schedule of the system together with the defined availability and equipment.
Rocznik
Tom
Strony
193--201
Opis fizyczny
Bibliogr. 6 poz., rys.
Twórcy
autor
  • Politechnika Warszawska
Bibliografia
  • 1. United States Patent, Appl. No. 777,854 VEHICLE PRESENCE LOOP DETECTOR.
  • 2. Military Handbook: Reliability Prediction of Electronic Equipment. USA Department of Defense, MIL-HDBK-217F: 9.1 RESISTORS, 28 II 1995 r.
  • 3. Military Handbook: Reliability Prediction of Electronic Equipment. USA Department of Defense, MIL-HDBK-217F Notice 2: 10.1 CAPACITORS, FIXED, CERAMIC, GENERAL PURPOSE 28 II 1995 r.
  • 4. Military Handbook: Reliability Prediction of Electronic Equipment. USA Department of Defense, MIL-HDBK-217F: 14.1 SWITCHES, 28 II 1995 r.
  • 5. Military Handbook: Reliability Prediction of Electronic Equipment. USA Department of Defense, MIL-HDBK-217F: 6.3 TRANSISTORS, LOW FREQUENCY, BIPOLAR, 28 II 1995 r.
  • 6. Military Handbook: Electronic Reliability Design Book. USA Department of Defense, MIL-HDBK-338B: 1 IX 1998 r.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BAR0-0046-0034
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.