Problem tolerancji w testowaniu elektronicznych układów w pełni różnicowych

• Autorzy: Toczek W.

Warianty tytułu

EN

Tolerance problem in testing of fully differential electronic circuits

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Rozrzuty tolerancyjne silnie wpływają na proces decyzyjny, oparty na testowaniu w pełni różnicowych układów elektronicznych metodą zorientowaną na uszkodzenia. Skutkiem tolerancji są napięcia rezidualne w nieuszkodzonym układzie testowanym, oraz niepewność progu komparacji w układzie testującym. W rezultacie pojawia się ryzyko błędnej diagnozy. W artykule dokonano syntezy probabilistycznego modelu odpowiedzi układu testowanego i zastosowano go, w połączeniu z uogólnionym modelem pomiaru, do oceny ryzyka błędnej decyzji diagnostycznej z punktu widzenia użytkownika i producenta układu testowanego.

EN

Tolerance deviations strongly affect the test-based decisional process. In the fault-oriented testing of fully differential electronic circuits tolerances cause the residual voltages in the fault-free circuit under test and uncertainty of the threshold in the testing circuit. As the result, risk of taking the wrong decision appears. In the paper, a probabilistic model for responses of circuit under test is developed and applied together with a general probabilistic model of the measurement process for the consumer's and producer's risks assessment.

Słowa kluczowe

PL

układ analogowy; testowanie; układy w pełni różnicowe; model probabilistyczny testu; ocena ryzyka

EN

analog circuit testing; fully differential circuits; probabilistic model for test; risk evaluation

• Wydawca: Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej
• Czasopismo: Diagnostyka
• Rocznik: 2008
• Tom: nr 1(45)
• Strony: 127--130
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., rys.

Twórcy

autor

Toczek W.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Optoelektroniki i Systemów Elektronicznych, ul. Narutowicza 11/12, 80-952 Gdańsk,

Bibliografia

• [1] Spence R., Soin R. S.: Tolerance design of electronic circuits, London, Imperial College Press, 2002.
• [2] Rossi G. B.: A probabilistic model for measurement processes, Measurement, vol. 34, 2003, str. 85-99.
• [3] Stratigopoulos H. D., Makris Y.: An Adaptive Checker for the Fully Differential Analog Code IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol. 41, 2006, str. 1421-29.
• [4] Toczek W.: Testowanie i diagnostyka układów w pełni różnicowych, Elektronika, vol. XLVIII, 2007, str. 12-17.
• [5] Papoulis A., Pillai S. U.: Probability random variables and stochastic processes, McGraw- Hill, 2002.
• [6] Rossi G. B., Crenna F.: A probabilistic approach to measurement-based decisions, Measurement, vol. 39, 2006, str. 101-119.