Optyczne testowanie topografii układów elektronicznych z wykorzystaniem morfologii matematycznej

• Autorzy: Nagórny Z.

Warianty tytułu

EN

Visual inspection of topography of electronic circuits by using mathematical morphology

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przedstawiono optyczną metodę testowania topografii układów elektronicznych. Metoda ta wykorzystuje morfologię matematyczną. Zaproponowano algorytm testowania połączeń, który sprawdza wymaganą minimalną szerokość ścieżek. Przedstawiono przykłady i wnioski płynące z zastosowania tej metody.

EN

The paper presents a visual method of testing the topography of electronic circuits. The method makes use of mathematical morphology techniques. The algorithm for the testing connection, which inspects minimum conductor traces width requirement is proposed. Some examples and conclusions coming from using this method are presented.

Słowa kluczowe

PL

optyczne testowanie; morfologia matematyczna; erozja; rekonstrukcja binarna; dylatacja; otwarcie; domknięcie

EN

visual inspection; mathematical morphology; erosion; binary reconstruction; dilation; opening; closing

• Wydawca: Wydawnictwa AGH
• Czasopismo: Elektrotechnika i Elektronika
• Rocznik: 2003
• Tom: T. 22, z. 1
• Strony: 9--16
• Opis fizyczny: Bibliogr. 21 poz., rys.

Twórcy

autor

Nagórny Z.

• Studium Generale Sandomiriense, Wyższa Szkoła Humanistyczno-Przyrodnicza w Sandomierzu

Bibliografia

• [1] Kos A.: O metodach testowania układów elektronicznych. Elektrotechnika, t. 8, z. 1, 1989, 29–41
• [2] Sowiński A.: Automatyczne testowanie w mikroelektronice. Warszawa, WKiŁ 1991
• [3] Moganti M., Ercal F., Dagli C.H., Tsunekawa Shou: Automatic PCB inspection algorithms: a survey. Computer Vision and Image Understanding, vol. 63, No. 2, March 1996, 287–313
• [4] Vernon D.: Machine vision in the electronics and PCB inspection industry. The current position and future directions. The University of Edinburg, Wielka Brytania http://www.dai.ed.ac.uk/CVonline/LOCAL_COPIES/ECVNET/ electronics.inspection.html, 08.03.2002 r.
• [5] Tatibana M.H., Lotufo R.A.: Novel automatic PCB inspection technique based on connectivity. Sibgrapi '97, X Symposium on Computer Graphics and Image Processing, Campos do Jordão, Brazil, 14–17 October 1997 Instituto de Matemática Pura e Aplicada – IMPA, Rio de Janeiro, Brazil, http://mirror.impa.br/sibgrapi97/anais/pdf/art51.pdf, 08.03.2002 r.
• [6] Ercal F., Bunyak F., Hao F., Zheng L.: A fast modular RLE-based inspection scheme for PCBs. Proc. of SPIE - Architectures, networks and intelligent systems for manufacturing integration, Pittsburg, USA, Oct. 1997, vol. 3203, 49–59 University of Missouri-Rolla, USA, http://www.umr.edu/~ercal/vision1/publications.html, 08.03.2002 r.
• [7] Ercal F., Bunyak F., Feng H.: Context-sensitive filtering in RLE for PCB inspection. Proc. of SPIE - Intelligent systems and advanced manufacturing, Boston, USA, Nov. 1998, vol. 3517 University of Missouri-Rolla, USA, http://www.umr.edu/~ercal/vision1/publications.html, 08.03.2002 r.
• [8] Bunyak F., Ercal F.: Inspection of power and ground layers in PCB images. Proc. of SPIE - Intelligent systems and advanced manufacturing, Boston, USA, Nov. 1998, vol. 3521, 190–197 University of Missouri-Rolla, USA, http://www.umr.edu/~ercal/vision1/publications.html, 08.03.2002 r.
• [9] Kinsey L., Houghten J., Brock J., Nakata C., Grothe J., Miranowski D.: M5C Series Design Reference Guide. Motorola INC. 1994
• [10] Chmielewski L., Skłodowski M., Cudny W., Nieniewski M., Jóźwik A.: Detection and classification of surface irregularities in black ceramics. Warszawa, Towarzystwo Przetwarzania Obrazów, Instytut Podstawowych Problemów Techniki PAN http://www.tpo.org.pl/squash, 08.03.2002 r.
• [11] Chmielewski L.: Porażka sukcesu, czyli jesteśmy w Polsce. PCkurier, 8, 1999, 20
• [12] Barrera J., Hirata R. Jr.: Fast algorithms to compute elementary operators of Mathematical Morphology. Sibgrapi '97, X Symposium on Computer Graphics and Image Processing, Campos do Jordão, Brazil, 14–17 October 1997 Instituto de Matemática Pura e Aplicada – IMPA, Rio de Janeiro, Brazil, http://mirror.impa.br/sibgrapi97/anais/pdf/art09.pdf, 08.03.2002 r.
• [13] Tadeusiewicz R., Korohoda P.: Komputerowa analiza i przetwarzanie obrazów. Kraków, Wydawnictwo Fundacji Postępu Telekomunikacji 1997
• [14] Nieniewski M.: Morfologia matematyczna w przetwarzaniu obrazów. Warszawa, Akademicka Oficyna Wydawnicza PLJ 1998
• [15] Skarbek W. (red.): Multimedia. Algorytmy i standardy kompresji. Warszawa, Akademicka Oficyna Wydawnicza PLJ 1998
• [16] Salembier P., Brigger P., Casas J.R., Pardás M.: Morphological operators for image and video compression. IEEE Transactions on Image Processing, vol. 5, No. 6, June 1996, 881–898
• [17] Salembier P.: Morphological multiscale segmentation for image coding. Signal Processing, vol. 38, No. 3, August 1994, 359–386
• [18] Gawlik-Moszczyńska T.: Morfologiczna analiza obrazów w zastosowaniu do detekcji krawędzi obszarów. Prace Naukowe Instytutu Cybernetyki Technicznej Politechniki Wrocławskiej nr 83, Konferencje nr 38, 1990, 132–137
• [19] Tadeusiewicz R.: Systemy wizyjne robotów przemysłowych. Warszawa, WNT 1992
• [20] Pavlidis T.: Grafika i przetwarzanie obrazów. Warszawa, WNT 1987 M,,
• [21] Fa-Chung Leou, Yung-Chang Chen: A contour-based image coding technique with its texture information reconstructed by polyline representation. Signal Processing, vol. 25, 1991, 81–89