PL
 |
EN
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 18

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Content available Procedura weryfikacji metrologicznej potokowego, zautomatyzowanego systemu do kontroli przemysłowych wyrobów elektrycznych
100%
Kern J. , Machalica P.
Pomiary Automatyka Kontrola
|
2007
|
tom R. 53, nr 9 bis
368--371
PL
Referat przedstawia rozwiązanie problemu weryfikacji funkcjonalnej i metrologicznej zautomatyzowanego systemu do testowania wyrobów elektrycznych, systemu o podwyższonych wymaganiach z zakresu wydajności i wiarygodności wyników oceny wyrobów. Procedura, opracowana w oparciu o analizę niezawodnościową i opracowany zbiór etalonów, modelujących parametry testowanych obiektów, integruje dwie techniki diagnostyczne - współbieżne, permanentne monitorowanie stanów połączeń przemieszczanych głowic pomiarowych; oraz -okresową diagnostykę, w postaci dwu różnych działań -weryfikacji funkcjonalnej oraz weryfikacji niepewności pomiarowych systemu.
EN
The paper presents the solution of the functional and metrological verification of the automatic system, developed for testing electrical products. The system is characterized by high speed of testing and high level of classification quality. The procedure is developed on the basis of reliability analyses and a special set of etalons, designed for modelling the characteristic of the product under test. The verification procedure integrates two diagnostic methods – concurrent, permanent monitoring of the states of moving test head connectors, and periodic diagnostics – in a form of two different activities- functional verification and metrological verification.
2
Wybrane aspekty budowy modułów pomiarowych przeznaczonych do testowania filtrów przeciwzakłóceniowych RLC
100%
Studziński P. , Machalica P.
|
|
tom R. 52, nr 9 bis
172--175
PL
Przedstawiono koncepcję systemu pomiarowego przeznaczonego do testowania filtrów przeciwzakłóceniowych. Omówiono metodę zapewnienia jakości kontaktów elektrycznych pomiędzy testowanymi jednostkami a głowicą pomiarową. Opisano kontakty teleskopowe, wysokonapięciowe przekaźniki elektromagnetyczne oraz rezystory przeznaczone do modułów pomiarowych. Podano także wybrane aspekty projektowania modułów pomiarowych.
EN
The paper presents a concept of measurement system, for noise suppressing filters testing. The method of quality assurance of electrical contacts, configured between units under test and measurement heads is presented. Telescopic contacts, high voltage reed relays and high voltage resistors for measurements modules have been described. Selected aspects of measurement modules design are also given.
3
Zastosowanie detektorów UV do budowy uniwersalnych mierników promieniowania
80%
Studziński P. , Machalica P. , Biernacki K.
|
|
tom Vol. 49, nr 12
86-89
PL
W artykule omówiono charakterystyki widmowe i prądowe diod UV z azotku galu w dwóch wykonaniach - Schottky i p-i-n. Opisano sposób doboru wzmacniaczy operacyjnych do współpracy z diodami UV oraz zasady konstrukcji modułu pomiarowego promieniowania UV. Przedstawiono wstępne wyniki badań modułu.
EN
This paper presents the key features of spectrum and current characteristics of Schottky and p-i-n ultraviolet Gallium Nitride (GaN) photodiodes. The method of the right selection of op amplifiers for UV diodes application has been described. The design requirements for UV radiation measurement modules and preliminary module tests results have been presented.
4
Content available Wybrane aspekty projektowania systemu do kontroli i segregacji kondensatorów przeciwzakłóceniowych
80%
Studziński P. , Machalica P. , Biernacki K. , Młynarski B.
|
2008
|
tom nr 4
175-187
PL
W artykule przedstawiono strukturę systemu do sprawdzania kondensatorów przeciwzakłóceniowych oraz schemat stanowiska pomiarowego. Z racji złożoności tego systemu, w ramach prac projektowych wykonano analizę rodzajów i skutków niezdatności (FMEA). W wyniku analizy wyselekcjonowano te rodzaje niezdatności, które są szczególnie istotne dla zapewnienia jakości działania systemu (niezdatność kontaktów elektrycznych oraz niezdatność parametryczna, polegająca na nadmiernym i niekontrolowanym wzroście niepewności pomiarów ponad granice dopuszczalnej tolerancji). Wyniki analizy FMEA poddano weryfikacji praktycznej przez opracowanie i zbadanie modeli głównych modułów systemu (pomiarowych i mechatronicznych), które decydują o precyzji pomiarów i wydajności testowania. Pozytywnie zweryfikowano procedury pomiarów głównych parametrów kondensatorów, przewidzianych do realizacji w ramach systemu do testowania. Zweryfikowano także układ detekcji impulsów prądu oraz układ kontroli kontaktów pomiarowych. W ramach badań doświadczalnych sprawdzano modele układów ładowania i rozładowania, bardzo zbliżone do przewidywanych rozwiązań docelowych. Wyniki doświadczalne pozwalają na optymalny dobór elementów, rzutujących na jakość badań i bezpieczeństwo obsługi systemu, tj.: przekaźniki wysokonapięciowe, rezystory mocy, kontakty teleskopowe. Na podstawie zebranych doświadczeń opracowano projekt oraz zbudowano model systemu do kontroli kondensatorów przeciwzakłóceniowych, który zostanie wdrożony w firmie Miflex S.A. w Kutnie.
EN
This paper presents the concept of a measurement system for capacitor testing. The diagram of the measurement stand has been also shown. Because of the high system complexity during design phase, Failure Mode and Effects Analysis (FMEA) was carried out. As the result of the FMEA analysis, the failures that are particularly important for the quality of system operation were selected (electrical contact failures and parametric failures, i.e. an excessive and uncontrolled rise in measurement uncertainty above the limits of acceptable tolerance). The results of FMEA analysis were practically verified using the models (mechatronic and measurement models) of the main system modules that were designed and tested and which decide on the measurement accuracy and efficiency of testing. The measurement procedures for the main parameters of capacitors were also positively verified. The current pulse detection modules and measurement contact checking circuits were verified too. The main problems related to the quality of testing as well as their solutions have been presented. Many tester modules, e.g. measurement head, pulse detector, high voltage relays, and pneumatic cylinders, that have direct effect on the quality of tests and operator safety have been also checked. The Capacitor Testing System that has been designed and will be used in Miflex S.A. in Kutno has also been presented together with its characteristic parameters.
5
Metoda zautomatyzowanej kontroli metrologicznej wielostanowiskowego systemu do testowania przemysłowych wyrobów elektrycznych
80%
Kern J. , Machalica P. , Krzemiński Ł.
|
|
tom Vol. 48, nr 8
92-96
PL
Zaprezentowano opracowaną metodę kontroli metrologicznej zautomatyzowanego systemu do testowania wyrobów elektrycznych, który charakteryzuje się bardzo dużym poziomem ufności oceny wyników testowania parametrów wyrobów, związanych z bezpieczeństwem ich użytkowania i dużą wydajnością procesu kontroli. Procedura kontroli metrologicznej została oparta na wynikach analizy niezawodnościowej systemu i zbiorze etalonów, modelujących parametry testowanych obiektów. Połączenie współbieżnego monitorowania stanów połączeń elektrycznych przemieszczanych głowic pomiarowych i badanych obiektów z okresową, zautomatyzowaną weryfikacją niepewności pomiarowych poszczególnych stanowisk kontrolnych przy użyciu etalonów zapewnia z wysokim stopniem prawdopodobieństwa utrzymywanie niezawodności parametrycznej systemu pomiarowego na wysokim poziomie.
EN
The paper presents the developed method for metrological verification of the automatic system, designed for testing of electrical products. The system is characterized by high level of classification quality and high speed of testing. The procedure is developed on the basis of reliability analyses and a special set of etalons, designed for modeling the characteristic of the product under test. The verification procedure integrates two diagnostic methods - concurrent, permanent monitoring of the states of moving test head connectors, and periodic diagnostics - in a form of two different activities - functional verification and metrological verification.
6
Komputerowy system do produkcyjnych pomiarów i segregacji kondensatorów przeciwzakłóceniowych
80%
Machalica P. , Rogala K. , Srokosz R.
|
|
tom nr 133
50-65
PL
Ze względu na wymagania wynikające z odpowiednich norm wszystkie wyprodukowane kondensatory przeciwzakłóceniowe muszą być poddane produkcyjnym testom jakościowym i testom bezpieczeństwa. Wysoka elastyczność produkcji oraz wymagana współpraca z systemem zapewnienia jakości stawiają systemowi do produkcyjnych pomiarów i segregacji kondensatorów przeciwzakłóceniowych wysokie wymagania funkcjonalne i niezawodnościowe, przy zachowaniu daleko idących możliwości jego rekonfiguracji i rozbudowy. Wymagania te spełnia hierarchiczny, zdecentralizowany system o strukturze otwartej, opracowany pizez Przemysłowy instytut Elektroniki i wdrożony do produkcji w przedsiębiorstwie MIFLEX.
7
System pomiarowy charakterystyk widmowych krzemowych ogniw słonecznych
80%
Mocny W. , Machalica P. , Borowicz L.
|
2001
|
tom nr 146
230-233
8
Retinometr laserowy
80%
Borowicz L. , Machalica P. , Mocny W.
|
|
tom Vol. 43, nr 12
31-33
PL
Przedstawiono konstrukcję urządzenia do pomiaru ostrości wzroku wykorzystującego polaryzacyjny element optyczny - dwójłomny pryzmat Wollastona. Pryzmat ten oraz pozostałe elementy optyczne służą do wytworzenia w obrębie zmętniałej soczewki ocznej koherentnych źródeł promieniowania.
EN
Presented measuring device may be applied for evaluation of the visual acuity. For this purpose is used Wollaston polarizing prism. This prism and the remaining optical elements are used to create coherence sources of radiation within fogging lens of eye. Beam of light out coming from sources and propagating inside the eye interfere with each other. These beams create on the retina of eye rectilinear and equidistant system of spectral lines with variable spatial frequency. Patient defined the value of frequency at which fading differentiation of the structure.
9
Systemy monitorowania i eliminowania zagrożeń bezpieczeństwa w procesach wytwarzania związków półprzewodnikowych
80%
Orzyłowski M. , Rudolf Z. , Witowski A. , Machalica P.
|
|
tom Vol. 45, nr 4
15-18
PL
Proces syntezy i polikrystalizacji związków półprzewodnikowych przebiega w hermetycznych reaktorach kwarcowych w temperaturze do 1250°C oraz przy cisnieniu dochodzącym do 3 MPa bez możliwości bezpośredniego pomiaru tych wielkości wewnątrz reaktora. Nieprawidłowości przebiegu procesu mogą doprowadzić do eksplozji lub implozji reaktora i w konsekwencji zniszczenia pieca oraz zanieczyszczenia wnętrz autoklawu przez substancje, które są agresywne, palne i trujace, np. biały fosfor. Ze względu na niemożliwość sterowania bezpośredniego przebiegiem procesu konieczne stało się pośrednie wieloetapowe sterowanie rozkładem temperatury wielosekcyjnego grzejnika. Opisano konstrukcję urządzenia i sposób jego sterowania oraz sposoby wykrywania obecności niebezpiecznych substancji na zewnątrz reaktora.
EN
The process of synthesis and polycrystallization of semiconductor compounds is realized in hermetic quartz reactors in temperature up to 1250°C and pressure up to 3 MPa without possibility of direct measurement of these variables inside reactor. The irregularities of the process realization can cause explosion or implosion and in consequence destruction of the furnace and contamination of the autoclave by chemicals which are aggressive, flammable and poisonous e.g. white phosphorus. Because of impossibility of direct control of process realization the multi-step indirect control of temperature distribution of the multi-section heater is necessary. The construction of the installation and way of the control and methods of detection of hazardous chemicals outside of the reactor are presented.
10
Densytometryczny system radiograficznej diagnostyki osteoporozy
80%
Machalica P. , Zając J. , Łysoń G.
|
|
tom Vol. 45, nr 4
36-38
PL
Publikacja przedstawia zautomatyzowany system do badań rozwoju kości u dzieci wykonany w PIE we wspólpracy z zespołem lekarzy wywodzących się z CZD. System ten poddaje analizie obrazy rentgenowskie drugiej kości śródręcza i wzorcowego fantomu aluminiowego umożliwiającego skalowanie absorpcji promieniowania przez badaną kośc. System wyposażono w dodatkowe funkcje ułatwiające archiwizację wyników badań oraz usprawniające przegląd wyników poprzednich badań.
EN
The paper describes automatic system for examinations of children bones developed at Industrial Institute of Electronics in co-operating with doctors from The Children's Memorial Health Institute. The system analyses pictures of second metacarpal bone and special aluminium patterm. The pattern enables calibration of X-ray absorption in examined bone. Additionally the system is integrated with database archiving results. Archived data can be easy presented.
11
Content available remote System do kontroli jakości kondensatorów przeciwzakłóceniowych
71%
Kornacki W. , Kozłowski T. , Machalica P. , Studziński P. , Zając J.
Przegląd Elektrotechniczny
|
2009
|
tom R. 85, nr 2
59-62
PL
W referacie opisany jest system przeznaczony do testowania kondensatorów przeciwzakłóceniowych. W referacie opisano składowe systemu: podsystem pomiarowy, podsystem mechatroniczny i podsystem informatyczny. Przedstawiono główne problemy związane z jakością testowania oraz sposoby ich rozwiązania.
EN
This paper presents system applied for testing of noise suppressing capacitors. The system components like measurement, mechatronic and control subsystems have been described. The main problems related to quality testing together with solutions for their solving have been described.
12
Content available Photoelectronic measurement methods and the universal measurement system for precise parameter determination of semiconductor structures
61%
Machalica P. , Porębski S. , Zając J. , Borowicz L. , Kudła A. , Przewłocki H. M.
|
|
tom Vol. 34, nr 5
1-7
EN
In this article a new Multifunctional System for Photoelectric Measurements of Semiconductor Structures (MSPM) is presented. The system enables very accurate photocurrent measurements at levels as low as 10 fA. Measured structures can be biased by sequences of DC voltages and stimulated by light beams of predefined wavelengths and powers. The software controls all the system actions allowing flexibility in retrieving data stored in the related databases.
13
Systemy pomiarowo-informatyczne w zastosowaniach przemysłowych
61%
Kern J. , Kopera W. , Kozłowski T. , Machalica P. , Młynarski B. , Woźniak R.
|
2006
|
tom Vol. 47, nr 7
21-25
PL
Przedstawiono koncepcję rozwiązania systemu pomiarowo-informatycznego do testowania filtrów przeciwzakłóceniowych, opracowywanego w PIE w ramach projektu celowego. Opisano bloki systemu: podsystem pomiarowy, mechatroniczny i informatyczny. Przedstawiono główne problemy związane z jakością testowania oraz sposób ich rozwiązania.
EN
This paper presents a concept of computer aided measurement system for noise suppressing filters testing designed in PIE under the R&D project contract. The system components like measurement, mechatronic and control subsystems have been described. The main problems related to quality testing together with solutions for their solving have been described.
14
System kontroli parametrów elektrofizycznych krzemowych warstw epitaksjalnych i dyfuzyjnych
61%
Machalica P. , Zając J. , Mocny W. , Młynarski B. , Wójcik J. , Zaremba G. , Niemiec M.
|
2001
|
tom nr 146
239-243
15
Wielozadaniowy system do badań fotoelektrycznych struktur półprzewodnikowych (WSBF)
61%
Zając J. , Machalica P. , Porębski S. , Borowicz L. , Młynarski B. , Niemiec M. , Kudła A.
|
2001
|
tom nr 146
223-229
16
System kontroli parametrów elektrycznych krzemowych warstw epitaksjalnych i dyfuzyjnych
61%
Machalica P. , Zając J. , Mocny W. , Młynarski B. , Wójcik J. , Zaremba G. , Niemiec M.
|
|
tom Vol. 43, nr 12
12-15
PL
System stanowi zbiór niezależnych stanowisk badawczych do pomiarów charakterystyk C-V i C-t oraz rezystancji rozpływu (spreading resistance). Stanowiska pracują w sieci informatyczno-pomiarowej zbudowanej z użyciem koncentratora HUB.
EN
In paper, a quality measurement system for semiconductor wafers also epitaxial and diffusion layers, is presented. The system consist several investigation stands for measurement C-V and C-t characteristic as well spreading resistance. The stands works in the measurement network basis on HUB concentrator.
17
Systemy renowacji i demontażu urządzeń elektronicznych w procesie recyklingu
61%
Kornacki W. , Zając J. , Wach A. , Studziński P. , Młynarski B. , Machalica P. , Kern J.
|
|
tom Vol. 45, nr 7
41-45
PL
Artykuł dotyczy zagadnień związanych z realizacją projektu celowego zamawianego PCZ-013-26 pt. "Krajowy system zbiórki i utylizacji wycofywanych z eksploatacji urządzeń elektrycznych i elektronicznych"
EN
This paper presents problems related to recycling and reuse processes implementation of electronic scrap in a prototyped disassembly line four used computers.
18
Laserowy przyrząd retinometryczny
51%
Borowicz L. , Badźmirowski K. , Porębski S. , Machalica P. , Mocny W. , Kęcik T. , Kasprzak J. , Kęcik D.
|
2001
|
tom nr 146
159-165
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.