Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 3

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Implementacja metody diagnostycznej opartej na wielokrotnym próbkowaniu odpowiedzi czasowej w mieszanym sygnałowo mikrosystemie elektronicznym

100%

Czaja Z.

2011

tom R. 87, nr 9a

33-36

Przedstawiono nową metodę samo-testowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych.

A new self-testing method of analog parts terminated by ADCs in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers is presented. It bases on a new fault diagnosis method basing on transformation of voltage samples of the time response of a tested part on a square impulse into identification curves placed in a measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization.

Diagnostyka części analogowej elektronicznych systemów wbudowanych z zastosowaniem modelowania rozmytego

63%

Czaja Z. , Załęski D.

2006

tom T. 9

23-30

W artykule przedstawiono nową metodę diagnostyki sieci analogowych we wbudowanych mikrosystemach mieszanych sygnałowo sterowanych mikrokontrolerami wyposażonymi w procesor decyzyjny bazujący na logice rozmytej. Metoda składa się z części przed-testowej tworzenia słownika uszkodzeń zawierającego zbiory rozmyte i reguły, części pomiarowej, w której dokonuje się pomiaru modułu i fazy funkcji układowej części analogowej mikrosystemu, oraz z procedury detekcji i lokalizacji uszkodzeń wykonywanej przez procesor decyzyjny. Pomiar i procedura diagnostyczna są realizowane wyłącznie przez mikrokontroler zamontowany w systemie, z wykorzystaniem jego zasobów sprzętowych i mocy obliczeniowej. Zaletą metody jest możliwość nie tylko detekcji uszkodzenia parametrycznego sieci analogowej, ale również lokalizacja pojedynczych uszkodzeń parametrycznych przy założeniu tolerancji elementów nieuszkodzonych.

The paper presents the new diagnostic method of analog parts in mixed-signal embedded microsystems controlled by microcontroller with biult-in hardware fuzzy logic decision proccesor. The method consists of three stages. In the first pre-test stage the fault dictionary that includes a group of membership functions and rules of fuzzy faults models is created. In the second stage the measurement of modulus and phase of tested circuit transfer function is done. In the last stage the procedure of fault delection and localisation is executed. The diagnostic method is additionally implemented in microcontroller that is already mounted and controls an embedded system. The method has two main advantages. Firstly, it enables detection of parametric faults of analog parts and also localisation of single parametric faults with tolerance of non-faulty elements taken into account.

Wykorzystanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do diagnostyki uszkodzeń części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych

51%

Czaja Z. , Kowalewski M. , Zielonko R.

2011

tom R. 87, nr 10

184-187

Przedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz diagnostycznej z wykorzystaniem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera. Omówiono konstrukcję klasyfikatora DB oraz metodę wyznaczania jego parametrów na przykładzie filtru dolnoprzepustowego 3-go rzędu.

The aim of the paper is usage of the classifier with Two-Center Basis Functions for detection and localization of faults in electronic embedded systems controlled with microcontrollers. Details of measurement and diagnosis procedures with use of the TCB classifier implemented in the microcontroller’s program code were presented. Construction and a method of obtaining of parameters the TCB classifier on the exemplary 3th order filter were presented.