Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

1

Nowa, metrologicznie zorientowana sieć neuronowa i metoda diagnostyki obiektów technicznych

100%

Zielonko R. , Kowalewski M.

|

tom R. 54, nr 3

174-177

PL

W artykule przedstawiono nową, metrologicznie ukierunkowaną sieć neuronową oraz bazującą na niej metodę diagnostyki uszkodzeń parametrycznych układów analogowych, z klasyfikcją neuronową, o zwiększonej odporności na tolerancje elementów układu i niepewności pomiaru. Zaproponowano sieć neuronową z Dwu-centrowymi Radialnymi Funkcjami Bazowymi (DRFB), której walorem jest lepsze odwzorowanie słownika uszkodzeń, poprawa dokładności klasyfikacji i większa odporność na tolerancje, w porównaniu z siecią zawierającą jedno-centrowe radialne funkcje bazowe (RFB). Opisano 2 metody konstrukcji słownika uszkodzeń, w postaci rozproszonych krzywych identyfika-cyjnych, wykorzystujące transformację biliniową oraz analizę składowych głównych. Metodę zilustrowano na przykładzie diagnostyki 2 prostych układów analogowych. Może ona być stosowana do diagnozowania innych obiektów technicznych.

EN

In this paper a new metrologically oriented neural network and method for parametric fault localization and rough identification are presented. The characteristic feature of the network is application of new two-center radial basis functions in the hidden layer. In result, the better classification accuracy, as well as robustness against non-faulty component tolerances and measurement errors has been obtained, in comparison with known Radial Basis Function neural network. Two construction methods of fault dictionary in the form of dispersed identification curves are described: bilinear transformation and principal component analysis methods. The diagnosis method was illustrated on the exemplary 2 analog circuits. It can be used for diagnosis of other technical objects.

2

Kryterium doboru częstotliwości w pomiarach identyfikacyjnych metodą odwrotnego przekształcenia biliniowego

100%

Niedostatkiewicz M. , Zielonko R.

|

tom R. 53, nr 9 bis

213--216

PL

W pracy przedstawiono badania porównawcze nowych kryteriów doboru częstotliwości dla pomiarów identyfikacyjnych obiektów technicznych modelowanych za pomocą dwójników wieloelementowych metodą odwrotnego przekształcenia biliniowego. Metoda pozwala skrócić czas identyfikacji w porównaniu z konwencjonalną spektroskopię impedancyjną. Badane kryteria są oparte na wrażliwości wielkoprzyrostowej, reprezentowanej przez długości łuków krzywych identyfikacyjnych przekształcenia biliniowego.

EN

The paper presents the comparison of new frequency selection criteria for the method of parameter identification of technical objects modelled by two terminal networks, based on inverse bilinear transformation. The method allows to reduce the identification time as compared to conventional impedance spectroscopy based approach. The tested criteria have been based on high-signal sensitivity represented by the length of bilinear transform identification curves

3

Measurement microsystem for high impedance spectroscopy of anticorrosion coatings

80%

Hoja J. , Lentka G. , Zielonko R.

|

tom Vol. 9, nr 1

31-44

EN

The paper deals with the problem of very high impedance measurements ... in a wide frequency range from 100 [mi]Hz to 1 MHz dedicated to parameters identification of anticorrosion coatings. The construction of the high impedance measurement microsystem (HIMS) has been de-scribed. The microsystem consists of 5-terminal input circuitry, a phase sensitive detector based on discrete Fourier transformation (DTF), a measurement generator with direct digital synthesis (DDS) and DSP processor. The results of the microsystem verification have been presented on the example of measurement of multi-element two-terminal RC networks modelling real anticorrosion coatings.

PL

W artykule przedstawiono mikrosystem do pomiarów bardzo dużych impedancji ... ukierunkowany na identyfikację parametrów powłok antykorozyjnych metodą spektroskopii impedancyjnej. Do wyznaczania składowych ortogonalnych sygnałów pomiarowych zastosowano w nim technikę cyfrowego przetwarzania sygnałów. Pozwoliła ona na uzyskanie szerokiego zakresu częstotliwości pomiarowych, a zwłaszcza bardzo niskich, od 100 [mi]Hz do 1 MHz, przy zachowaniu prostej konstrukcji zapewniającej niską cenę mikrosystemu. Dzięki zastosowaniu obwodu wejściowego z przetwornikiem prądu na napięcie, mikrosystem umożliwia pomiary impedancji w zakresie ... z błędem mniejszym niż 2,5 %. Mikrosystem zrealizowano w formie przyrządu wirtualnego. Składa się on z modułu pomiarowego połączonego interfejsem RS-232 z komputerem przenośnym. Moduł pomiarowy zrealizowany na pięciu eurokartach składa się z 5-zaciskowego obwodu wejściowego, detektora fazoczułego wykorzystującego dyskretną transformatę Fouriera, generatora pomiarowego z bezpośrednią syntezą częstotliwości, procesora sygnałowego oraz zasilacza. Przedstawiono badania dwu i czteroelementowych dwójników RC modelujących powłoki antykorozyjne. Pozwoliły one na identyfikację elementów składowych dwójników z dokładnością nie gorszą niż 2 % dla elementów rezystorowych i 2-4 % dla pojemnościowych w zależności od wpływu sieci bocznikującej. Wykorzystanie nowoczesnych podzespołów elektronicznych w połączeniu z techniką cyfrowego przetwarzania sygnałów pozwoliło na uzyskanie taniego przyrządu, którego parametry użytkowe w zakresie częstotliwości stosowanych w diagnostyce powłok antykorozyjnych, przewyższają parametry komercyjnej aparatury profesjonalnej (Solartron) wykonanej w technologii tradycyjnej.

4

System pomiarowo-diagnostyczny pakietów elektronicznych z biblioteką analitycznych metod diagnostycznych

71%

Zielonko R. , Hoja J. , Bartosiński B. , Lentka G. , Toczek W.

|

tom R. 45, nr 6

7-12

PL

Na tle tendencji rozwojowych w dziedzinie testowania pakietów elektronicznych przedstawiono system pomiarowo-diagnostyczny kolejnej generacji, opracowany w Politechnice Gdańskiej w ramach projektu badawczego KBN. Charakterystyczną cechą systemu, stanowiącąnowość w odniesieniu do współczesnych systemów tego typu, jest wyposażenie w bibliotekę analityczną metod diagnostycznych, umożliwiających lokalizację uszkodzonych elementów niedostepnych zaciskowo. Nową cechą jest też przystosowanie systemu do diagnostyki układów cyfrowych za pomocą magistrali diagnostycznej IEEE 1149,1. Omówiono architekturę systemu, ciekawsze rozwiązania układowe oraz nowe metody analityczne.

EN

A measuring system of new generation for testing and diagnosis of electronic PCBs is presented. The system has been designed in Technical University of Gdansk as research project of KBN. Main feature of the system is library of analytical diagnostic methods making possible testing and fault location of the circuits with limited accessibility to internal nodes. The paper describes system architecture and some solution of measuring modules. Then, two diagnostic methods: the complementary signals method and the circuit-analytical approach method, based on verification concept, are discussed. For nonlinear circuits, association of piecewise linearization of circuit component characteristics and linear verification is used. The system has also ability to test digital circuits using IEEE 1149,1 diagnostic bus.

5

Testery magistrali diagnostycznej

51%

Bartosiński B. , Borkowska M. , Gliński K. , Gonera M. , Hoja J. , Rydzkowski W. , Wach A. , Zbrzeżny B. , Zielonko R.

|

tom nr 134

4-1