PL
 |
EN
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 12

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Wykorzystanie charakterystyki adresowej w transparentnym testowaniu pamięci RAM
100%
Mrozek I. , Yarmolik V.
Logistyka
|
2010
|
tom nr 6
PL
Artykuł przedstawia strategię transparentnego testowania pamięci RAM opartą o charakterystykę adresową. Charakterystyka ta jest otrzymywana jako suma modulo 2 adresów wszystkich komórek pamięci, których zawartość jest równa 1. Charakterystyka ta może zostać wykorzystana jako sygnatura odniesienia w procesie testowania transparentnego. W artykule zostaną zaprezentowane podstawowe własności powyższego podejścia jak również zamieszczone zostaną wyniki otrzymane drogą symulacji potwierdzające wysoką wydajność tak realizowanych testów transparentnych.
EN
In this paper the new concept of transparent RAM testing based on Self- Adjusting Output Data Compression (SAODC) have been proposed and developed. The presented technique is based on a memory characteristic derived as the modulo- 2 sum of all addresses pointing to non-zero memory cells. This characteristic can be used as the RAM under test fault-free signature. The main properties of New transparent tests are investigated and experimentally validated.
2
Kontrolowane generowanie optymalnych testów losowych
100%
Mrozek I. , Yarmolik V.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2015
|
tom Vol. 56, nr 8
64-66
PL
Jedną ze standardowych technik stosowanych w procesie testowania zarówno systemów elektronicznych jak i oprogramowania jest technika testów losowych. Standardowe testy losowe nie wykorzystują jednak informacji jakie są dostępne w środowisku testowania czarnej skrzynki. Informacja ta wykorzystywana jest w wypadku kontrolowanego generowania testów losowych (ang. Contrlled Random Tests), co w sposób znaczny pozwala zwiększyć efektywność realizowanych testów. W artykule przeanalizowane zostały podstawowe metryki odnoszące się do pomiaru zróżnicowania generowanych wzorców testowych. Maksymalizacja przedstawionych metryk pozwoliła wygenerować optymalny kontrolowany test losowy (ang. Optimal Controlled Random Test – OCRT), a następnie zaproponować algorytm, o niskiej złożoności obliczeniowej, pozwalający na automatyzację procesu generowania testów optymalnych.
EN
Random testing is a low cost method that is successfully applied to a wide range of testing problems. Standard random testing does not exploit some information that is available in black box testing environment. Therefore controlled approach to random testing (Controlled Random Tests) may be used. In the paper basic metrics to generate controlled random tests are considered. Optimization of the numerical values of these metrics allowed to define both optimal controlled random test and easy computationally algorithm to generate these tests.
3
Transparentne testowanie pamięci RAM oparte na charakterystyce adresowej
100%
Mrozek I. , Yarmolik V.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2010
|
tom Vol. 51, nr 9
161-163
PL
Artykuł przedstawia strategię transparentnego testowania pamięci RAM opartą o charakterystykę adresową. Charakterystyka ta jest otrzymywana jako suma modulo 2 adresów wszystkich komórek pamięci, których zawartość jest równa 1. Charakterystyka ta może zostać wykorzystana jako sygnatura odniesienia w procesie testowania transparentnego. W artykule zostaną zaprezentowane podstawowe własności powyższego podejścia jak również zamieszczone zostaną wyniki otrzymane drogą symulacji potwierdzające wysoką wydajność tak realizowanych testów transparentnych.
EN
In this paper the new concept of transparent RAM Testing based on Self-Adjusting Output Data Compression (SAODC) have been proposed and developed. The presented technique is based on a memory characteristic derived as the modulo-2 sum of all addresses pointing to non-zero memory cells. This characteristic can be used as the RAM under test fault-free signature. The main properties of new transparent tests are investigated and experimentally validated.
4
Generowanie optymalnych wektorów testowych pamięci RAM
100%
Mrozek I. , Yarmolik V.
Logistyka
|
2011
|
tom nr 6
PL
Efektywne wektory testowe i sposoby ich generowania odgrywają znaczącą rolę w testowaniu zarówno oprogramowania jak i sprzętu. Jednym z najtańszych podejść do problemu generowania wektorów testowych jest podejście oparte o wektory losowe. Obecnie w literaturze zaproponowanych zostało wiele nowych metod znacząco poprawiających efektywność testowania losowego należących do grupy kontrolowanego testowania losowego. W podejściu tym wybrane parametry tworzonych wektorów są z góry ustalane. W artykule zaproponowana zostanie nowa metoda generowania wektorów testowych. W proponowanym podejściu jako funkcja ich dopasowania użyta zostanie Maksymalizacja Minimalnej Odległości Hamminga, w odróżnieniu do standardowej odległości Hamminga używanej w podejściu znanym z literatury. Pozwoli to na wygenerowanie optymalnych wektorów testowych, których efektywność sprawdzona zostanie w odniesieniu do uszkodzeń PSF pamięci RAM.
EN
Efficient test vectors and methods of their generation play crucial role in both hardware and software testing. Random testing is a low cost method that can be applied to a wide range of testing problems. Recently, a number of novel techniques, include Antirandom Testing strategies, have been developed to increase the effectiveness of random testing. In this paper, we propose a new algorithm for antirandom test generation. As the fitness function we use Maximal Minimal Hamming Distance (MMHD) rather than standard Hamming distance as is used in the classical approach. This approach allows us to generate optimal test vectors for RAM testing.
5
Metody i implementacja ochrony praw autorskich w oprogramowaniu komercyjnym
100%
Brzozowski M. , Yarmolik V.
Wiadomości Elektrotechniczne
|
2004
|
tom R.LXXII, nr 12
28-29
PL
Przedstawiono podstawowe metody zabezpieczenia danych w sieciach komputerowych (podpis cyfrowy i znak wodny). Zaprezentowano algorytm znaku wodnego dla kodu źródłowego oprogramowania.
EN
The paper presents hazards in networks and methods of protection of users. Some basie protection methods are presented (digital signature and watermark). Watermark algorithm for source code of software is presented.
6
Content available remote Multiple Controlled Random Testing
100%
Mrozek I. , Yarmolik V.
Fundamenta Informaticae
|
2016
|
tom Vol. 144, nr 1
23--43
EN
Controlled random tests, methods of their generation, as well as their application to the testing of both hardware and software systems are discussed. Available evidences suggest that high computational complexity is one of the main drawback of these methods. Therefore we propose a technique to overcome this problem. In the paper, we introduce the concept of multiple controlled random tests (MCRT) and examine various numerical characteristics in terms of the development of those tests. We prove the effectiveness of the Euclidean distance, as well as we propose an easy computational method of its calculation, in the process of constructing MCRT. The presented approach is evaluated through the experimental study in the context of testing of Random Access Memory (RAM).
7
Cyfrowe znaki wodne
100%
Brzozowski M. , Yarmolik V.
Wiadomości Elektrotechniczne
|
2005
|
tom nr 10
14--16
PL
Omówiono historię powstania znaków wodnych, ich rodzaje, kryteria doboru oraz zastosowanie w technice komputerowej.
EN
The history of watermarks, their types, selection criteria and application in computer technology is discussed.
8
Transparentne testowanie pamięci RAM oparte na charakterystyce adresowej
100%
Mrozek I. , Yarmolik V.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2011
|
tom Vol. 52, nr 12
114-116
PL
Artykuł przedstawia strategię transparentnego testowania pamięci RAM opartą o charakterystykę adresową. Charakterystyka ta jest otrzymywana jako suma modulo 2 adresów wszystkich komórek pamięci, których zawartość jest równa 1. Charakterystyka ta może zostać wykorzystana jako sygnatura odniesienia w procesie testowania transparentnego. W artykule zostaną zaprezentowane podstawowe własności powyższego podejścia jak również zamieszczone zostaną wyniki otrzymane drogą symulacji potwierdzające wysoką wydajność tak realizowanych testów transparentnych.
EN
In this paper the new concept of transparent RAM Testing based on Self-Adjusting Output Data Compression (SAODC) have been proposed and developed. The presented technique is based on a memory characteristic derived as the modulo-2 sum of all addresses pointing to non-zero memory cells. This characteristic can be used as the RAM under test fault-free signature. The main properties of new transparent tests are investigated and experimentally validated.
9
Testowanie transparentne z wykorzystaniem zespołu sygnatur
100%
Mrozek I. , Yarmolik V.
Logistyka
|
2011
|
tom nr 3
PL
Artykuł przedstawia zmodyfikowane podejście do transparentnego testowania pamięci opartego o testy krokowe. Podejście to umożliwia znaczne skrócenie czasu niezbędnego do wyliczenie sygnatury odniesienia. W proponowanej metodzie sprowadza się to do wykonania fazy odczytu o złożoności 1N. Dodatkowo metoda ta pozwala na łatwe określenie wartości sygnatury odniesienia charakterystycznej dla każdej fazy testu. Dzięki temu możliwa jest ocena poprawności działania pamięci nie tylko po zakończeniu całego procesu testowania (jak ma to miejsce w podejściu klasycznym), ale również po zakończeniu każdej jego fazy. Zmniejsza to w efekcie współczynnik maskowania uszkodzeń i prowadzi do zwiększenia ich pokrycia.
EN
In this paper the new concept of transparent RAM testing based on march tests has been proposed. This approach allows substantially reduce the time needed to calculate the faultfree signature. In the proposed concept complexity of this process is reduced to 1N. In addition, this method allows you to easily determine the value of the reference signatures of each phase of the transparent march test. It allows to compare the fault-free signature with real signature at the end of all march test phases. This reduces the effect of fault masking and leads to an increase of fault coverage.
10
Wieloprzebiegowe testy krokowe pamięci RAM
100%
Mrozek I. , Yarmolik V.
Logistyka
|
2010
|
tom nr 2
PL
Tradycyjne testy pamięci oparte o pojedynczy przebieg posiadają stałą i dość niską wydajność w odniesieniu do uszkodzeń uwarunkowanych zawartością (PSF). Celem zwiększenia tej wydajności stosuje się m.in. testowanie wieloprzebiegowe w których ten sam test bazowy realizowany jest wielokrotnie przy zmienianych warunkach początkowych. W artykule uwaga skupiona zostanie na porównaniu różnych testów krokowych i możliwości ich wykorzystania w technice testowania wieloprzebiegowego. Porównanie to oparte będzie o zdefiniowany współczynnik ważonej wydajności testów pozwalający w bardziej obiektywny sposób określić wydajność testu.
EN
Conventional memory tests based on only one run have constant and low faults coverage especially for Pattern Sensitive Faults (PSF). To increase faults coverage the multiple run March test algorithms have been used. This article will focus mainly on the comparison of different tests and the possibility of their use in the multiple run memory tests technique. This comparison will be based on the defined Weighted Fault Coverage measure for March Test. It allows to us in a more objective way to determine test performance.
11
Generowanie wieloprzebiegowych kontrolowanych testów losowych
100%
Mrozek I. , Yarmolik V.
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
|
2016
|
tom Vol. 57, nr 11
99--101
PL
Zauważalną niedoskonałością standardowego podejścia do kontrolowanego generowania testów losowych jest wysoka złożoność obliczeniowa procesu. Dlatego w artykule przedstawiona zostanie technika kontrolowanego generowania testów losowych pozwalająca w sposób znaczny zmniejszyć tę złożoność. Technika ta wykorzystuje ideę testów wieloprzebiegowych i w odróżnieniu od podejścia klasycznego skupia się na generowaniu całych kolejnych testów a nie pojedynczych wzorców testowych.
EN
Available evidences suggest that high computational complexity is one of the main drawback of controlled random tests. Therefore a technique to overcome this problem is proposed in the paper. We introduce the concept of multiple controlled random tests (MCRT) and examine various numerical characteristics in terms of the development of those tests. An important key advantage of these techniques is that, in contrast to standard controlled random tests, they use a general characteristic for the test as a whole instead of separately for each test vector.
12
Content available remote Antirandom Test Vectors for BIST in Hardware/Software Systems
100%
Mrozek I. , Yarmolik V.
Fundamenta Informaticae
|
2012
|
tom Vol. 119, nr 2
163-185
EN
Antirandom testing has proved useful in a series of empricial evaluations. It improves the fault-detection capability of random testing by employing the location information of previously executed test cases. In antirandom testing we select test pattern (test vector) such that it is as different as possible from all the previous executed test cases. Unfortunately, this method essentially requires enumeration of the input space and computation of each input vector when used on an arbitrary set of existing test data. This avoids scale-up to large test sets and (or) long input vectors. In this paper, we propose a new algorithm for antirandom test generation that is computationally feasible for BIST (Built In Self Test) tests. As the fitness function we use Maximal Minimal Hamming Distance (MMHD) rather than standard Hamming distance as is used in the classical approach. This allows to generate the most efficient test vectors in term of weighted number of generated k-bits tuples. Experimental results are given to evaluate the performance of the new approach.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.