Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

1

Use of image analysis in determining the thicknesses of coatings

100%

Kalabisova E. , Turek L.

|

2007

|

tom nr 2

66-69

EN

Image analysis is an innovative solution in material characterization. One of the areas where image analysis can be put to use effectively is in establishing the thicknesses of coatings encountered in surface fi nishing applications. Galvanizing ranks among the most widely used corrosion protection techniques, and estimates of the useful service life of surface-finished substrate material hinge on establishing the correct thickness of the zinc layer applied in the galvanizing process. In applications where the fi lm thickness does not lend itself easily to measurements by common thickness gauges (such as on highly curved surfaces), a method which, in addition to fi lm removal by etching, is well-suited for measuring thicknesses is using the microscope. Prior to the measurement, polished metallographic sections are prepared from suitable specimens, and the measurement itself is conducted as per the standard EN ISO 1463 [1]. The thickness measurement proper is performed at regular intervals around the sample periphery, where the sample is allowed to travel within the optical system of the microscope and the readings are compared with a calibrated scale of the eyepiece. In case image analysis technique is used, the over-all, as-recorded image of the sample provides the input data for a software separation process by which the image of the Zn layer is isolated and, subsequently, evaluated using image analysis software. From comparisons of the results achieved it follows that the use of image analysis, which is also less time-consuming, yields more accurate results.

PL

Metoda analizy obrazu to nowoczesne rozwiązanie stosowane w charakterystyce materiałów. Metoda ta znajduje praktyczne zastosowanie m.in. w ustalaniu grubości powłok w procesie obróbki powierzchniowej. Cynkowanie jest metodą najszerzej stosowaną w ochronie przed korozją i założona trwałość pokrytego powłoką podłoża po obróbce powierzchniowej wpływa na ustalenie odpowiedniej grubości powłoki cynku nałożonego w procesie cynkowania. W przypadkach gdy grubości nie można w łatwy sposób zmierzyć za pomocą standardowych urządzeń pomiarowych (np. gdy powierzchnie są mocno zakrzywione), oprócz techniki polegającej na usunięciu powłoki przez wytrawienie zastosowanie znajduje również metoda mikroskopowa. Przed wykonaniem pomiaru przygotowane zostają wypolerowane próbki metalografi czne, a sam pomiar jest wykonywany według normy EN ISO 1463 [1]. Grubość właściwa mierzona jest w równych odstępach w obrębie próbki, gdy próbka przesuwana jest w polu widzenia systemu optycznego mikroskopu, zaś odczyty porównywane są ze skalibrowaną skalą na okularze. W przypadku zastosowania metody obróbki obrazu, dane wejściowe uzyskane bezpośrednio z zarejestrowanego obrazu zostają przesłane do odpowiedniego programu, który następnie izoluje warstwę cynku aby później poddać ją obróbce. Na podstawie porównania wyników ustalono, że zastosowanie metody obróbki obrazu pozwala na uzyskanie bardziej dokładnych wyników w krótszym czasie.

2

Possibility of mechanical deposition of protective Zn coatings

75%

Brezinova J. , Guzanova A.

|

2008

|

tom z. 73 [253]

47-53

EN

This paper presents actual investigation results of experiment that was oriented to the verification of the possibility of applying zinc on steel surface by blasting technology using zinc-coated cut wire. Suitable method for zinc layers deposition and evaluation of their corrosion resistance was determined. Accelerated laboratory tests with presence of SO2 and long term working tests in atmospheric conditions was used. Creation of incoherent zinc coatings was established on the bases of metallographic and spectral analysis. Process of cold zinc by blasting is able to use as temporary anticorrosion protection of steel surface.

3

Zastosowanie nowoczesnych metod badawczych w analizie mikrostruktury powłok cynkowych

63%

Płocińska M. , Płociński T. , Szawłowski J. , Kurzydłowski K. J.

|

2011

|

tom nr 2

36-39

PL

Rozwój nowoczesnych metod badawczych, w połączeniu z coraz powszechniejszym dostępem do nich, pozwala na uzyskanie pełniejszego spojrzenia na budowę materiałów warstwowych takich jak powłoki cynkowe. Zastosowanie szeregu technik, umożliwiających analizowanie elementów mikrostruktury materiału w różnej skali, pozwala zobrazować wszystkie jej elementy, co daje możliwość właściwej interpretacji mechanizmów zachodzących na etapie powstawania powłok cynkowych. Proces cynkowania zanurzeniowego zachodzi na tyle szybko, że obecnie prowadzone badania opierają się głównie na analizie mikrostruktury już powstałych powłok. Klasyczne podejście do analizy właściwości powłok cynkowych oparte jest na wynikach obserwacji wykonanych na przekroju poprzecznym, przy użyciu mikroskopii świetlnej. Technika ta w zadowalający sposób przedstawia złożoną budowę powłoki, ujawniając poprzez chemiczne trawienie granice międzyfazowe. Jednak w celu pełnego scharakteryzowania budowy powłoki, konieczne jest zastosowanie innych technik takich jak skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM), skaningowa transmisyjna mikroskopia elektronowa (STEM), skaningowa mikroskopia jonowa (SIM), których wykorzystanie gwarantuje zobrazowanie struktury w pełnym zakresie. Równie ważna w badaniu powłok cynkowych jest możliwość wykonania dokładnej analizy fazowej powłok cynkowych, którą jest najlepiej wykonywać przy wykorzystywaniu silnych źródeł promieniowania uzyskiwanego np. w synchrotronie. W niniejszej pracy przedstawiono opis szeregu różnych technik badawczych oraz wyniki obrazujące mikrostrukturę powłok cynkowych. Przedstawione wyniki pozwalają na uzyskanie nowego, pełniejszego spojrzenia na budowę powłoki cynkowej.

EN

Common use and development of novel investigations technique is useful to get complementary information on zinc layers microstructure. Different techniques application, which are able to analyze materials microstructure in wide range of scale, give possibility to imaging all microstructure elements. That kind results are easier for interpretation of zinc layer growth mechanism. Zinc layer formation in hot-dip zinc galvanizing technique is growing too fast to analyze it, so most of results are present microstructure after layer formation. Classical approach to properties analysis of zinc layer is based on cross-section microstructure observations by application of light microscopy. This technique is useful for investigation of zinc layers complicated structure. Microstructure of different phases is revealed by chemical etching. However for complete characterization of the zinc layer microstructure, it is necessary to apply other techniques like Scanning Electron Microscopy (SEM), Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM), Focused Ion Beam (FIB). These techniques are more suitable for microstructure investigations in wide range of scale. Sophisticated phase analysis are also important during zinc layer investigations. That investigations are possible with synchrotron radiation. This paper contains description of different techniques and results which revealed zinc layer microstructure. Presented results can be used for novel approach on zinc layer composition.