Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 4

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: uszkodzenia katastroficzne

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

An algorithm for fault diagnosis in analogue circuits based on correlation

100%

Korzybski M. , Ossowski M.

tom R. 89, nr 2a

282--284

The paper deals with algorithm for single and multiple catastrophic fault diagnosis in analogue circuits. The algorithm bases on FFT analysis of the circuit response to the rectangular testing signal and uses as a classifier Pearson product-moment correlation coefficient. The algorithm represents SBT technique and requires multiple analyses of circuit under test, which enable us to built a fault dictionary. Each entry of dictionary is assigned with one fault. The numerical example shows the effectiveness of the proposed algorithm.

W artykule przedstawiony został algorytm diagnozowania pojedynczych i wielokrotnych uszkodzeń układów analogowych. Algorytm bazuje na wykorzystującej FFT analizie odpowiedzi badanego układu na prostokątny sygnał wejściowy oraz stosuje jako klasyfikator współczynnik korelacji Pearsona. Algorytm reprezentuje technikę SBT i na etapie przygotowawczym wymaga wielokrotnych analiz diagnozowanego układu pozwalających na zbudowanie słownika uszkodzeń. Jego sygnatury odpowiadają uszkodzeniom, których możliwość występowania została przewidziana na etapie przygotowawczym. Przedstawiony przykład obliczeniowy potwierdza efektywność algorytmu.

Ewolucyjna metoda diagnozowania wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych

100%

Korzybski M.

tom R. 85, nr 11

195-198

W pracy przedstawiona została modyfikacja algorytmu diagnozowania wielokrotnych uszkodzeń parametrycznych i katastroficznych w liniowych i nieliniowych obwodach elektrycznych pozwalająca bardzo często na istotne skrócenie czasu obliczeń potestowych. Jest to efekt uwzględnienia faktu dużo większego prawdopodobieństwie występowania uszkodzeń katastroficznych niż parametrycznych. Umożliwiło to w wielu przypadkach eliminację procesu dokładnej identyfikacji uszkodzenia wykorzystującego algorytm genetyczny.

The paper deals with a modyfication of an algorithm for multiple parametric and catastrofic fault diagnosis in linear and nonlinear electronic circuits, which enable us frequently to shorten the after-test computation time. Due to the greater probability of catastrofic than parametric fault occurrence the process of exactly fault identyfication, which uses genetic algorithm, can be often eliminated.

Data mining based algorithm for analog circuits fault diagnosis

100%

Ossowski M. , Korzybski M.

tom R. 89, nr 2a

285--287

The paper deals with feature selection of testing signals used for fault-driven analysis of analog circuits based on some grey systems properties. Simple two stages fault diagnostic strategy for circuits with limited access to internal nodes is presented, illustrated with the examples and discussed. Algorithm enabling to detect and localize single and multiple catastrophic faults, is prepared under assumption, that input data sets are extracted from DC analysis.

W artykule przedstawiono dwuetapowy algorytm detekcji I lokalizacji pojedynczych i wielokrotnych uszkodzeń układów analogowych, oparty o pewne techniki drążenia danych i elementy teorii systemów szarych. Założono ograniczony dostęp do punktów wewnętrznych oraz możliwość analizy dynamicznej i stałoprądowej badanych układów.

Fault diagnosis of analog electronic circuits with tolerances in mind

70%

Chruszczyk Ł.

2011

tom Vol. 52, nr 12

42-46

This paper presents analysis of components tolerance influence on fault diagnosis efficiency of analog electronic circuits. There has been proposed method of finding optimal frequency of input periodic excitation with simultaneous maximization of components tolerances in order to keep assumed level of diagnosis efficiency. There has been also proposed departure from classical "location after detection" schema. Combination of detection and location in a single step can remarkably shorten diagnosis time. The optimization process involves genetic algorithm.

W pracy przeanalizowano wpływ tolerancji projektowych elementów na skuteczność diagnostyki analogowych układów elektronicznych. Zaproponowano metodę doboru częstotliwości okresowego pobudzenia testowego z jednoczesną maksymalizacją tolerancji elementów przy zachowaniu założonej skuteczności diagnostyki. Zaproponowano także odejście od klasycznego dwuetapowego schematu: ''lokalizacja po detekcji", co pozwoliło na skrócenie całkowitego czasu testowania. W procesie optymalizacyjnym wykorzystano algorytm genetyczny.