PL
 |
EN
Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl
Preferencje help
Polish version English version Język
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników

Znaleziono wyników: 12

Liczba wyników na stronie
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
Wyniki wyszukiwania
Wyszukiwano:
w słowach kluczowych:  układy analogowe
help Sortuj według:

help Ogranicz wyniki do:
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
1
Problemy kalibracji multimetrów cyfrowych
100%
Jackiewicz B.
|
2001
|
tom nr 146
61-64
2
An analogue electronic circuits specification driven testing with the use of time domain response's features
100%
Jantos P. , Golonek T. , Rutkowski J.
|
2011
|
tom Vol. 52, nr 12
65-68
EN
This paper presents a deterministic method of analogue electronic circuits' specification driven testing. This method is based on an analysis of a circuit-under-test time-domain response's to a pulse excitation. We are extracting the response's and its first order derivative minima and maxima locations. Then, the tested circuit's specifications are mapped into response's features planes. At the test stage, extracted reaponse's features are used to predict specifications values. The decision about the test result (GO/NO-GO) is made with a simple deterministic inference system. Our testing method has been verified with a use of an exemplary circuit, a low-pass filter.
PL
W artykule przedstawiono deterministyczną metodę testowania analogowych układów elektronicznych. Metoda ta bazuje na wykorzystaniu cech odpowiedzi testowanego układu na wymuszenie w dziedzinie czasu. W zapisie odpowiedzi znajdowane są kolejne ekstrema. Specyfikacje układu testowanego są aproksymowane w przestrzenie zdefiniowanej czasem wystąpienia oraz wartością kolejnych cech odpowiedzi. Prosty, deterministyczny system ekspercki pozwala na stwierdzenie, czy testowany układ spełnia założenia specyfikacji. Prezentowana metoda testowania została zweryfikowana z wykorzystaniem przykładu obliczeniowego - filtru dolnoprzepustowego.
3
Content available remote Przeciwsobny wzmacniacz mocy klasy AB z wyjściem prądowym
100%
Kristof A.
|
2009
|
tom R. 85, nr 11
181-184
PL
W artykule przedstawiono opis struktury układowej i zasady działania przeciwsobnego wzmacniacza mocy z wyjściem prądowym. Wzmacniacz zbudowany jest z elementów dyskretnych. Zastosowano w nim aktywną linearyzację tranzystorów mocy w stopniu końcowym. Artykuł zawiera także wskazówki dotyczące praktycznej implementacji tego rozwiązania. Przedstawione zostały również wyniki pomiarów, które ujawniają rzeczywistą liniowość prototypowego wzmacniacza podczas pracy bez globalnej pętli sprzężenia zwrotnego.
EN
In this paper a current-output push-pull power amplifier have been described, including its circuit structure and principles of operation. The amplifier is composed of discrete components. Active linearization technique is applied to its output-stage power transistors. Some hints are also given which relate to practical implementation of this solution. Finally, measurement results are presented which reveal true linearity of the author prototype amplifier during operation without the global feedback loop.
4
Content available remote Detekcja i lokalizacja uszkodzeń układów analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów
100%
Ossowski M. , Kuczyński A.
|
2009
|
tom R. 85, nr 11
188-191
PL
W artykule omówiono zastosowanie algorytmów bazujących na analizie odpowiedzi czasowej prądu zasilania do detekcji i lokalizacji uszkodzeń katastroficznych i parametrycznych. Zaprezentowano prosty algorytm wykorzystujący procedury ewolucyjne do wyznaczaniu zaakresu zmienności sygnałów. Zamieszczono przykład detekcji i lokalizacji uszkodzeń układu analogowego z uwzględnieniem tolerancji.
EN
Fault detection and localization algorithms, based on supply current transient analysis, are described in the paper. A new approach to tolerance regions calculation using genetic algorithms is presented. Numerical example illustrating fault detection and localization with tolerance is briefly discussed.
5
Content available remote Bikwadratowe struktury filtrujące z wykorzystaniem dwóch sterowanych konwejerów prądowych CCC
100%
Pasko M. , Sztymelski K.
|
2007
|
tom z. 2
21-30
PL
Częstotliwościowa filtracja sygnałów elektrycznych to zagadnienie nurtujące inżynierów od wielu lat. Sygnałem filtrowanym najczęściej jest sygnał napięciowy, jednakże często konieczne staje się zaprojektowanie struktury, dla której ważne są parametry przenoszenia sygnałów prądowych. Niezwykle szybko rozwijająca się technika układów cyfrowych nie zlikwidowała, jak sądzono, potrzeby korzystania z układów analogowych, a jedynie narzuciła tym układom bardzo wysokie wymagania. Układy analogowe współpracujące z układami cyfrowymi muszą pracować przy coraz niższych napięciach zasilających, z jednocześnie coraz większym (sięgającym nawet GHz) pasmem przenoszenia. Spełnienie takich wymagań stawało się coraz trudniejsze w grupie klasycznych wzmacniaczy napięciowych. W ostatnich latach duże znaczenie zdobyły układy przetwarzające sygnały prądowe, charakteryzujące się między innymi: możliwością wzmacniania bardzo małych sygnałów, szerokim pasmem przenoszenia, małym poborem mocy czynnej, prostą wewnętrzną konstrukcją, dużą dynamiką, wzmocnieniem nieuzależnionym od napięcia zasilania układu. Autorzy zaproponowali w artykule nowe bikwadratowe struktury filtrujące z dwoma sterowanymi konwejerami prądowymi.
EN
Frequency filtration of electric analogue signals is a question that bothered engineers for many years. The filtered signal is mostly a voltage signal, however, it is often necessary to design the structure for which parameters of transmission of other electric signals such as current are important. Very fast developing techniques of digital systems did not eliminate, as was thought, the need of the use of analogue systems, but only imposes on them very high requirements. Analogue systems cooperating with digital systems must work at a lower and lower supply voltage and at the same time at a higher and higher bandwidth (reaching even GHz). Satisfaction of those requirements became more difficult in the group of classic voltage amplifiers. Lately systems processing current signals characterized among others by possibility of amplifying very small signals, wide bandwidth, low consumption of active power, simple internal construction, high dynamics, gain independent from system supply voltage have become very important. Authors have proposed in this paper a new biquad filtering structures with two Controlled Current Conveyors.
6
Zastosowanie układu FPAA do diagnostyki i testowania układów analogowych
100%
Grzechca D. , Golonek T.
|
2008
|
tom Vol. 49, nr 11
158-162
PL
W artykule przedstawiono możliwości, jakie oferuje analogowa matryca reprogramowalna do testowania specyfikacji projektowych. Pokazano procedurę, która z wykorzystaniem układu FPAA, pomaga zweryfikować zaprojektowane algorytmy. Układ FPAA symuluje w sposób funkcjonalny zachowanie obwodu analogowego, który pobudzony jest sygnałem sinusoidalnym o zmiennej częstotliwości. Na podstawie odpowiedzi amplitudowej układu, mogą być analizowane wybrane specyfikacje projektowe, w celach diagnostycznych. W pracy zamieszczono przykład symulacji dolnoprzepustowego filtru Butterwortha ósmego rzędu wraz z uzyskanymi wynikami badań. Naszkicowane podejście zbliża dziedzinę nauki zajmującą się testowaniem układów analogowych do praktyki inżynierskiej, dzięki temu opracowywane algorytmy mogą być bardziej skuteczne.
EN
The use of the reconfigurable analog array to specification driven test is discussed in the article. In order to verify any developed diagnosis algorithms in practical environment, we presents an application of a testing procedure for FPAA. The analog array simulates a functional behavior of the system and is driven by the AC sweep stimuli. Based on the amplitude response some features are measured that are to be used for system diagnosis. The simple 8th order LP filter is examined and the results are gathered in the article. The approach presented here seems to be very acurate for functional test validation due to its real world connection.
7
Poprawa skuteczności algorytmów detekcji i lokalizacji uszkodzeń nieliniowych układów analogowych za pomocą selekcji cech
100%
Ossowski M.
|
2010
|
tom Vol. 51, nr 12
36-39
PL
W pracy opisano strategie wydobywania i selekcji cech uszkodzeń analogowych układów nieliniowych pozwalających na optymalizację procesów diagnostycznych. Omówiono algorytmy służące do wyboru minimalnego zbioru atrybutów zapewniającego skuteczną diagnostykę założonych pojedynczych uszkodzeń katastroficznych i parametrycznych obwodów tranzystorowych przy ograniczonym dostępie do punktów wewnętrznych obwodu. Założono dostępność prądów w zasilania źrodeł oraz prądów i napięć wejściowych a ekstrakcji cech uszkodzeń dokonywano na podstawie analizy dynamicznej i stałoprądowej analogowych układów nieliniowych bez nie stosowania skomplikowanych narzędzi obróbki sygnałów.
EN
The strategy of feature extraction and selection enabling to improve efficiency of fault detection methods for analog nonlinear circuits is presented in the paper. Simple algorithm for data selection, ensuring the proper diagnosis of faulty circuits having single catastrophic and parameter faults is proposed and tested. All the investigations were performed using transient responses and DC measurements, for limited number of testing points, under assumption, that complex signal processing tools are not available.
8
Content available remote Implementacja metody diagnostycznej opartej na wielokrotnym próbkowaniu odpowiedzi czasowej w mieszanym sygnałowo mikrosystemie elektronicznym
84%
Czaja Z.
|
2011
|
tom R. 87, nr 9a
33-36
PL
Przedstawiono nową metodę samo-testowania toru analogowego zakończonego przetwornikiem A/C w mieszanych sygnałowo mikrosystemach elektronicznych sterowanych mikrokontrolerami. Bazuje ona na nowej metodzie diagnostycznej opartej na przekształceniu transformującym próbki odpowiedzi czasowej badanej części analogowej na pobudzenie impulsem prostokątnym na krzywe identyfikacyjne w przestrzeni pomiarowej. Metoda ta pozwala na detekcję i lokalizację pojedynczych uszkodzeń parametrycznych w układach analogowych.
EN
A new self-testing method of analog parts terminated by ADCs in mixed-signal electronic microsystems controlled by microcontrollers is presented. It bases on a new fault diagnosis method basing on transformation of voltage samples of the time response of a tested part on a square impulse into identification curves placed in a measurement space. The method can be used for fault detection and single soft fault localization.
9
Content available remote Wykorzystanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do diagnostyki uszkodzeń części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych
84%
Czaja Z. , Kowalewski M. , Zielonko R.
|
2011
|
tom R. 87, nr 10
184-187
PL
Przedmiotem artykułu jest zastosowanie klasyfikatora z dwucentrowymi funkcjami bazowymi do detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych systemach wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Przedstawiono szczegóły procedury pomiarowej oraz diagnostycznej z wykorzystaniem klasyfikatora DB zaimplementowanego w postaci algorytmicznej w kodzie programu mikrokontrolera. Omówiono konstrukcję klasyfikatora DB oraz metodę wyznaczania jego parametrów na przykładzie filtru dolnoprzepustowego 3-go rzędu.
EN
The aim of the paper is usage of the classifier with Two-Center Basis Functions for detection and localization of faults in electronic embedded systems controlled with microcontrollers. Details of measurement and diagnosis procedures with use of the TCB classifier implemented in the microcontroller’s program code were presented. Construction and a method of obtaining of parameters the TCB classifier on the exemplary 3th order filter were presented.
10
Content available remote Ewolucyjna metoda identyfikacji diagnostycznego stanu liniowego układu analogowego
84%
Golonek T. , Grzechca D. , Rutkowski J.
|
2009
|
tom R. 85, nr 11
135-138
PL
W artykule zaprezentowano ewolucyjną metodę identyfikacji stanu liniowego układu analogowego. Detekcja stanu dokonywana jest na podstawie analizy odpowiedzi czasowej. System ewolucyjny wykorzystuje ewolucję różnicową do poszukiwania optymalnego rozkładu zer, biegunów i współczynnika wzmocnienia transmitancji, który zapewni odpowiedź czasową identyczną jak w układzie identyfikowanym. W trakcie oceny fenotypu obliczana jest odchyłka bezwzględna pomiędzy przebiegami, która podlega minimalizacji w toku ewolucji.
EN
The evolutionary approach described in the paper allows to identify the analog circuit state. The analysis of a time response is used for circuit state recognition. The evolutionary system is basing on differential evolution and it is searching for the optimal zeros, poles and amplification coefficient decomposition which assure a time response identical as in the tested circuit. An absolute deviation is calculated during fitness evaluation and it is minimized during evolution.
11
Content available remote Generacja layoutu filtrów SI w strategii wierszowej
67%
Handkiewicz A. , Szczęsny S. , Naumowicz M. , Melosik M. , Katarzyński P.
|
2011
|
tom R. 87, nr 10
80-83
PL
Artykuł przedstawia metodę automatyzacji projektowania layoutu filtrów SI w strategii wierszowej z wykorzystaniem języka AMPLE. W pracy opisano narzędzia, które w krótkim czasie pozwalają niezależnie od technologii uzyskać layout układu złożonego z integratorow i zwierciadeł prądowych. Zaproponowane zostaje podejście pozwalające redukować pobieraną przez układ moc i zajętość powierzchni chipu lub zwiększyć szybkość działania. Skuteczność metody zobrazowana jest na przykładzie pary filtrów SI zaprojektowanej w technologii TSMC 0,18�μm.
EN
The article introduces a method of design automation of an SI filter layout using the row strategy with the help of the AMPLE language. The work describes tools which, in short time and independently on the used technology, allow to obtain a layout of a circuit composed of integrators and current mirrors. The presented approach allows to minimise the power consumption, to reduce the chip area or to enhance the speed of the circuit. The efficiency of the method is illustrated with an SI filter pair example, designed in the TSMC 0,18μm technology.
12
Multilevel hierarchical always cancellation-free symbolic analysis method for large electric networks
67%
Lasota S.
|
2013
|
tom Vol. 54, nr 2
51-57
EN
The paper presents an algorithm of the exact symbolic network function analysis that deals with circuits with any size. The only condition is to decompose the whole circuit into smaller sub-circuits. The decomposition can be the multi-level hierarchical one. What is more, the calculation for each level can be done only once and the partial results can be reused any time. A higher level subcircuit does not need too much information about a lower one. The method can be easily implemented in multiprocessor or distributed systems. Although multilevel and compressed structure, symbolical value remains cancellation-free and any path from the root to the terminal vertex represent a single term. Thus, a large-scale and small-scale sensitivities calculation and elimination of less significant terms become simply and natural. To get the s-Expanded form, the fast algorithm based on sparse polynomial multiplication methods can be applied.
PL
Artykuł przedstawia algorytm dokładnej symbolicznej analizy funkcji układowych, który radzi sobie w zasadzie z obwodami dowolnego rozmiaru. Jedynym warunkiem jest dekompozycja obwodu na mniejsze podobwody. Dekompozycja jest hierarchiczna wielopoziomowa. Co więcej, obliczenia dla każdego poziomu można wykonać tylko raz, i częściowe wyniki mogą być ponownie wykorzystane w dowolnym momencie. Poziom wyższy w hierarchii nie potrzebuje zbyt wiele informacji o poziomie niższym. Metodę w łatwy sposób można zaimplementować w systemach wieloprocesorowych i rozproszonych. Mimo wielopoziomowej i skompresowanej postaci wyniki symboliczne zawsze pozostają wolne od skróceń, a dowolna ścieżka od korzenia do węzła końcowego reprezentuje pojedynczy składnik sumy. Z tego to powodu wyznaczenie wrażliwości mało- i wielkoskalowych oraz eliminacja mniej znaczących składników staje się prosta i naturalna. Aby uzyskać wyniki w postaci ilorazu wielomianów od s mogą być zastosowane szybkie algorytmu mnożenia wielomianów rzadkich.
first rewind previous Strona / 1 next fast forward last
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.