Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

1 Optica Applicata

1 2005

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: transparent semiconductoring oxide

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Optical beam injection methods as a tool for analysis of semiconductor structures

100%

Domaradzki J. , Kaczmarek D.

Optica Applicata

2005

tom Vol. 35, nr 1

129-137

Optical beam injection methods, such as an optical beam induced current (OBIC) one, have several advantages. Such methods enable a comprehesive analysis of photocuurent generated at the microregion of a semiconductor material or a device by focused light beam. In the paper, examples of applications of the OBIC method for: i) examination of the silicon p-i-n diodes used in a scanning electron microscope (SEM) as a detector and ii) localization of electrically active regions at the interface of the new transparent oxide semiconductor (TOS)-semiconductor structure have been outlined.