Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

2 Logistyka

2 2011

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: testowanie pamięci RAM

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Generowanie optymalnych wektorów testowych pamięci RAM

100%

Mrozek I. , Yarmolik V.

2011

tom nr 6

Efektywne wektory testowe i sposoby ich generowania odgrywają znaczącą rolę w testowaniu zarówno oprogramowania jak i sprzętu. Jednym z najtańszych podejść do problemu generowania wektorów testowych jest podejście oparte o wektory losowe. Obecnie w literaturze zaproponowanych zostało wiele nowych metod znacząco poprawiających efektywność testowania losowego należących do grupy kontrolowanego testowania losowego. W podejściu tym wybrane parametry tworzonych wektorów są z góry ustalane. W artykule zaproponowana zostanie nowa metoda generowania wektorów testowych. W proponowanym podejściu jako funkcja ich dopasowania użyta zostanie Maksymalizacja Minimalnej Odległości Hamminga, w odróżnieniu do standardowej odległości Hamminga używanej w podejściu znanym z literatury. Pozwoli to na wygenerowanie optymalnych wektorów testowych, których efektywność sprawdzona zostanie w odniesieniu do uszkodzeń PSF pamięci RAM.

Efficient test vectors and methods of their generation play crucial role in both hardware and software testing. Random testing is a low cost method that can be applied to a wide range of testing problems. Recently, a number of novel techniques, include Antirandom Testing strategies, have been developed to increase the effectiveness of random testing. In this paper, we propose a new algorithm for antirandom test generation. As the fitness function we use Maximal Minimal Hamming Distance (MMHD) rather than standard Hamming distance as is used in the classical approach. This approach allows us to generate optimal test vectors for RAM testing.

Efektywne wykrywanie uszkodzeń PSF oparte o zmianę adresacji w iteracyjnym procesie testowania pamięci RAM

86%

Mrozek I.

2011

tom nr 6

Artykuł przedstawia propozycję zastosowania testów typu March do efektywnego wykrywania uszkodzeń złożonych (uszkodzeń wiążących zależnością wiele komórek pamięci) występujących w pamięci RAM. Proponowana idea pozostawia niezmienione wartości w testowanym układzie po zakończeniu sesji testowej. Może zatem być używana do cyklicznego testowania pamięci podczas normalnej pracy urządzeń elektronicznych zawierających pamięć RAM. Przedstawiana technika pozwala z bardzo wysokim prawdopodobieństwem wykryć wszystkie istniejące w pamięci uszkodzenia złożone. Zastosowanie w proponowanej idei testów typu March gwarantuje również wykrycie wszystkich uszkodzeń prostych znajdujących się w pamięci.

This paper develops the new solution for memory testing based on transparent memory tests in terms of pattern sensitive faults detection. Previous research has outlined that the only march tests can be in use now to test modern memory chips. Their transparent versions are very efficient for the simple fault diagnoses. The solution has been proposed in this paper dealing with the extension of known algorithms for the case of pattern sensitive faults. Using march test according to the proposed technique it is possible to detect pattern sensitive memory faults with a very high probability.