Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

1 Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka

1 1999

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: surge immunity

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Specyfika badań kompatybilności elektromagnetycznej urządzeń elektrotechnicznych

100%

Galla J. S. , Hartman M. , Zimmermann K.

Zeszyty Naukowe. Elektryka / Politechnika Łódzka

1999

tom z. 93

95--102

W artykule opisano specyficzne, dodatkowe wymagania, jakie muszą być spełnione w badaniach kompatybilności elektromagnetycznej urządzeń elektrotechnicznych o prądach znamionowych powyżej 16 A. Jako przykład wybrano następujące badania: - odporność na udary napięciowe 1,2/50 μs, - odporność na szybkie zakłócenia impulsowe - odporność na napięcia indukowane o częstotliwościach radiowych w zakresie 0,15 do 230 MHz, - pomiar emisji napięć zakłóceń przewodzonych w zakresie 0,15 do 30 MHz. - pomiar zawartości harmonicznych w prądach fazowych. Opisano stanowiska badawcze do wymienionych wyżej prób ze szczególnym uwzględnieniem sieci sprzęgająco - odsprzęgających na prądy znamionowe powyżej 16 A oraz wymagań dotyczących źródeł zasilania. Przedstawiono stanowiska do badań urządzeń elektrotechnicznych w Laboratorium EMC Oddziału Instytutu Elektrotechniki w Gdańsku.

The article discusses the issue of specific additional requirements which need to be met during EMC tests of electrotechnical equipment with input current of above 16 A per phase, this problems have been described in this paper. As a example the following tests: - surge 1,2/ 50 μs immunity test, - fast transient/burst immunity test, - immunity to conducted disturbances induced by radio frequency fields, in frequency range of 0,15 MHz to 230 MHz., - voltage disturbance emission measurements, - harmonics measurement, have been chosen and analysed. Discussed are test set-ups used for the aforementioned tests with special attention paid to coupling- decoupling networks for currents rated above 16 A. Requirements for power supply have also been laid out in detail. Test set-ups for electrotechnical equipment as used in the EMC laboratory of the Gdansk Branch of Electrotechnical Institute were also described.