Idea pomiaru polega na porównywaniu wartości zmian faz prążków interferencyjnych lasera wzorcowego i diody laserowej uzyskanych jednocześnie w tym samym układzie interferometru Michelsona przy zmienianej różnicy dróg geometrycznych. Każdorazowa zmiana różnicy dróg geometrycznych jest równa długości fali lasera wzorcowego. Po wprowadzeniu zmiany różnica dróg optycznych jest stabilizowana na podstawie rozkładu fazy prążków interferencyjnych lasera wzorcowego. Długość badanej fali diody laserowej jest wyznaczana na podstawie stosunku zmian fazy lasera wzorcowego i badanego. W celu redukcji wpływu losowych czynników zakłócających pomiar, do analizy wyników wykorzystano model regresji liniowej.
EN
The measurement idea is based on comparing of phases variations in the same Michelson-type interferometer at change optical path difference. Each change of the optical path difference is equal of the laser diode wavelength. After each change, the optical path difference is stabilized by observing the laser diode fringe phase. Thus, the ratio observed variations of the phase reference laser and phase of the laser diode fringes is a measure of the laser diode wavelength. In order to minimized influence of random disturbance factors on measurement process, linear regression model is used.
W artykule przedstawiono budowę i działanie stanowiska do pomiaru długości oraz względnej niestabilności długości fali światła diody laserowej. Idea pomiaru polega na wyznaczeniu i porównaniu absolutnej wartości fazy rozkładu prążków interferencyjnych lasera badanego i wzorcowego w układzie interferometru Michelsona z systemem automatycznej stabilizacji różnicy dróg optycznych. Wiązki obu laserów są spolaryzowane względem siebie pod kątem prostym i wprowadzone są do układu interferometru po tym samym torze. Prostopadła polaryzacja wiązek laserowych, pozwala na późniejsze rozdzielenie i identyfikację pól interferencyjnych. W interferometrze określana jest zerowa różnica dróg optycznych a następnie jej wartość jest zwiększana z jednoczesnym pomiarem rzędów interferencji dla obu laserów. Po osiągnięciu zamierzonego rzędu interferencji lasera wzorcowego, uruchamiana zostaje procedura automatycznej stabilizacji różnicy dróg optycznych. Znajomość bezwzględnej wartości faz prążków obu laserów i długości fali lasera wzorcowego pozwala wyznaczyć długość fali diody laserowej, oraz względną niestabilność długości fali.
EN
The method of laser diode wavelength and wavelength instability determination for metrological application is presented. The measurement idea is based on absolute phase change measurement in the Michelson interferometer having optical path difference stabilization. Laser diode beam and He-Ne laser beam are used simultaneously as a source of light referring to the zero optical path difference are located. Next optical path lights are evaluated by counting fringe method. Increase of the optical path difference is stoped when fringe order of He-Ne laser is equal about to 10000. At point the optical path difference is stabilized using He-Ne laser light. Relation of the fringes phases values of both laser appoints wavelength and its relative wavelength instability.
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.