Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

1 Przegląd Elektrotechniczny

1 2013

1 Popowicz A.

Znaleziono wyników: 1

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: semiconductor defects

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Optical identification of crystal defects in CCD matrix

100%

Popowicz A.

Przegląd Elektrotechniczny

2013

tom R. 89, nr 3a

79--82

Celem artykułu jest zaprezentowanie oryginalnego pomysłu identyfikacji typów defektów struktury krystalicznej czujników światła jakimi są matryce CCD. Procedura jest nieskomplikowana i możliwa do przeprowadzenia bez specjalistycznej i drogiej aparatury. Metoda ta umożliwia rozróżnienie defektów na: punktowe oraz defekty przestrzenne – dyslokacje. Podczas badań wykazano również, iż typ defektu wpływa na zachowanie generacji prądu ciemnego podczas rejestracji światła.

An original idea of semiconductor defects identification in CCD matrix was presented in the article. The procedure is simple and easy to execute because of no need for special and expensive equipment. The method classifies defects into two groups: the point defects and the spatial defects (dislocations). During the experiments it was proven that the type of defect affects the behavior of the dark current generation during the light gathering .