Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

2 Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Politechniki Wrocławskiej. Studia i Materiały
2 Scientific Papers of The Institute of Electrical Machines, Drives and Measurements of the Wrocław University of Science and Technology Series: Studies and Research

2 Madej P.

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: rezystancja duża

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Wpływ rezystancji upływu na dokładność transferu z dużymi rezystancjami

100%

Madej P.

tom Vol. 60, nr 27

374-387

Transfery rezystancyjne są rodzajem wzorca grupowego i przeznaczone do przeniesienie wartości wzorcowej między przyrządami, laboratoriami. W szczególnym przypadku służą do zrealizowania tym samym zestawem rezystorów szeregu wartości wzorcowych o dużym stosunku, np. do 100:1. Przy próbach wykorzystania ich w zakresie dużych rezystancji, w elektrometrii należy liczyć się z pogorszeniem dokładności wzorca, spowodowanym wpływem rezystancji upływu. W opracowaniu przedstawiono rozwiązanie transferu z ochronną siecią rezystorów, stosowane w laboratoriach o najwyższej dokładności. Analizowano wpływ klasy rezystorów w takiej sieci i rezystancji upływu na dokładność wzorca. Podano także wyniki analizy wpływu rezystancji upływu na dokładność transferu w klasycznym układzie Hamona oraz w układzie o rozdzielonych rezystorach. To ostatnie rozwiązanie wzorca autor proponuje do stosowania w elektrometrii, w porównaniach o średnim poziomie dokładności.

Resistance transfer is kind of group standard and intended to transfer standard value between instruments, laboratories. Applications of high resistances transfer in electrometry makes difficults because of leakage resistance. There are presented guarded transfer, used in high accuracy laboratories and transfer with separated resistors. Author discussed errors caused by leakage resistance in transfers.

Problemy badawcze i interpretacyjne napięciowego współczynnika rezystorów o dużych rezystancjach

72%

Madej P.

Prace Naukowe Instytutu Maszyn, Napędów i Pomiarów Elektrycznych Politechniki Wrocławskiej. Studia i Materiały

2009

tom Vol. 63, nr 29

509-524

Zależność rezystancji od napięcia, czyli nieliniowość rezystora jest w elektrometrii jednym z poważniejszych problemów. Można wyróżnić dwa zakresy napięcia, związane z podstawowymi zastosowaniami rezystorów o dużych rezystancjach: duże napięcia w źródłach napięć testowych, komorach jonizacyjnych, aparaturze rentgenowskiej i wreszcie w wysokonapięciowych testerach izolacji, gdzie wartości są rzędu od dziesiątków V nawet do setek kV, oraz druga grupa o małych napięciach nawet od ułamków mV do około 10 V, gdy rezystory pełnią funkcję elementów wzorcowych w aparaturze elektrometrycznej. Ten sam rezystor, doskonały w jednym zakresie, może być kiepski w drugim. Metody i aparatura do badanie rezystorów w pierwszym zakresie napięciowym są znane i stosowane bez żadnych, pozornie problemów. Wypunktowano nie do końca jednoznacznie zdefiniowane sposoby obliczenia i zasady wykorzystania wielkości opisujących właściwości rezystora. W drugim zakresie napięcia pojawiają się przy badaniach rezystorów poważne problemy, szczególnie przy małych napięciach < 1 V. Wynikają one z dużego wpływu szumu rezystora oraz granicy rozdzielczości stosowanej aparatury. Zaproponowano nietypowe rozwiązania, wspierające a nawet wypierające klasyczne metody i aparaturę.

Voltage depedence of the resistance, otherwise nonlinearity of resistor is one of the serious problems in electrometry. There are two ranges of voltage related to basic applications of high value resistors: higher voltages in test voltage sources, ionization chambers, X-ray devices and insulation testers at very high voltages, where values are from several tens of volts even to hundreds kilovolts, and second group with low voltages (even from fraction of milivolt to near ten volt), where resistors are reference elements in electrometric devices. The same resistor, perfect in the first range, may be poor in the second. Methods and apparatus for resistors testing in the first voltage range are known and applied apparently without any problems. There are pointed not to the end clear methods of calculation and rules of using parameters describing the properties of the resistor. Serious problems occured with testing resistors at the second voltage range, especially at the lowest voltages < 1 V. These effects result from the influence of resistor noise and resolution limits of the applied apparatus. Untypical solutions are proposed to support or even to eliminate classical methods and apparatus.