Wyniki wyszukiwania - Biblioteka Nauki

Ten serwis zostanie wyłączony 2025-02-11.

Nowa wersja platformy, zawierająca wyłącznie zasoby pełnotekstowe, jest już dostępna.
Przejdź na https://bibliotekanauki.pl

Ograniczanie wyników

Znaleziono wyników: 2

Liczba wyników na stronie

Wyniki wyszukiwania

Wyszukiwano:
w słowach kluczowych: rejestr MISR

Sortuj według:

Ogranicz wyniki do:

Zmodyfikowany generator par testowych dla uszkodzeń opóźnieniowych

100%

Rudnicki T.

Pomiary Automatyka Kontrola

2009

tom R. 55, nr 7

435-437

W artykule przedstawiono metodę generacji par testowych pobudzających uszkodzenia opóźnieniowe. Źródłem par testowych jest zmodyfikowany rejestr MISR. Modyfikacja rejestru MISR polega na podwojeniu jego długości. Dzięki temu udało się ograniczyć do jednego liczbę słów programujących, a tym samym zrealizować generator par testowych bez jakiejkolwiek pamięci. To spowodowało, że uzyskano podobne rezultaty jak dla generatora par testowych z pamięcią ROM, co jest główną zaletą przedstawionego generatora par testowych.

A method of generating test pairs for delay faults is presented in the paper. A modified MISR register is the source of test pairs. Modification of this register consists in doubling its length (Fig. 3). Test pairs are only generated at a half of the MISR register chosen outputs. Doubling the MISR register makes it possible to generate all possible test pairs, which was proved in the papers [2, 3, 4]. The disadvantage of this solution is too large number of clock cycles. The test pairs for the delay faults include a quite number of don't cares. It enables a considerable reduction of the test pairs. Minimising the number of test pairs means a smaller number of clock cycles at a very high coverage factor of the test pairs. The process of merging the test pairs is shown on example. The number of programming words is limited to only one due to this modification. In consequence, it enables producing a generator of test pairs without ROM. There are presented the experimental results of generating the test pairs for benchmarks of ISCAS'89. The number of benchmark inputs was limited to 32. The results are similar to those for the generator of test pairs with ROM [1, 2, 4] (Fig. 1). The coverage factor is somewhere between 65% and 95% at the sequence length ranging from 160 to 300k clock cycles. The main advantage of this solution is the lack of ROM.

On the use of multi-signature analysis for interconnect test

70%

Garbolino T. , Kopeć M. , Gucwa K. , Hławiczka A.

tom Vol. 47, nr 10

16-18

The paper introduces a novel idea of interconnect fault detection, localization and identification based on test response compaction using a MISR. The above-mentioned operations are made at-speed. The testing process has been split into two steps. The first one is the detection step using a short test sequence of a little diagnostic resolution. The second step (which is made only in the case of the detection of faults in the first step) is the localization step by means of three long, full diagnostic resolution sequences: Walking 1 (W1), Walking 0 (W0) and a part of johnson sequence (J). The final fault identification phase exploits information stored in two or three signatures. The use of two signatures eliminates aliasting of static faults while adding the third signature enables dependable identification of such faults. The theory given in the paper is partially illustrated by the simulation results.

W artykule zaprezentowano nowatorską koncepcję wykrywania, lokalizacji i identyfikacji typu uszkodzeń w połączeniach, opartą na kompakcji odpowiedzi testowej w rejestrze MISR. Powyższe operacje przeprowadzane są przy nominalnej częstotliwości pracy testowanego układu. Cały proces testowania został podzielony na dwa etapy. W pierwszym uszkodzenia są wykrywane przy użyciu krótkiej sekwencji testowej o małej rozdzielczości diagnostycznej. W przypadku wykrycia uszkodzeń, w drugim etapie przeprowadzana jest ich lokalizacja za pomocą trzech długich sekwencji testowych o pełnej rozdzielczości diagnostycznej: Walking 1 (W1), Walking 0 (W0) i fragmentu sekwencji Johnsona (J). Identyfikacja uszkodzeń dokonywana jest na podstawie informacji zawartej w dwóch lub trzech sygnaturach. Wykorzystanie dwóch sygnatur eliminuje maskowanie statycznych uszkodzeń w połączeniach, podczas gdy trzecia sygnatura pozwala na jednoznaczną identyfikację typu uszkodzenia.